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公开(公告)号：CN113812005B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN201980096350.3
申请日：2019-05-14
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 米特克·巴科夫斯基霍尔特里德 , 马特斯·丹尼尔松 , 许成
Abstract: 所提出的技术提供了一种X射线传感器(1)，该X射线传感器具有有源检测器区，该有源检测器区包括布置在该X射线传感器(1)的表面区(3)上的多个检测器二极管(2)。该X射线传感器(1)进一步包括围绕包括该多个检测器二极管(2)的该表面区(3)的结终端(4)。该结终端(4)包括布置为最靠近该表面区(3)的端部的防护层(5)、布置在该防护层(5)外部的场截止层(6)和布置在该防护层(5)与该场截止层(6)之间的至少两个场限环FLR(7)，其中，第一FLR(7)被布置在距该防护层(20)的距离Δ1处，该距离选自10区间[4μm；12μm]，第二FLR(72)被布置在距该第一FLR(7)的距离Δ2处，该距离选自区间[6.5μm；14μm]，并且其中，距离Δ2大于距离Δ1。所提出的技术还提供了一种用于构造这样的X射线传感器和X射线成像系统(100)的方法，该X射线成像系统包括X射线检测器系统(20)，该X射线检测器系统包括至少一个这样的X射线传感器(1)。
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公开(公告)号：CN110651302B
公开(公告)日：2023-08-18
申请号：CN201880033506.9
申请日：2018-05-08
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 马茨·佩松
IPC: G06T11/00 , G01N23/04 , G01N23/087 , A61B6/03
Abstract: 公开了一种使用从包括至少一个光子计数检测器的成像系统测量的x射线数据重建图像数据的方法。该方法包括获得由所述光子计数检测器测量的数据的表示的步骤。该方法还包括使用第一算法根据基于投影的第一泛函生成第一图像数据的步骤，所述基于投影的第一泛函取决于所述数据的表示。该方法还包括基于第二泛函更新所述第一图像数据以获得第二图像数据的步骤，该第二泛函包括所述基于投影的第一泛函中不包括的至少一个物理效果的模型。本公开还提供了被配置为使用从包括至少一个光子计数检测器的成像系统测量的x射线数据重建图像数据的图像处理设备以及对应的计算机程序。
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公开(公告)号：CN110678782B
公开(公告)日：2023-06-13
申请号：CN201880032096.6
申请日：2018-05-08
Applicant: 棱镜传感器公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 公开了一种边缘接通光子计数检测器以及用于制造这种检测器的电荷收集侧的方法。边缘接通光子计数检测器包括半导体衬底。该半导体衬底包括：适于面对x射线源的第一端和在入射x射线的方向上与第一端相对的第二端；以及至少一个具有N个深度片段的条带，N＞2，每个深度片段包括电荷收集金属电极和包括掺杂区和绝缘区的电荷收集侧，其中，每个电荷收集金属电极布置在相应的掺杂区上方，并且连接到布置在绝缘区上的相应的布线迹线，相应的布线迹线适于将来自电荷收集金属电极的信号传导至布置在第二端的能连接至前端电子设备的读出焊盘E。
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公开(公告)号：CN110392847B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN201880016660.5
申请日：2018-02-05
Applicant: 棱镜传感器公司
IPC: G01T1/24 , A61B6/03 , G01N23/04 , G01N23/046 , G01N23/083
Abstract: 本发明提供了一种用于确定在光子计数X射线探测器的单个探测器二极管(22)中的光子交互作用的位置的方法和装置，其特征在于，基于由所述单个探测器二极管响应于所述光子交互作用而生成的脉冲的脉冲特性而确定在所述探测器二极管(22)中的光子交互作用的位置。
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公开(公告)号：CN110023997B
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN201680091320.X
申请日：2016-12-16
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 弗雷德里克·格伦贝格
Abstract: 提供一种用于基于针对至少两种不同的有效能量而获得的光谱图像数据来重构图像的方法及相应装置。该方法包括：获得与待成像对象相关的第一组光谱图像数据和与包括至少一种参考物质的校准体模相关的第二组光谱图像数据(S1)；基于第一组光谱图像数据执行基础分解，以根据相关联的基础函数提供待成像对象的估计的基础图像(S2)；基于第二组光谱图像数据执行基础分解，以提供与所述至少一种参考物质相应的参考基系数的校准估计(S3)；并且基于待仿真的成像系统的系统模型、已估计的基础图像及其相关联的基础函数、以及参考基系数的校准估计，来确定表示待成像对象的图像值(S4)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115885584A
公开(公告)日：2023-03-31
申请号：CN202180051862.5
申请日：2021-08-31
Applicant: 通用电气精准医疗有限责任公司 , 棱镜传感器公司
IPC: H05G1/00
Abstract: 一种用于冷却CT成像系统的CT检测器组件的热管理系统和方法。该热管理系统使用用于该CT检测器组件的读出电子器件的空气冷却和用于该CT检测器组件的X射线传感器的液体冷却的组合。该混合空气和液体冷却系统和方法可以在该热管理系统和方法中耦接在一起，以在该CT检测器组件中产生更冷的温度。该CT检测器组件部件可以包括CT检测器模块，其可以包括X射线传感器、读出电子器件和其他部件。
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公开(公告)号：CN115427839A
公开(公告)日：2022-12-02
申请号：CN202080095774.0
申请日：2020-11-09
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： M·斯约林
IPC: G01T1/24 , A61B6/03 , G01N23/04 , G01N23/046 , G01N23/083 , G01T1/36
Abstract: 本发明提供了一种电路(502；503；504)，该电路被配置用于与具有多个能量阈值的多仓光子计数X射线检测器(20)一起工作，其中所述电路(502；503；504)被配置为获得或生成对应于若干个不同能量阈值的若干个总超阈值时间(TTOT)信号，并且基于所述若干个TTOT信号提供能量积分信息。
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公开(公告)号：CN113812005A
公开(公告)日：2021-12-17
申请号：CN201980096350.3
申请日：2019-05-14
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 米特克·巴科夫斯基霍尔特里德 , 马特斯·丹尼尔松 , 许成
Abstract: 所提出的技术提供了一种X射线传感器(1)，该X射线传感器具有有源检测器区，该有源检测器区包括布置在该X射线传感器(1)的表面区(3)上的多个检测器二极管(2)。该X射线传感器(1)进一步包括围绕包括该多个检测器二极管(2)的该表面区(3)的结终端(4)。该结终端(4)包括布置为最靠近该表面区(3)的端部的防护层(5)、布置在该防护层(5)外部的场截止层(6)和布置在该防护层(5)与该场截止层(6)之间的至少两个场限环FLR(7)，其中，第一FLR(7)被布置在距该防护层(20)的距离Δ1处，该距离选自10区间[4μm；12μm]，第二FLR(72)被布置在距该第一FLR(7)的距离Δ2处，该距离选自区间[6.5μm；14μm]，并且其中，距离Δ2大于距离Δ1。所提出的技术还提供了一种用于构造这样的X射线传感器和X射线成像系统(100)的方法，该X射线成像系统包括X射线检测器系统(20)，该X射线检测器系统包括至少一个这样的X射线传感器(1)。
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公开(公告)号：CN107004281B
公开(公告)日：2021-02-05
申请号：CN201480083319.3
申请日：2014-11-10
Applicant: 棱镜传感器公司
IPC: G06T11/00 , A61B6/00 , G01N23/046
Abstract: 本发明提供了一种用于基于来自光子计数的多仓X‑射线检测器的图像数据的图像重建方法以及相应的系统与装置。该方法包括：确定(S1)给出的函数形式的参数，所述函数形式表示在X‑射线检测器的读出链中以电压表示的比较器设置与基于拟合过程的以能量表示的相应的能量阈值之间的关系，所述拟合过程是在测量的脉冲高度谱的第一组数据代表与参考脉冲高度谱的第二组数据代表之间的拟合过程。该方法还包括：基于该图像数据与所确定的参数执行图像重建。通过这种方式，可以实现高效的高质量图像重建。
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公开(公告)号：CN109917445A
公开(公告)日：2019-06-21
申请号：CN201910155468.0
申请日：2015-10-08
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 马特斯·丹尼尔松 , 大卫·迈克尔·霍夫曼
Abstract: 本发明提供了在多级光子计数X射线探测器(102、103)中估计和/或补偿目标散射和/或内部散射的方法和装置，以及用于目标的X射线断层成像同时校正目标散射和/或内部散射的方法和装置。该X射线探测器具有安装在几何形的边缘上的至少两层探测器二极管，例如被设计用于：1)在目标散射具有缓慢变化的空间分布的假设下，基于在顶层和底层之间计数的差异来估计对所述至少两层的顶层中的计数的目标散射贡献；和/或2)基于通过将高衰光束截止置停留于探测器元件的顶部而选择性地遮蔽来自首次辐射的一些探测器元件来在底层中或在顶层和底层中估计具有在所述探测器内部的康普顿散射的光子的再吸收的计数，以及测量在那些探测器元件中的计数。
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