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公开(公告)号：CN106685423A
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201611024103.7
申请日：2016-11-18
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: H03M1/10
CPC classification number: H03M1/109
Abstract: 本发明的模数转换器静态参数正弦波测试方法，包括：1)以正弦波输入待测模数转换器，采集待测模数转换器输出的数字码j，统计各数字码的出现次数，记为Pactual(j)，Pactual(j)为采集到数字码j的出现次数；2)计算数字码j分布的概率密度P[j]；3)根据计算待测模数转换器的差分非线性误差DNLj(LSB)和积分非线性误差INLj(LSB)。
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公开(公告)号：CN109143026A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201810760552.0
申请日：2018-07-12
Applicant: 上海航天信息研究所 , 上海精密计量测试研究所
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2855
Abstract: 本发明实施例提供了一种数字测试方法，用于测试待测器件所需的频率高于测试设备的频率的待测器件，包括定义测试设备端的至少两个通道对应待测器件端的其中一个管脚；将通道、管脚均定义为数字通道；建立设备端与管脚的对应关系；对每个数字通道进行定义：对每个数字通道各加载测试待测器件需要的波形信号；包括将每个数字通道的周期等分，份数为所有数字通道的个数，定义等分后的时间段为小周期；数字通道加载的波形信号只分布在一个小周期内，其余小周期内无波形信号，且数字通道加载的波形信号分别置于不同的小周期；波形信号传输至待测器件的一个管脚，管脚接收的周期信号为在每个小周期内均加载有对应每个数字通道的小周期内加载的波形信号。
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公开(公告)号：CN107677970A
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201710709718.1
申请日：2017-08-18
Applicant: 上海精密计量测试研究所
CPC classification number: G01R31/40 , G01R19/0092
Abstract: 本发明提供一种基于自动测试设备的DAC动态电源电流的测试系统，包括：DAC；自动测试设备，包括第一电压电流源模块和第二电压电流源模块，在所述DAC的电源管脚和所述第一电压电流源模块之间串联一个电阻，所述第二电压电流源模块设置为高阻模式。还提供一种对应的测试方法。本发明提供的基于自动测试设备的DAC动态电源电流的测试系统巧妙地利用了电阻的作用，将电流测试转化为电压测试，避免了电流测试中由于不同模式下测试量程不同所产生的冲突。其测试方法能够实现高精度、高可靠性、重复性好的量产测试，解决了DAC量产测试时由于动态电流的测试量程冲突引发的设备报警。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108226746A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711201411.7
申请日：2017-11-27
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，本发明解决了传统测试方法数度慢，精度低，无法进行自动化测试的缺点。使用电阻跨导网络，免去了运放反馈电路，优化了测试线路，通过测试程序控制输入、输出信号，实现了不同参数连续自动测试，提高了测试速度，使用阻抗匹配，保证了测试的精度，从而达到快速，准确，稳定测试的目的。
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公开(公告)号：CN106680690B
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201611026987.X
申请日：2016-11-17
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天探维传媒科技有限公司
Abstract: 本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种应用于ATE测试的单端输入差分输出的时钟驱动方法，使用差分放大器THS4503及其外围电路，将MicroFLEX产生的单端数字信号转换为AD6645所需要差分数字信号，步骤如下：步骤一：根据ATE产生单端数字信号的幅度范围和带宽，确定所需要的差分放大器的增益和带宽；步骤二：反馈电阻和增益电阻阻值的计算，如果信号源有阻抗，还要进行阻抗匹配；步骤三：根据差分放大器的工作原理进行外围电路设计；步骤四：通过MicroFLEX的IG‑XL软件编程来产生和控制信号。
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公开(公告)号：CN106680690A
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201611026987.X
申请日：2016-11-17
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天探维传媒科技有限公司
Abstract: 本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种应用于ATE测试的单端输入差分输出的时钟驱动方法，使用差分放大器THS4503及其外围电路，将MicroFLEX产生的单端数字信号转换为AD6645所需要差分数字信号，步骤如下：步骤一：根据ATE产生单端数字信号的幅度范围和带宽，确定所需要的差分放大器的增益和带宽；步骤二：反馈电阻和增益电阻阻值的计算，如果信号源有阻抗，还要进行阻抗匹配；步骤三：根据差分放大器的工作原理进行外围电路设计；步骤四：通过MicroFLEX的IG‑XL软件编程来产生和控制信号。
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公开(公告)号：CN116660719A
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN202310537407.7
申请日：2023-05-15
Applicant: 上海精密计量测试研究所
Abstract: 本发明实施例提供了一种基于FLEX测试系统的通用ATE接口子母板测试方法，其特征在于，所述接口子母板包括母板与子板，其中，所述母板基于ATE机台设计，下方采用弹簧针模块或连接器模式与ATE机台资源相连接，上方采用弹簧针模块或连接器方式与子板相连接，所述子板再与芯片连接；物理连接结构标准化设计，不同测试机台设计有不同的母板，所述母板将不同测试机台间相同性质的测试资源标准化集成在与子板的接口上，相同的资源相同的位置，在第一机台上使用资源的子板，则在第二机台上也在相同的接口位置连接到相同的资源，实现了接口子板在不同测试机台以及母板间的复用。
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公开(公告)号：CN108226746B
公开(公告)日：2020-11-20
申请号：CN201711201411.7
申请日：2017-11-27
Applicant: 上海精密计量测试研究所 , 上海航天信息研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供了一种基于Micro FLEX的跨导运放MAX436的测试方法，本发明解决了传统测试方法数度慢，精度低，无法进行自动化测试的缺点。使用电阻跨导网络，免去了运放反馈电路，优化了测试线路，通过测试程序控制输入、输出信号，实现了不同参数连续自动测试，提高了测试速度，使用阻抗匹配，保证了测试的精度，从而达到快速，准确，稳定测试的目的。
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