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公开(公告)号:CN101201388B
公开(公告)日:2011-12-28
申请号:CN200710199829.9
申请日:2007-12-13
Applicant: 瑞萨电子株式会社
Abstract: 本发明提供一种片内电流测量方法和半导体集成电路,用于测量芯片在正常工作状态下的电路块的电流。该半导体集成电路包括:具有预定功能的电路块(C1);能对上述电路块提供工作用电源的电源开关(PSW1);以及根据上述电源开关被接通状态下的电源开关的端子间电压和电源开关的导通电阻,算出流入上述电路块的电流的电流测量电路(100)。根据上述电源开关被接通状态下的上述电源开关的端子间电压和上述电源开关的导通电阻,算出流入上述电路块的电流,从而能够测量芯片在正常工作状态下的电路块的电流。
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公开(公告)号:CN102150132A
公开(公告)日:2011-08-10
申请号:CN200980135242.9
申请日:2009-08-04
Applicant: 瑞萨电子株式会社
IPC: G06F9/308
CPC classification number: G06F9/30018 , G06F9/30043
Abstract: 本发明能够不降低总线性能地进行位操作。信息处理装置(10)包含:能够取得并执行命令的CPU(101、102);以及内置能够利用上述CPU改写的寄存器并利用总线与上述CPU结合的周边模块(M1、M2、M3)。上述CPU构成为包含为了执行已取得的位操作命令而发出用来指示针对上述周边模块中所含的寄存器的以位为单位的写动作的总线指令的功能。如果发出上述总线指令,则上述周边模块执行针对寄存器的以位为单位的写动作。由此,上述CPU在发出上述总线指令后无需锁定总线。所以,能够不降低总线性能地进行位操作。
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