具有延伸漏结构的超结双SOI-LDMOS器件及制造方法

    公开(公告)号:CN117766588A

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202410196269.5

    申请日:2024-02-22

    Abstract: 本发明提出了一种具有延伸漏结构的超结双SOI‑LDMOS器件及制造方法,该器件包括:位于第二埋氧层上的第二SOI层,包括半导体区和半导体延伸漏接触区;位于第一埋氧层上的第一SOI层,包括体接触区、源区、漏区以及漂移区;漏极金属,其中漏极金属的第一部分平行于器件纵向的一侧面与第一埋氧层接触,其下表面与半导体延伸漏接触区的上表面;漏极金属的第二部分与半导体漏区的上表面接触。本发明在器件导通时利用第二SOI层中交替排列的第一半导体区和第二半导体区和延伸漏结构,使得第一SOI层漂移区表面感应出多数载流子,降低了比导通电阻;也在器件关断时改善了漂移区的势场分布从而提高了击穿电压。

    提升体硅LDMOS性能的动态背栅控制系统及体硅LDMOS的制造方法

    公开(公告)号:CN117614432A

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202311428545.8

    申请日:2023-10-30

    Abstract: 本发明提出了一种提升体硅LDMOS性能的动态背栅控制系统及体硅LDMOS的制造方法,该系统包括体硅LDMOS,包括栅极金属及背栅金属;动态背栅控制电路,其包括依次电连接的波形产生器、三电平逆变器、负电压转换器及电平转换器;负电压转换器包括负电压输出端和零电压输出端;负电压输出端连接电平转换器的第一输入端,零电压输出端连接电平转换器的第二输入端并接地;电平转换器的第一输出端连接栅极金属,其第二输出端连接背栅金属。本发明具有独立的背栅电极,通过在衍生的背栅电极上施加偏置,诱导界面电荷,调制外延层的电场分布,增加体内漏电端的电场,使其提高击穿电压,又因其漂移区采用重掺杂而具有低的比导通电阻,改进了两者之间的折中关系。

    一种用于机器学习训练数据的准线性变换方法

    公开(公告)号:CN115859103A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202211525203.3

    申请日:2022-11-30

    Abstract: 本发明公开了一种用于机器学习训练数据的准线性变换方法,包括步骤1、获取数据集,明确输入X和输出Y,对数据集输入X和输出Y之间的关系进行模拟,获取Y随X的变化形式;步骤2、定义转换函数,该函数可近似模拟输入X与输出Y之间的变化关系;步骤3、优化步骤2中的转换函数,代入输入X进行数据变换,将其转换成Z作为新的模型输入;步骤4、构建新的输入Z和输出Y之间的机器学习模型。本发明通过转换函数对输入数据进行数据变换,使得机器学习模型中的输入与输出呈现准线性化关系,可降低机器学习模型的复杂度,有效提高机器学习模型的模拟精度。

    一种基于半导体器件结构的小空间模型实时训练方法

    公开(公告)号:CN115688611A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202211703517.8

    申请日:2022-12-29

    Abstract: 本发明公开了一种基于半导体器件结构的小空间模型实时训练方法,包括S1:在用户界面确定目标半导体器件结构,将其输入至云端数据库,获取目标半导体器件结构每个参数的数值为X;S2:基于相似性,设置自适应阈值,在云端数据库中自动筛选阈值空间内小空间训练样本数据集;S3:将小空间样本数据集传输至边缘端计算设备,利用机器学习算法,在边缘计算设备实时构建结构到电学性能的预测模型;S4:将边缘端存储的结构X输入步骤3中的模型,输出该器件的电学性能。本发明基于待测结构选取小空间,通过边缘计算实时构建进而利用机器学习算法构建模型,可实现器件结构到电学性能的预测。该方法不仅模型构建速度快,而且精度更高。

    一种机器学习模型的训练数据集均匀化处理方法

    公开(公告)号:CN115660109A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211653150.3

    申请日:2022-12-22

    Abstract: 本发明公开了一种机器学习模型的训练数据集均匀化处理方法,包括如下步骤:1、确定器件的数据集输入目标结构参数的变化范围;步骤2、根据数据的变化范围,进行数据预处理;步骤3、对预处理后的数据进行均匀化取值;步骤4、对数据集输入目标结构参数进行反预处理;步骤5、根据反预处理后的数据,进行训练数据集的收集;步骤6、建立机器学习模型。本发明通过训练数据集的均匀化处理技术,避免了模型训练过程中潜在的欠拟合和过拟合问题,可优化机器学习模型的应用能力,且该方案构建的模型具有泛化能力强,对随机器件目标结构参数的电学性能预测准确率高等优点。

Patent Agency Ranking