发明授权
- 专利标题: 薄膜形成方法
- 专利标题(英): Method of forming thin film
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申请号: CN200480002181.6申请日: 2004-02-26
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公开(公告)号: CN1826428B公开(公告)日: 2010-05-12
- 发明人: 大岛康弘 , 小岛康彦 , 重冈隆 , 河南博 , 石坂忠大
- 申请人: 东京毅力科创株式会社
- 申请人地址: 日本东京都
- 专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人: 东京毅力科创株式会社
- 当前专利权人地址: 日本东京都
- 代理机构: 北京尚诚知识产权代理有限公司
- 代理商 龙淳
- 优先权: 057665/2003 2003.03.04 JP
- 国际申请: PCT/JP2004/002243 2004.02.26
- 国际公布: WO2004/079042 JA 2004.09.16
- 进入国家日期: 2005-07-14
- 主分类号: C23C16/455
- IPC分类号: C23C16/455 ; C23C16/34 ; H01L21/285 ; H01L21/31
摘要:
涉及通过交互地供给成为原料的气体而进行薄膜的形成而迅速地形成高质量的薄膜的方法,是包括使作为原料气体的TiCl4气体附着于基板上或附着于基板的TiCl4分子上,把作为反应气体的NH3气体供给到处理容器内,使此NH3与TiCl4反应而形成TiN膜的工序,通过重复实施这些工序而形成TiN膜的方法,其中还设有在TiCl4气体附着于基板上前,把具有还原性的H2气供给到处理容器(30)内,使TiCl4变化成容易吸附于基板的状态(例如TiCl3)的工序。
公开/授权文献
- CN1826428A 薄膜形成方法,薄膜形成装置,程序和计算机可读取信息记录介质 公开/授权日:2006-08-30
IPC分类: