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公开(公告)号：CN105723208B
公开(公告)日：2019-01-08
申请号：CN201480052630.1
申请日：2014-06-17
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01N21/95
Abstract: 通过全部进行电特性检查，对光学特性进行抽样检查，从而能够进行更加稳定的等级划分，使生产品质良好。具有作为控制部的CPU(2)，其基于光学特性检查部(7)对每规定数量的发光元件进行抽样检查而使抽样检查部(21)收集的发光元件的光学特性值、检查插补部(23)基于光学特性检查部(7)抽样检查到的多个光学特性值通过插补运算求出的未检查的发光元件的光学特性值、和DC检查部(8)对晶片整个面的多个发光元件全部检查电特性(DC特性)而使合格与否判断部(22)判断出的合格与否信息(合格品/不合格品信息)合成而得到的图像信息，控制等级划分部(24)制作对每等级的发光元件组进行等级划而得的信息。
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公开(公告)号：CN102323528B
公开(公告)日：2014-12-24
申请号：CN201110081913.7
申请日：2011-04-01
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及发光测定装置及方法、以及程序和介质。不仅会容易且准确地测定检查一个光学元件的发光量，而且还会不使用现有那样的识别ID电路地容易且准确地测定检查多个光学元件的发光量，并且还会容易且准确地测定检查光学元件发光的指向性、附着灰尘不良。具有：从摄像LED的发光状态的多个光接收部中对一个或多个光接收部进行地址指定的地址指定单元(41)；比较来自地址指定单元(41)指定的一个或多个光接收部的摄像信号的值和基准值，在摄像信号的值低于基准值的情况下判定为光量不良，在摄像信号的值为基准值以上的情况下判定为光量良好的光量判定单元(42)；以及比较来自地址指定单元(41)指定的一个或多个光接收部的摄像信号的值和基准值，判定LED发光的指向性良否的指向性判定单元(43)。
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公开(公告)号：CN102323528A
公开(公告)日：2012-01-18
申请号：CN201110081913.7
申请日：2011-04-01
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明涉及发光测定装置及方法、以及程序和介质。不仅会容易且准确地测定检查一个光学元件的发光量，而且还会不使用现有那样的识别ID电路地容易且准确地测定检查多个光学元件的发光量，并且还会容易且准确地测定检查光学元件发光的指向性、附着灰尘不良。具有：从摄像LED的发光状态的多个光接收部中对一个或多个光接收部进行地址指定的地址指定单元(41)；比较来自地址指定单元(41)指定的一个或多个光接收部的摄像信号的值和基准值，在摄像信号的值低于基准值的情况下判定为光量不良，在摄像信号的值为基准值以上的情况下判定为光量良好的光量判定单元(42)；以及比较来自地址指定单元(41)指定的一个或多个光接收部的摄像信号的值和基准值，判定LED发光的指向性良否的指向性判定单元(43)。
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公开(公告)号：CN105723208A
公开(公告)日：2016-06-29
申请号：CN201480052630.1
申请日：2014-06-17
Applicant: 夏普株式会社
IPC: G01N21/95
CPC classification number: G01N21/9501
Abstract: 通过全部进行电特性检查，对光学特性进行抽样检查，从而能够进行更加稳定的等级划分，使生产品质良好。具有作为控制部的CPU(2)，其基于光学特性检查部(7)对每规定数量的光学元件进行抽样检查而使抽样检查部(21)收集的发光元件的光学特性值、检查插补部(23)基于光学特性检查部(7)抽样检查到的多个光学特性值通过插补运算求出的未检查的发光元件的光学特性值、和DC检查部(8)对晶片整个面的多个光学元件全部检查电特性(DC特性)而使合格与否判断部(22)判断出的合格与否信息(合格品/不合格品信息)合成而得到的图像信息，控制等级划分部(24)制作对每等级的发光元件组进行等级划而得的信息。
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