公开(公告)号：US10416190B2

公开(公告)日：2019-09-17

申请号：US15445779

申请日：2017-02-28

申请人： Oxford Instruments Asylum Research, Inc.

发明人： Mario Viani ,  Roger Proksch ,  Maarten Rutgers ,  Jason Cleveland ,  Jim Hodgson

IPC分类号： G01Q10/00 ,  G01Q30/10 ,  G01Q30/12 ,  G01Q30/20 ,  G01Q30/18

摘要： A modular Atomic Force Microscope that allows ultra-high resolution imaging and measurements in a wide variety of environmental conditions is described. The instrument permits such imaging and measurements in environments ranging from ambient to liquid or gas or extremely high or extremely low temperatures.

公开(公告)号：US20150338438A1

公开(公告)日：2015-11-26

申请号：US14817517

申请日：2015-08-04

申请人： Oxford Instruments Asylum Research, Inc.

发明人： Mario Viani ,  Roger Proksch ,  Maarten Rutgers ,  Jason Cleveland ,  Jim Hodgson

IPC分类号： G01Q30/20 ,  G01Q10/00

CPC分类号： G01Q30/10 ,  G01Q10/00 ,  G01Q30/12 ,  G01Q30/18 ,  G01Q30/20

摘要： A modular Atomic Force Microscope that allows ultra-high resolution imaging and measurements in a wide variety of environmental conditions is described. The instrument permits such imaging and measurements in environments ranging from ambient to liquid or gas or extremely high or extremely low temperatures.

摘要翻译： 描述了在各种环境条件下允许超高分辨率成像和测量的模块化原子力显微镜。 该仪器允许在环境到液体或气体或极高或极低温度的环境中进行这种成像和测量。

公开(公告)号：US09581616B2

公开(公告)日：2017-02-28

申请号：US14817517

申请日：2015-08-04

申请人： Oxford Instruments Asylum Research, Inc.

发明人： Mario Viani ,  Roger Proksch ,  Maarten Rutgers ,  Jason Cleveland ,  Jim Hodgson

IPC分类号： G01Q30/20 ,  G01Q30/18 ,  G01Q10/00 ,  G01Q30/10 ,  G01Q30/12

CPC分类号： G01Q30/10 ,  G01Q10/00 ,  G01Q30/12 ,  G01Q30/18 ,  G01Q30/20

摘要： A modular Atomic Force Microscope that allows ultra-high resolution imaging and measurements in a wide variety of environmental conditions is described. The instrument permits such imaging and measurements in environments ranging from ambient to liquid or gas or extremely high or extremely low temperatures.

摘要翻译： 描述了在各种环境条件下允许超高分辨率成像和测量的模块化原子力显微镜。 该仪器允许在环境到液体或气体或极高或极低温度的环境中进行这种成像和测量。

公开(公告)号：US20170168089A1

公开(公告)日：2017-06-15

申请号：US15445779

申请日：2017-02-28

申请人： Oxford Instruments Asylum Research, Inc.

发明人： Mario Viani ,  Roger Proksch ,  Maarten Rutgers ,  Jason Cleveland ,  Jim Hodgson

IPC分类号： G01Q30/10 ,  G01Q30/20

CPC分类号： G01Q30/10 ,  G01Q10/00 ,  G01Q30/12 ,  G01Q30/18 ,  G01Q30/20

摘要： A modular Atomic Force Microscope that allows ultra-high resolution imaging and measurements in a wide variety of environmental conditions is described. The instrument permits such imaging and measurements in environments ranging from ambient to liquid or gas or extremely high or extremely low temperatures.

公开(公告)号：US09097737B2

公开(公告)日：2015-08-04

申请号：US13998691

申请日：2013-11-25

申请人： Oxford Instruments Asylum Research, Inc.

发明人： Mario Viani ,  Roger Proksch ,  Maarten Rutgers ,  Jason Cleveland ,  Jim Hodgson

IPC分类号： G01B5/28 ,  G01Q10/00

CPC分类号： G01Q30/10 ,  G01Q10/00 ,  G01Q30/12 ,  G01Q30/18 ,  G01Q30/20

摘要： A modular Atomic Force Microscope that allows ultra-high resolution imaging and measurements in a wide variety of environmental conditions is described. The instrument permits such imaging and measurements in environments ranging from ambient to liquid or gas or extremely high or extremely low temperatures.