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公开(公告)号：CN104678284B
公开(公告)日：2017-11-14
申请号：CN201310636545.7
申请日：2013-12-03
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 一种提高芯片健壮性的新型测试控制电路和方法。本发明提出了一种可以防止芯片正常应用时异常进入测试模式，从而导致芯片内数据被异常改写的新型测试控制电路。该电路通过测试使能信号控制测试电路的时钟信号和复位信号，在测试使能信号无效后，测试电路时钟信号被关闭同时测试电路复位信号保持低电平，使得测试电路无法启动，从而大大降低芯片异常进入测试模式的概率，降低了因异常进入测试模式导致芯片内数据被改写的几率，提高了芯片的健壮性。本发明具有很好的创新性、实用性和有效性。
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公开(公告)号：CN106066970A
公开(公告)日：2016-11-02
申请号：CN201610352610.7
申请日：2016-05-26
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
CPC classification number: G06F21/76 , G06F1/3243
Abstract: 本发明提出一种低漏电双CPU核安全芯片架构，该架构可以实现安全物理隔离和静态功耗的最小化。该架构采用了两个CPU子系统，一个CPU为低性能低功耗低逻辑门数，用于处理通讯接口等非安全应用；另外一个CPU为高性能高安全CPU，用于提供高复杂度高性能的密码计算及敏感信息处理等高安全应用。高性能CPU系统逻辑复杂度较高，其电源在芯片进入Standby状态时被门控关断以降低芯片整体漏电功耗。
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公开(公告)号：CN105574419A
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201510718899.5
申请日：2015-10-30
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
Inventor： 范长永
IPC: G06F21/60
CPC classification number: G06F21/602
Abstract: 本发明公开了一种数据保护方法和系统，方法包括：随机映射加密电路将8比特明文数据加密得到10比特密文数据，所述加密得到的10比特密文数据用于通过存储介质存储或基于传输介质传输；解密电路获得所述10比特密文数据，对所述10比特密文数据进行解密获得8比特明文数据；其中，用于存储或传输密文数据的密文空间为536个10比特有效数据，所述密文空间内每个10比特密文数据中1的个数与0的个数之差的绝对值小于或等于2。
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公开(公告)号：CN104678284A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201310636545.7
申请日：2013-12-03
Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司
IPC: G01R31/28
Abstract: 一种提高芯片健壮性的新型测试控制电路和方法。本发明提出了一种可以防止芯片正常应用时异常进入测试模式，从而导致芯片内数据被异常改写的新型测试控制电路。该电路通过测试使能信号控制测试电路的时钟信号和复位信号，在测试使能信号无效后，测试电路时钟信号被关闭同时测试电路复位信号保持低电平，使得测试电路无法启动，从而大大降低芯片异常进入测试模式的概率，降低了因异常进入测试模式导致芯片内数据被改写的几率，提高了芯片的健壮性。本发明具有很好的创新性、实用性和有效性。
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