公开(公告)号：US20130105920A1

公开(公告)日：2013-05-02

申请号：US13287575

申请日：2011-11-02

申请人： Russell T. HERRIN ,  Daniel R. MIGA ,  Anthony K. STAMPER

发明人： Russell T. HERRIN ,  Daniel R. MIGA ,  Anthony K. STAMPER

IPC分类号： H01L29/84 ,  H01L21/02

CPC分类号： B81C1/00476 ,  B81B2203/0315 ,  B81C99/007 ,  B81C2201/0108 ,  H01L21/56 ,  H01L23/544 ,  H01L2223/54426 ,  H01L2223/5446 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/00

摘要： Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) structures, metrology structures and methods of manufacture are disclosed. The method includes forming one or metrology structure, during formation of a device in a chip area. The method further includes venting the one or more metrology structure after formation of the device.

摘要翻译： 公开了微机电系统（MEMS）结构，计量结构和制造方法。 该方法包括在芯片区域中的器件形成期间形成一个或计量结构。 该方法还包括在形成装置之后排出一个或多个计量结构。

公开(公告)号：US20110315527A1

公开(公告)日：2011-12-29

申请号：US12974854

申请日：2010-12-21

申请人： Dinh DANG ,  Thai DOAN ,  George A. DUNBAR, III ,  Zhong-Xiang HE ,  Russell T. HERRIN ,  Christopher V. JAHNES ,  Jeffrey C. MALING ,  William J. MURPHY ,  Anthony K. STAMPER ,  John G. TWOMBLY ,  Eric J. WHITE

发明人： Dinh DANG ,  Thai DOAN ,  George A. DUNBAR, III ,  Zhong-Xiang HE ,  Russell T. HERRIN ,  Christopher V. JAHNES ,  Jeffrey C. MALING ,  William J. MURPHY ,  Anthony K. STAMPER ,  John G. TWOMBLY ,  Eric J. WHITE

IPC分类号： H01H57/00 ,  H01L21/66 ,  G06F17/50 ,  H01L21/28

CPC分类号： B81B3/0072 ,  B81B3/0021 ,  B81B2201/01 ,  B81B2201/014 ,  B81B2203/0118 ,  B81B2203/0315 ,  B81B2203/04 ,  B81C1/0015 ,  B81C1/00365 ,  B81C1/00476 ,  B81C1/00619 ,  B81C1/00626 ,  B81C1/00666 ,  B81C2201/0109 ,  B81C2201/013 ,  B81C2201/0167 ,  B81C2201/017 ,  B81C2203/0136 ,  B81C2203/0172 ,  G06F17/5068 ,  G06F17/5072 ,  H01H1/0036 ,  H01H57/00 ,  H01H59/0009 ,  H01H2057/006 ,  H01L41/1136 ,  H01L2924/0002 ,  Y10S438/937 ,  Y10T29/42 ,  Y10T29/435 ,  Y10T29/49002 ,  Y10T29/49105 ,  Y10T29/49121 ,  Y10T29/49126 ,  Y10T29/4913 ,  Y10T29/49155 ,  Y10T29/5313 ,  H01L2924/00

摘要： Planar cavity Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) structures, methods of manufacture and design structure are provided. The method includes forming at least one Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) cavity having a planar surface using a reverse damascene process.

摘要翻译： 提供了平面腔微机电系统（MEMS）结构，制造方法和设计结构。 该方法包括使用反向镶嵌工艺形成具有平面表面的至少一个微机电系统（MEMS）空腔。

公开(公告)号：US20110315528A1

公开(公告)日：2011-12-29

申请号：US12977850

申请日：2010-12-23

申请人： Russell T. HERRIN ,  Jeffrey C. Maling ,  Anthony K. Stamper

发明人： Russell T. HERRIN ,  Jeffrey C. Maling ,  Anthony K. Stamper

IPC分类号： H01H57/00 ,  G06F17/50 ,  H01L21/56

CPC分类号： B81B3/0072 ,  B81B3/0021 ,  B81B2201/01 ,  B81B2201/014 ,  B81B2203/0118 ,  B81B2203/0315 ,  B81B2203/04 ,  B81C1/0015 ,  B81C1/00365 ,  B81C1/00476 ,  B81C1/00619 ,  B81C1/00626 ,  B81C1/00666 ,  B81C2201/0109 ,  B81C2201/013 ,  B81C2201/0167 ,  B81C2201/017 ,  B81C2203/0136 ,  B81C2203/0172 ,  G06F17/5068 ,  G06F17/5072 ,  H01H1/0036 ,  H01H57/00 ,  H01H59/0009 ,  H01H2057/006 ,  H01L41/1136 ,  H01L2924/0002 ,  Y10S438/937 ,  Y10T29/42 ,  Y10T29/435 ,  Y10T29/49002 ,  Y10T29/49105 ,  Y10T29/49121 ,  Y10T29/49126 ,  Y10T29/4913 ,  Y10T29/49155 ,  Y10T29/5313 ,  H01L2924/00

摘要： A method of forming at least one Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) includes forming a beam structure and an electrode on an insulator layer, remote from the beam structure. The method further includes forming at least one sacrificial layer over the beam structure, and remote from the electrode. The method further includes forming a lid structure over the at least one sacrificial layer and the electrode. The method further includes providing simultaneously a vent hole through the lid structure to expose the sacrificial layer and to form a partial via over the electrode. The method further includes venting the sacrificial layer to form a cavity. The method further includes sealing the vent hole with material. The method further includes forming a final via in the lid structure to the electrode, through the partial via.

摘要翻译： 形成至少一个微电子机械系统（MEMS）的方法包括在远离梁结构的绝缘体层上形成梁结构和电极。 该方法还包括在光束结构上方并且远离电极形成至少一个牺牲层。 该方法还包括在至少一个牺牲层和电极上形成盖结构。 该方法还包括同时提供穿过盖结构的通气孔以暴露牺牲层并在电极上形成部分通孔。 该方法还包括排出牺牲层以形成空腔。 该方法还包括用材料密封通气孔。 该方法还包括通过部分通孔在盖结构中形成最终通孔至电极。

公开(公告)号：US20110316097A1

公开(公告)日：2011-12-29

申请号：US12973147

申请日：2010-12-20

申请人： Russell T. HERRIN ,  Christopher V. JAHNES ,  Anthony K. STAMPER ,  Eric J. WHITE

发明人： Russell T. HERRIN ,  Christopher V. JAHNES ,  Anthony K. STAMPER ,  Eric J. WHITE

IPC分类号： H01L29/84 ,  H01L21/02

CPC分类号： B81B3/0072 ,  B81B3/0021 ,  B81B2201/01 ,  B81B2201/014 ,  B81B2203/0118 ,  B81B2203/0315 ,  B81B2203/04 ,  B81C1/0015 ,  B81C1/00365 ,  B81C1/00476 ,  B81C1/00619 ,  B81C1/00626 ,  B81C1/00666 ,  B81C2201/0109 ,  B81C2201/013 ,  B81C2201/0167 ,  B81C2201/017 ,  B81C2203/0136 ,  B81C2203/0172 ,  G06F17/5068 ,  G06F17/5072 ,  H01H1/0036 ,  H01H57/00 ,  H01H59/0009 ,  H01H2057/006 ,  H01L41/1136 ,  H01L2924/0002 ,  Y10S438/937 ,  Y10T29/42 ,  Y10T29/435 ,  Y10T29/49002 ,  Y10T29/49105 ,  Y10T29/49121 ,  Y10T29/49126 ,  Y10T29/4913 ,  Y10T29/49155 ,  Y10T29/5313 ,  H01L2924/00

摘要： A method of forming at least one Micro-Electro-Mechanical System (MEMS) cavity includes forming a first sacrificial cavity layer over a wiring layer and substrate. The method further includes forming an insulator layer over the first sacrificial cavity layer. The method further includes performing a reverse damascene etchback process on the insulator layer. The method further includes planarizing the insulator layer and the first sacrificial cavity layer. The method further includes venting or stripping of the first sacrificial cavity layer to a planar surface for a first cavity of the MEMS.

摘要翻译： 形成至少一个微机电系统（MEMS）空腔的方法包括在布线层和基板上形成第一牺牲腔层。 该方法还包括在第一牺牲腔层上形成绝缘体层。 该方法还包括在绝缘体层上执行反向镶嵌回蚀工艺。 该方法还包括平坦化绝缘体层和第一牺牲腔层。 该方法还包括将第一牺牲腔层排出或剥离到用于MEMS的第一腔的平坦表面。