Invention Grant
- Patent Title: 降低字线电阻的方法
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Application No.: CN201880029923.6Application Date: 2018-06-05
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Publication No.: CN110678972BPublication Date: 2023-06-20
- Inventor: 陈一宏 , 巫勇 , 秦嘉政 , 吕新亮 , 斯里尼瓦·甘迪科塔 , 段子青 , 阿卜希吉特·巴苏·马尔利克
- Applicant: 应用材料公司
- Applicant Address: 美国加利福尼亚州
- Assignee: 应用材料公司
- Current Assignee: 应用材料公司
- Current Assignee Address: 美国加利福尼亚州
- Agency: 北京律诚同业知识产权代理有限公司
- Agent 徐金国; 赵静
- International Application: PCT/US2018/036060 2018.06.05
- International Announcement: WO2018/226696 EN 2018.12.13
- Date entered country: 2019-11-05
- Main IPC: H01L21/768
- IPC: H01L21/768 ; H01L21/3205 ; H01L21/02 ; H10B41/20

Abstract:
用于形成3D‑NAND器件的方法包括使多晶Si层凹陷到间隔的氧化物层下方的某一深度。在所述间隔的氧化物层上而不是在凹陷的多晶Si层上形成衬垫。在所述衬垫上的间隙中沉积金属层以形成字线。
Public/Granted literature
- CN110678972A 降低字线电阻的方法 Public/Granted day:2020-01-10
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IPC分类: