公开(公告)号：CN102185729B

公开(公告)日：2013-12-04

申请号：CN201010599990.7

申请日：2010-12-22

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 平出守

IPC: H04L12/26

CPC classification number: G01R31/31907

Abstract: 本发明是一种测试装置、测试方法及系统。本发明提供一种可控制多个测试模块的测试装置。该测试装置包括测试被测试设备的测试模块部、生成控制测试模块部的控制数据包的测试控制部、从测试控制部接收控制数据包并发送到测试模块部的连接部；测试模块部具有：对应第1数据包构造的控制数据包而工作的第1测试模块、对应在所述第1数据包构造的控制数据包上追加扩展区域的第2数据包构造的控制数据包而工作的第2测试模块。

公开(公告)号：CN101646954B

公开(公告)日：2013-07-24

申请号：CN200880010198.4

申请日：2008-03-21

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 渡边大辅 ,  冈安俊幸

IPC: G01R31/28 ,  H01L21/822 ,  H01L27/04

CPC classification number: G01R31/31813 ,  G01R31/318385 ,  G01R31/318544

Abstract: 本发明提供一种测试装置，是测试具有外部接口电路的被测试器件的测试装置，所述外部接口电路在该器件内部的内部电路和该器件外部之间进行信号传输，所述测试装置包括：接口控制部，使在所述外部接口电路中折回输出所述测试图形；接口判断部，根据所述外部接口电路折回输出的所述测试图形，判定所述外部接口电路的好坏。

公开(公告)号：CN103207327A

公开(公告)日：2013-07-17

申请号：CN201310004454.1

申请日：2013-01-07

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 堀野浩光 ,  小野泽正贵

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R31/2891 ,  G01R31/2867 ,  G01R31/2874 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供能够缩短测试时间的处理装置。是将多个被测试器件搬送到测试用插座上的处理装置，其具有：测试部，设置有插座；加热部，搬送在表面上载置了多个被测试器件的托盘，将多个被测试器件的温度控制成预先规定的测试温度后，将托盘搬送到测试部；器件摄像部，其在加热部内，沿互不平行的第1方向与第2方向两个方向，相对于托盘表面做相对的移动，来拍摄各个被测试器件的图像；以及位置调整部，其基于器件摄像部拍摄到的多个被测试器件的图像，调整多个被测试器件对插座的位置。

公开(公告)号：CN102132165B

公开(公告)日：2013-07-03

申请号：CN200980133257.1

申请日：2009-09-11

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 古川靖夫

IPC: G01R31/26 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01R31/31924 ,  G01R31/3004

Abstract: 提供一种测试被测试设备的测试装置，包括向被测试设备的电源端子提供电力的电源部；控制电源部以多种电压电平输出电力的电源控制部；对由电源部提供到电源端子的被测试设备的静止时电流，即每个电压电平的电流值进行测量的电流测量部；以及；利用电流测量部所测量的各电压电平的电流值中至少3个电流值分析被测试设备的缺陷的有无的分析部。

公开(公告)号：CN102165326B

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN200980137562.8

申请日：2009-09-18

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 森川昭夫

IPC: G01R31/3183

CPC classification number: G01R31/31921

Abstract: 本发明公开了一种测试模块，包括：压缩信息存储部(118)，存储多个压缩信息，即存储图案列及用于识别图案列的图案列识别信息对应的压缩信息；基本图案存储部(106、108)，将多个图案列数据作为一群基本图案而存储，该图案例数据对应于命令包含图案列或者图案列识别信息数据；指示信息存储部(114)，存储指示基本图案的处理顺序的指示信息，选择部(230)，从压缩信息存储部所存储的多个压缩信息中选择指示信息所指示的作为处理对象的基本图案使用的选择压缩信息；基本图案读出部(200)，从基本图案存储部读出作为处理对象的基本图案中包含的图案列数据；图案列读出部(210)，当基本图案读出部所读出的图案列数据中包含图案列识别信息时，参照上述选择部选择的选择压缩信息，读出与图案列识别信息对应的图案列；图案输出部，输出基本图案读出部读出的图案列数据中包含的图案列，或输出与图案列读出部读出的图案列识别信息对应的图案列。

公开(公告)号：CN103135011A

公开(公告)日：2013-06-05

申请号：CN201210495374.6

申请日：2012-11-28

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 兴梠裕哉 ,  五十幡邦昭 ,  藤挂尚宏 ,  丰田拓也

IPC: G01R31/00 ,  G06F9/44

CPC classification number: G06F11/263

Abstract: 本发明提供一种测试模块生成装置，用于生成被测器件的测试模块，该装置包括：条件文件生成部，用于输入测试条件并生成定义有被输入的测试条件的条件文件；测试方法存储部，用于存储测试方法；测试步骤选择部，用于接收来自于用户的选择与待生成的测试模块对应的测试方法的指示；条件文件选择部，用于接收来自于用户的选择与被选择的测试方法所需参数对应的条件文件的指示；测试模块生成部，用于生成根据由被选择的条件文件定义的参数执行被选择的测试方法对应的测试的测试模块。所提供的装置使用户即使并不详细了解测试装置的硬件规格和测试装置用的程序语言，也能容易地生成测试程序。

公开(公告)号：CN102159960B

公开(公告)日：2013-03-27

申请号：CN200980136255.8

申请日：2009-09-15

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 山田达也

IPC: G01R31/3183 ,  G06F11/22

CPC classification number: G01R31/31726 ,  G01R31/31922

Abstract: 本发明提供一种测试装置，其是测试被测试设备的测试装置，包括：主块，其包括产生主周期信号的主周期信号产生部，该主块根据主周期信号而动作；和从块，其包括产生从周期信号的从周期信号产生部，该从块根据从周期信号而动作；主周期信号产生部接收控制信号，再继续产生保持的主周期信号；从周期信号产生部接收控制信号，将从周期信号的相位数据初始化，且再继续产生保持的所述从周期信号。

公开(公告)号：CN101578528B

公开(公告)日：2013-03-20

申请号：CN200880001372.9

申请日：2008-08-06

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 宫内康司 ,  渡边俊幸

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2822 ,  G01R1/18 ,  G01R31/2839 ,  G01R31/2887

Abstract: 提供一种测试系统，是测试被测试器件的测试系统，配置有测试头，其具有产生提供给被测试器件的测试信号的测试模块；功能板，其载置于测试头上，传送测试模块产生的测试信号；子单元，其可装卸地搭载于功能板上，将测试信号从功能板传送给被测试器件；子单元具有测试座，其搭载被测试器件；子板，其安装测试座；筐体，其将测试座及子板收容于内侧，包括阻断外部对测试座及子板的噪声的子板一侧屏蔽件。

公开(公告)号：CN101553985B

公开(公告)日：2013-03-13

申请号：CN200780034044.4

申请日：2007-09-04

Applicant: 爱德万测试株式会社 ,  国立大学法人东京工业大学

Inventor： 仓持泰秀 ,  松泽昭

IPC: H03M1/14

CPC classification number: H03M1/0643 ,  A61K38/00 ,  C07K1/22 ,  C07K14/75 ,  H03M1/0658 ,  H03M1/144 ,  H03M1/361 ,  H03M1/46 ,  H03M1/804

Abstract: 本发明提供一种AD转换器(10)，用于输出将模拟输入信号(VIN)数字化后的数字输出信号，其具有多个比较器(14)，其分别比较模拟输入信号(VIN)和被指定的数字的阈值数据相应的模拟阈值；高位字段确定部(18)，其根据向前述多个比较器(14)提供不同阈值数据所得到的多个比较结果，圈定前述数字输出信号中与高位字段相对应的数据值；低位字段计算部(20)，其使用前述多个比较器来计算与位于前述高位字段低位侧的低位字段相对应的数据值的多个候补值；低位字段确定部(22)，其根据前述多个候补值来确定与前述低位字段相对应的数据值。

公开(公告)号：CN102800366A

公开(公告)日：2012-11-28

申请号：CN201210169924.5

申请日：2012-05-28

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 葭叶一道 ,  大岛广美

IPC: G11C29/56

CPC classification number: G11C29/56012 ,  G11C29/028

Abstract: 提供一种精度很好地测试收发数据信号和时钟信号的被测试器件的测试装置，该测试装置具有：对被测试器件供给数据信号及时钟信号作为测试信号的测试信号供给部；以被测试器件输出的时钟信号对应的时序取得被测试器件输出的数据信号的数据取得部；根据数据取得部取得的数据信号与期望值比较得到的比较结果判断被测试器件的好坏的判断部；以及在调整的时间中，调整用于生成取得数据信号的时序的时钟信号的延迟量的调整部。