半导体集成电路
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101241900B

    公开(公告)日:2012-10-31

    申请号:CN200710136231.5

    申请日:2007-07-11

    CPC classification number: H01L23/5256 H01L2924/0002 H01L2924/00

    Abstract: 本发明旨在提供能使用电熔丝执行可靠援救处理的半导体集成电路。本发明设置有熔丝布线、第一电极焊盘、第二电极焊盘、污染控制层及第一通孔布线和第二通孔布线。而且熔丝布线由超过预定电流值通过而切断。第一电极焊盘与熔丝布线的一侧连接。第二电极焊盘与熔丝布线的另一侧连接。经由绝缘层在熔丝布线的上层和下层中形成污染控制层。在熔丝布线的侧面,经由绝缘层形成一对第一通孔布线,它与污染控制层连接并且包围熔丝布线。关于熔丝布线,在第一通孔布线的外侧形成一对第二通孔布线,使得可以包围第一通孔布线。

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