一种平面阵列电容成像方法及系统

    公开(公告)号:CN109283230B

    公开(公告)日:2020-08-18

    申请号:CN201811449731.9

    申请日:2018-11-30

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 本发明公开了一种平面阵列电容成像方法及系统,涉及图像重建技术领域。本发明中,平面电容成像系统包括电容传感器、数据测量及采集模块、计算机;电容传感器将被测物的物场介质的分布转化为电容值;数据测量及采集模块用于测量和采集任意两个电极片间的电容值,并将测得电容数据传输至计算机;计算机通过模糊C均值聚类算法对电容数据进行数据优化,将优化后的电容值作为图像重建值,并结合非迭代图像处理算法或迭代图像处理算法进行缺陷图像的重建,得到重建图像。与传统成像方法相比较,本发明能解决电容数据受电极片位置影响及检测环境的噪声干扰的问题,得到更加稳定、高质量的被测场图像。

    一种同面阵列电容传感器的敏感场建模方法

    公开(公告)号:CN109658502A

    公开(公告)日:2019-04-19

    申请号:CN201811587047.7

    申请日:2018-12-25

    Applicant: 燕山大学

    Abstract: 本发明公开了一种同面阵列电容传感器的敏感场建模方法,包括:对电容传感器以及被测物体按照传感器的实际尺寸建立三维模型;根据电磁场理论,以传感器电极阵列的中心为中心建立两个半径不同的球体,将整个三维模型分为四部分;对被测物体进行单元类型定义,采用三角自由划分对电容传感器进行单元划分,根据单元类型采用映射划分方式对被测物体进行单元划分,完成同面阵列电容传感器以及被测物体敏感场建模,能够根据对同面阵列电容成像系统的近场和远场进行三维建模来求解灵敏度矩阵,通过深度方向上对敏感场的分层划分和在水平方向上对敏感场的分单元划分,能够获取质量好的灵敏度矩阵,帮助图像重建以及进一步的图像检测和图像分析。

    一种平面阵列电容成像方法及系统

    公开(公告)号:CN109283230A

    公开(公告)日:2019-01-29

    申请号:CN201811449731.9

    申请日:2018-11-30

    Applicant: 燕山大学

    CPC classification number: G01N27/24

    Abstract: 本发明公开了一种平面阵列电容成像方法及系统,涉及图像重建技术领域。本发明中,平面电容成像系统包括电容传感器、数据测量及采集模块、计算机;电容传感器将被测物的物场介质的分布转化为电容值;数据测量及采集模块用于测量和采集任意两个电极片间的电容值,并将测得电容数据传输至计算机;计算机通过模糊C均值聚类算法对电容数据进行数据优化,将优化后的电容值作为图像重建值,并结合非迭代图像处理算法或迭代图像处理算法进行缺陷图像的重建,得到重建图像。与传统成像方法相比较,本发明能解决电容数据受电极片位置影响及检测环境的噪声干扰的问题,得到更加稳定、高质量的被测场图像。

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