一种用于雷达辐射源目标的无源定位方法及系统

    公开(公告)号:CN115754901A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211499273.6

    申请日:2022-11-28

    Abstract: 本发明实施例提供了一种用于雷达辐射源目标的无源定位方法及系统,涉及无源定位方法技术领域,该方法包括:提取一批所述有效测向线数据,利用所述经度、纬度及到达方向角向量,计算每两条所述测向线的交点,并将所述交点的横坐标和纵坐标存入交点集合;在所述笛卡尔坐标系的平面选取一定范围,根据阈值将所述范围均匀分割为若干网格矩阵,所述网格矩阵中包括多个网格,所述网格中包括多个所述交点集合;统计所述交点集合在所述网格矩阵内的密度分布信息;根据所述密度分布信息找出密度最大的网格。

    一种重力加速度测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN113240980A

    公开(公告)日:2021-08-10

    申请号:CN202110318600.2

    申请日:2021-03-25

    Abstract: 本发明公开了一种重力加速度测量装置及其测量方法,所述第一激光测距传感器与所述第一伸缩组件可拆卸连接,所述红外光电传感器与所述第二伸缩组件可拆卸连接,所述第二激光测距传感器与所述底座的顶部可拆卸的连接,并位于所述通孔的正下方,所述电磁铁模组与所述支撑架的侧面可拆卸连接,并位于所述第三激光测距传感器的正上方,本测量装置主要采用的是激光测距传感器、红外光电传感器、STM32单片机等具有测量和计算精度高的硬件,对相关数据进行精确的测量,从而提高了测量的精度,同时,测量单摆的摆长、释放小球、测量摆角、计时和计数操作均不需要人为操作,从而解决以往传统的测量装置操作繁琐的问题。

    基于故障传播的模块化BP神经网络电路故障诊断方法

    公开(公告)号:CN107490758B

    公开(公告)日:2019-08-13

    申请号:CN201710572987.8

    申请日:2017-07-14

    Abstract: 本发明提供了基于故障传播的模块化BP神经网络电路故障诊断方法,属于电子系统的故障诊断及定位技术领域。本发明在电路模块划分的基础上,确定各子电路的测试节点,并把测试节点的特征参数数据作为故障诊断的数据源;根据基于电路仿真的数据源建立模块化异常检测模型,分析故障传播,建立模块化BP神经网络模型;当实际电路发生故障时,利用模块化异常检测模型进行一级定位,确定故障子电路,再利用目标子电路的BP神经网络模型进行二级定位,识别故障模式。本发明通过线下建立的模型进行故障定位,扩展性强,适用范围广;实现了线上对大规模数模混合电路的实时故障诊断,特别是针对存在故障传播的情况,具有极高的故障定位准确率。

    一种基于石墨烯-硅基MRR的光学数值比较器

    公开(公告)号:CN116755282A

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN202310706351.3

    申请日:2023-06-14

    Abstract: 本发明公开了一种基于石墨烯‑硅基MRR的光学数值比较器,包括:衬底层、以及嵌设于衬底层上表面的微环谐振器结构,衬底层为二氧化硅衬底,微环谐振器结构包括Y型分支波导,与Y型分支波导两个对称分叉端部相连且平行间隔布置的两组直波导,以及两两对称分布于两组直波导外侧且呈矩形排布的四组微环波导;位于直波导同一侧的两组微环波导作间隔分布且轴心距为4.5μm,每组微环波导与相邻直波导之间的耦合间距均为0.05μm,微环谐振器结构采用硅基材料,且微环波导上依次完全覆盖铺设有六方氮化硼层、石墨烯层以及二氧化硅层;石墨烯层与微环波导上均设有金属电极。本发明的光学数值比较器具有高消光比、高对比度、结构紧凑、稳定性高等优点。

    一种基于微环谐振器的全光二进制比较器

    公开(公告)号:CN114609728B

    公开(公告)日:2023-11-24

    申请号:CN202210232474.3

    申请日:2022-03-08

    Abstract: 本发明提供了一种基于微环谐振器的全光二进制比较器,利用微环谐振器对光的波长具有选择性的特点以构成光开关,将3个微环谐振器且与光波导合理组合,以实现由光学原理控制的两个二进制数比较,即实现了传统数字电路中的二进制比较运算。该二进制全光比较器利用微环谐振器代替传统的电学逻辑器件,避免了传统电学器件易受噪声信号的影响,结合光学传播特点实现了高速、低功耗的计算机信息处理功能;工艺方面实现了与CMOS工艺的兼容,使得器件的体积小,速度快,扩展性好以及低插入损耗特性,便于与其他器件的大规模集成。

    一种二进制全光全加器的双故障误差计算方法

    公开(公告)号:CN114815960A

    公开(公告)日:2022-07-29

    申请号:CN202210220403.1

    申请日:2022-03-08

    Abstract: 本发明提出了一种二进制全光全加器的双故障误差计算方法,该故障误差计算涉及了由n个微环谐振器(MRR)构成逻辑计算电路的双故障模拟装置领域,解决了现有n个MRR构成逻辑计算电路中缺乏深度评判双故障误差的问题。该方法包括,获取无故障模型装置的正确输出结果和双故障模型装置的错误输出结果,计算正确输出结果和错误输出结果之间的绝对误差,最大绝对误差,平均绝对误差以及均方误差。本发明实施例用于由n个MRR构成的逻辑计算电路在实际生产和使用过程中因双故障而引发的误差计算,具体以由3个MRR构成的二进制全光全加器的双故障模拟装置为例进行实施。

    基于故障传播的模块化BP神经网络电路故障诊断方法

    公开(公告)号:CN107490758A

    公开(公告)日:2017-12-19

    申请号:CN201710572987.8

    申请日:2017-07-14

    CPC classification number: G01R31/3167 G06F17/5036 G06N3/04

    Abstract: 本发明提供了基于故障传播的模块化BP神经网络电路故障诊断方法,属于电子系统的故障诊断及定位技术领域。本发明在电路模块划分的基础上,确定各子电路的测试节点,并把测试节点的特征参数数据作为故障诊断的数据源;根据基于电路仿真的数据源建立模块化异常检测模型,分析故障传播,建立模块化BP神经网络模型;当实际电路发生故障时,利用模块化异常检测模型进行一级定位,确定故障子电路,再利用目标子电路的BP神经网络模型进行二级定位,识别故障模式。本发明通过线下建立的模型进行故障定位,扩展性强,适用范围广;实现了线上对大规模数模混合电路的实时故障诊断,特别是针对存在故障传播的情况,具有极高的故障定位准确率。

    一种基于Y型石墨烯纳米带的光学数值比较器

    公开(公告)号:CN117008389A

    公开(公告)日:2023-11-07

    申请号:CN202310658653.8

    申请日:2023-06-05

    Abstract: 本发明公开了一种基于Y型石墨烯纳米带的光学数值比较器,属于硅基光子集成芯片技术领域,包括:Y型石墨烯纳米带Y1,与Y型石墨烯纳米带Y1级联设置的Y型石墨烯纳米带Y2和Y型石墨烯纳米带Y3,Y型石墨烯纳米带Y2和Y型石墨烯纳米带Y3相对于Y型石墨烯纳米带Y1对称设计;本发明设计的光学数值比较器在9.55μm的TM模式光作用下具有31.12dB的最小消光比和0.77dB的幅度调制;本发明设计的比较器位于0.4μm2的矩形介质层之上,主要由石墨烯纳米带通过Y型结构组成,其经由施加偏置电压改变石墨烯的化学势实现了石墨烯纳米带的通断效果,最终实现了一位光学数值比较器的功能。

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