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公开(公告)号：CN110658169B
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN201910975428.0
申请日：2019-10-14
Applicant: 厦门大学
Abstract: 基于高光谱的荧光粉发光特性透射式测试装置和方法，涉及发光器件领域，包括LED激发光源、荧光粉片、三维控制台、恒流源、控温模块、显微镜、高光谱仪和计算机；LED激发光源设于三维控制台上；恒流源连接LED激发光源；控温模块设于三维控制台上；荧光粉片置于LED激发光源的正上方；显微镜设于荧光粉片的上方；高光谱仪设于显微镜的上方，高光谱仪用于收集和处理显微镜透过的光并得到高光谱数据；计算机连接高光谱仪，计算机用于将接收的高光谱数据进行计算得到二维几何空间的荧光粉光学参数。可精确得到荧光粉像素级别的发光图像以及获得相应像素点上的光谱数据，从而精确地得到荧光粉微米尺度空间上发光特性。
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公开(公告)号：CN110057466B
公开(公告)日：2020-03-20
申请号：CN201910367131.6
申请日：2019-05-05
Applicant: 厦门大学
IPC: G01K11/32
Abstract: 一种基于LED荧光发射光谱的表面温度测量方法，涉及发光二极管表面温度的测量方法领域，包括以下步骤：(1)将荧光材料归一化后的发射光谱先进行区域划分再对各区域积分，所得到的荧光材料发射功率记为Pe；(2)测试各积分区域发射功率Pe受电流影响的程度，选取受电流影响程度最小的积分区域为检测区域；(3)以额定电流值的1％～3％为小电流为LED样品供电，并用光谱仪采集荧光材料的发射光谱，建立检测区域的发射功率Pe与荧光材料温度T的线性关系；(4)在LED样品的实际工作状态下，将检测区域的发射功率Pe值带入到Pe与T的关系式中，即可得到荧光材料的表面温度。本发明采用非接触式方法测量荧光材料的表面温度，不受LED器件封装的影响，可靠性高。
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公开(公告)号：CN107248511A
公开(公告)日：2017-10-13
申请号：CN201710483941.9
申请日：2017-06-23
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种具有低司辰节律因子的三基色白光LED，涉及LED。包括散热基座、封装体、红光芯片、钇铝石榴石荧光粉与硅胶混合体、透镜、反光杯、蓝光LED芯片和金属电极；散热基座、红光芯片、反光杯和蓝光LED芯片置于封装体内部；红光芯片和蓝光LED芯片置于散热基座上，散热基座的中间设有1颗蓝光LED芯片，在围绕蓝光LED芯片设有4颗红光芯片；透镜为封装玻璃，反光杯内壁镀银；钇铝石榴石荧光粉与硅胶混合体均匀涂敷在透镜的下表面，钇铝石榴石荧光粉与硅胶混合体和透镜置于封装体上方并使透镜两端与封装体密封接触，红光芯片的正负极通过引线键合方式分别引到金属电极上，将金属电极内嵌于封装体中。
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公开(公告)号：CN116660708A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310611664.0
申请日：2023-05-26
Applicant: 厦门大学
IPC: G01R31/26
Abstract: 一种二维显微时间分辨电致发光寿命成像检测系统及方法，包括信号发生器、显微镜、波长调谐器、门控像增强相机、信号延迟器、计算机；LED样品固定于显微镜的载物台上，LED样品两侧的正负电极连接信号发生器，信号发生器发出电脉冲信号激发LED样品发光，信号发生器脉冲下降沿时间显著小于LED样品的寿命；显微镜的物镜正对着LED样品，用于接收LED样品发出的光并传送至波长调谐器；波长调谐器选择并控制单波长光通过，输出光信号至门控像增强相机；通过调节门控像增强相机的参数，配合信号延迟器，捕捉瞬态成像，储存至计算机中。本发明可高效实现荧光寿命二维成像检测，用途广泛，操作方便。
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公开(公告)号：CN107248511B
公开(公告)日：2019-12-31
申请号：CN201710483941.9
申请日：2017-06-23
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种具有低司辰节律因子的三基色白光LED，涉及LED。包括散热基座、封装体、红光芯片、钇铝石榴石荧光粉与硅胶混合体、透镜、反光杯、蓝光LED芯片和金属电极；散热基座、红光芯片、反光杯和蓝光LED芯片置于封装体内部；红光芯片和蓝光LED芯片置于散热基座上，散热基座的中间设有1颗蓝光LED芯片，在围绕蓝光LED芯片设有4颗红光芯片；透镜为封装玻璃，反光杯内壁镀银；钇铝石榴石荧光粉与硅胶混合体均匀涂敷在透镜的下表面，钇铝石榴石荧光粉与硅胶混合体和透镜置于封装体上方并使透镜两端与封装体密封接触，红光芯片的正负极通过引线键合方式分别引到金属电极上，将金属电极内嵌于封装体中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108535226A
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201810224930.3
申请日：2018-03-19
Applicant: 厦门大学
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明提供了一种荧光片发射光性能测试装置及方法，控温装置由层叠设置的控温底座和顶盖组成，顶盖沿着自身的长度方向间隔布置有多个安装槽，每一个凹槽内设置一个LED激发光源；顶盖外接恒流源并集成了电路用于驱动LED激发光源；控温底座与LED激发光源导热接触；恒流源驱动LED激发光源发出激发光；多片荧光片置于荧光片底座上，运动控制器控制多片荧光片中地一片运动至激发光的传输路径中，使得该荧光片2被激发光激发后的发射光被探头接收并传导至CCD光谱仪；CCD光谱仪4将光信号转化为电信号并传导给计算机；计算机处理来自CCD光谱仪的电信号，实现荧光片发射光光谱采集及数据分析处理。
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公开(公告)号：CN117804598A
公开(公告)日：2024-04-02
申请号：CN202311852175.0
申请日：2023-12-29
Applicant: 厦门大学
Abstract: 一种高灵敏门控雪崩光电二极管高速检测系统，涉及光电应用领域。利用高速门控电流采样电路进行多周期累加增强APD对弱光的响应度，同时保持高灵敏度，实现对极弱光的高速检测。系统包括APD探测器、高速门控电流采样电路、示波器、信号发生器、TEC恒温控温模块、高压可调偏置电源和上位机；系统通过高速门控电流采样电路对APD产生的电流信号进行采样，实现对待测光源某一时刻强度的准确测量，实现高时间分辨率的检测能力。通过叠加待测光源多个周期中相同相位点的强度，提高输出信号的信噪比。系统按时间顺序测量待测光源发光周期内不同相位处的强度，从而得到待测光源整个周期内的强度变化。
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公开(公告)号：CN110658169A
公开(公告)日：2020-01-07
申请号：CN201910975428.0
申请日：2019-10-14
Applicant: 厦门大学
Abstract: 基于高光谱的荧光粉发光特性透射式测试装置和方法，涉及发光器件领域，包括LED激发光源、荧光粉片、三维控制台、恒流源、控温模块、显微镜、高光谱仪和计算机；LED激发光源设于三维控制台上；恒流源连接LED激发光源；控温模块设于三维控制台上；荧光粉片置于LED激发光源的正上方；显微镜设于荧光粉片的上方；高光谱仪设于显微镜的上方，高光谱仪用于收集和处理显微镜透过的光并得到高光谱数据；计算机连接高光谱仪，计算机用于将接收的高光谱数据进行计算得到二维几何空间的荧光粉光学参数。可精确得到荧光粉像素级别的发光图像以及获得相应像素点上的光谱数据，从而精确地得到荧光粉微米尺度空间上发光特性。
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公开(公告)号：CN110057466A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910367131.6
申请日：2019-05-05
Applicant: 厦门大学
IPC: G01K11/32
Abstract: 一种基于LED荧光发射光谱的表面温度测量方法，涉及发光二极管表面温度的测量方法领域，包括以下步骤：(1)将荧光材料归一化后的发射光谱先进行区域划分再对各区域积分，所得到的荧光材料发射功率记为Pe；(2)测试各积分区域发射功率Pe受电流影响的程度，选取受电流影响程度最小的积分区域为检测区域；(3)以额定电流值的1％～3％为小电流为LED样品供电，并用光谱仪采集荧光材料的发射光谱，建立检测区域的发射功率Pe与荧光材料温度T的线性关系；(4)在LED样品的实际工作状态下，将检测区域的发射功率Pe值带入到Pe与T的关系式中，即可得到荧光材料的表面温度。本发明采用非接触式方法测量荧光材料的表面温度，不受LED器件封装的影响，可靠性高。
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公开(公告)号：CN109524392A
公开(公告)日：2019-03-26
申请号：CN201811493313.X
申请日：2018-12-07
Applicant: 厦门大学
IPC: H01L25/075 , H01L33/50 , H01L33/60
Abstract: 一种近紫外激发白光的LED装置，属于光电信息与技术领域，包括封装基板、电极、荧光粉片、反光杯和近紫外LED芯片；封装基板设于反光杯的底部；电极装接在封装基板的两侧；近紫外LED芯片固定在封装基板上并与电极连接；荧光粉片设于反光杯的顶部；所述荧光粉片为红、绿、蓝三基色三种荧光粉胶片根据预先设计的图形拼接在同一层而形成的荧光粉片。本发明可同时提高白光LED光源的光效或光通量、显色指数、色稳定性以及光色均匀性等白光LED的光色性能。
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