发明公开
CN1435864A 半导体器件及其制造方法
失效 - 权利终止
- 专利标题: 半导体器件及其制造方法
- 专利标题(英): Semiconductor device and mfg. method thereof
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申请号: CN03102283.9申请日: 2003-01-28
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公开(公告)号: CN1435864A公开(公告)日: 2003-08-13
- 发明人: 矶部敦生 , 山崎舜平 , 小久保千穗 , 田中幸一郎 , 下村明久 , 荒尾达也 , 宫入秀和 , 秋叶麻衣
- 申请人: 株式会社半导体能源研究所
- 申请人地址: 日本神奈川县
- 专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人: 株式会社半导体能源研究所
- 当前专利权人地址: 日本神奈川县
- 代理机构: 中国专利代理(香港)有限公司
- 代理商 吴立明; 梁永
- 优先权: 19286/2002 2002.01.28 JP; 27381/2002 2002.02.04 JP
- 主分类号: H01L21/28
- IPC分类号: H01L21/28 ; H01L21/20 ; H01L21/324 ; H01L21/336 ; H01L29/786
摘要:
本发明的目的在于提供一种制造半导体器件的方法,以及一种使用该制造方法制造的半导体器件,其中使用激光晶化方法,它能够防止在TFT沟道形成区中形成晶界,并且能够防止所有由于晶界导致的TFT迁移率的显著下降、接通电流降低和关断电流增加。形成具有条形形状或矩形形状的凹陷和凸起。用连续波激光沿绝缘膜条形形状的凹陷和凸起、或沿矩形形状的纵轴方向或横轴方向辐照形成在绝缘膜上的半导体膜。注意虽然此时最优选使用连续波激光,但也可以使用脉冲波激光。
公开/授权文献
- CN100409409C 半导体器件及其制造方法 公开/授权日:2008-08-06
IPC分类: