基于来自光子计数多仓X射线检测器图像数据X射线成像

    公开(公告)号:CN107004281B

    公开(公告)日:2021-02-05

    申请号:CN201480083319.3

    申请日:2014-11-10

    Abstract: 本发明提供了一种用于基于来自光子计数的多仓X‑射线检测器的图像数据的图像重建方法以及相应的系统与装置。该方法包括:确定(S1)给出的函数形式的参数,所述函数形式表示在X‑射线检测器的读出链中以电压表示的比较器设置与基于拟合过程的以能量表示的相应的能量阈值之间的关系,所述拟合过程是在测量的脉冲高度谱的第一组数据代表与参考脉冲高度谱的第二组数据代表之间的拟合过程。该方法还包括:基于该图像数据与所确定的参数执行图像重建。通过这种方式,可以实现高效的高质量图像重建。

    管理X射线成像系统中的几何失准

    公开(公告)号:CN110869811B

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN201880043400.7

    申请日:2018-06-20

    Abstract: 本发明提供了一种用于管理X射线成像系统中的几何失准的方法,该X射线成像系统具有X射线源、光子计数的X射线检测器和在X射线源和X射线检测器之间的X射线路径上的中间准直器结构。X射线检测器包括多个像素,并且准直器结构包括多个准直器单元,其中准直器单元的至少一个子集中的每一个对应于像素的N×M矩阵,其中N和M中的至少一个大于1。该方法包括:针对包括至少两个像素的指定像素子集,监测(S1)来自指定像素子集的像素的输出信号,该至少两个像素由于几何失准而受到来自所述准直器结构的阴影的不同影响;以及基于来自所述指定像素子集的所述像素的所述监测输出信号来确定(S2)几何失准的发生。

    光子计数检测器的热管理

    公开(公告)号:CN110494770A

    公开(公告)日:2019-11-22

    申请号:CN201880024382.8

    申请日:2018-03-06

    Abstract: X射线检测器系统包括光子计数检测器(20),其具有多个包括相应的耗电电路(30)的检测器模块。至少一些检测器模块包括温度传感器,以监测检测器模块上的温度并生成温度表示信号。对于检测器模块中的至少一个子集,检测器控制器选择性地在检测器模块的至少相应部分断电的空闲模式和检测器模块接通的运行模式之间切换检测器模块。检测器模块中的至少一个子集的耗电电路(30)基于温度表示信号生成校准数据,以校正由光子计数检测器(20)生成的图像数据的任何温度引起的变化。

    光子计数检测器的热管理

    公开(公告)号:CN110494770B

    公开(公告)日:2021-09-28

    申请号:CN201880024382.8

    申请日:2018-03-06

    Abstract: X射线检测器系统包括光子计数检测器(20),其具有多个包括相应的耗电电路(30)的检测器模块。至少一些检测器模块包括温度传感器,以监测检测器模块上的温度并生成温度表示信号。对于检测器模块中的至少一个子集,检测器控制器选择性地在检测器模块的至少相应部分断电的空闲模式和检测器模块接通的运行模式之间切换检测器模块。检测器模块中的至少一个子集的耗电电路(30)基于温度表示信号生成校准数据,以校正由光子计数检测器(20)生成的图像数据的任何温度引起的变化。

    管理X射线成像系统中的几何失准

    公开(公告)号:CN110869811A

    公开(公告)日:2020-03-06

    申请号:CN201880043400.7

    申请日:2018-06-20

    Abstract: 本发明提供了一种用于管理X射线成像系统中的几何失准的方法,该X射线成像系统具有X射线源、光子计数的X射线检测器和在X射线源和X射线检测器之间的X射线路径上的中间准直器结构。X射线检测器包括多个像素,并且准直器结构包括多个准直器单元,其中准直器单元的至少一个子集中的每一个对应于像素的N×M矩阵,其中N和M中的至少一个大于1。该方法包括:针对包括至少两个像素的指定像素子集,监测(S1)来自指定像素子集的像素的输出信号,该至少两个像素由于几何失准而受到来自所述准直器结构的阴影的不同影响;以及基于来自所述指定像素子集的所述像素的所述监测输出信号来确定(S2)几何失准的发生。

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