公开(公告)号：CN119948336A

公开(公告)日：2025-05-06

申请号：CN202380057793.8

申请日：2023-07-26

Applicant: 艾迪康姆有限责任公司

Inventor： 弗拉基米尔·维塔列维奇·格雷本希科夫 ,  伊凡·伊戈尔维奇·弗鲁贝尔 ,  丹尼斯·奥列戈维奇·施普瑞

IPC: G01N23/203

Abstract: 本发明基于X射线辐射的使用，并且可以用于为了安全目的检查可移动物体和不可移动物体，尤其是机动车辆、轻型结构、装运集装箱、行李和其它物体；以及为了工业目的分析物体的近表层是否存在异物夹杂和/或缺陷。本发明的工作原理基于记录由被检物体向辐射源散射的电离辐射，这允许将该装置的所有设备布置在物体的同一侧。本发明使得在不可能通过透射进行几何形状检查时执行检查和/或秘密地执行检查过程成为可能。所要求保护的发明允许通过测量散射辐射场的轮廓获得被检物体的高质量空间伪3D轮廓。由于图像的信息内容的改善，伪3D轮廓允许装置的操作者分析物体片段的散射能力并评估它们的几何形状。所要求保护的发明的技术和经济效率在于提高了其可靠性，降低了其实施成本，并且因提高合成图像质量而提高了检查精度。

公开(公告)号：CN119915853A

公开(公告)日：2025-05-02

申请号：CN202311432924.4

申请日：2023-10-31

Applicant: 北京师范大学

Inventor： 张春雷 ,  张耀锋

IPC: G01N23/203 ,  G01N23/20008 ,  G01T1/29

Abstract: 本发明涉及一种背散射成像探测装置，包括：用于产生伽马射线的放射源；伽马射线照射待测物体表面形成康普顿散射伽马射线；用于获取成像位置信息的第一探测单元；用于获取成像能量信息的第二探测单元；信号处理单元，接收成像位置信息和成像能量信息；图像重建单元，与信号处理单元电连接，用于对接收到的信息进行数据处理和图像重建。本发明，采用Na‑22放射源作为光源产生伽马射线，增大了可检测的样品厚度；装置使用方便，易于记录或掌握装置的位置、位姿等信息，减少了较长时间持续使用探测装置时的不便，可按需更换相同或不同分辨精度的探测单元，装置具有小型化、便携性好、探测精度高的优势，可以满足各种复杂工况的使用。

公开(公告)号：CN119880958A

公开(公告)日：2025-04-25

申请号：CN202510010664.4

申请日：2025-01-03

Applicant: 东方晶源微电子科技(北京)股份有限公司

Inventor： 张立杰

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/203 ,  G01N23/225 ,  G01B15/00

Abstract: 本申请公开了一种探测器防护机构及半导体检测设备，半导体检测设备包括发射装置、探测器及探测器防护机构，发射装置用于发射多种束流的电子束；探测器用于接收经待测物品反射后的信号粒子；探测器防护机构设置于探测器与待测物品之间，探测器防护机构包括驱动组件与防护板，驱动组件与防护板连接以驱使防护板能够在与电子束路径相交的第一方向可动地设置，防护板开设有能够供电子束穿过的通孔；其中，驱动组件能够驱使防护板向第一方向的正方向移动，电子束射向待测物品的同时防护板阻挡信号粒子射向探测器；或者，驱动组件能够驱使防护板向第一方向的反方向移动，电子束射向待测物品的同时探测器接收信号粒子。

公开(公告)号：CN112394077B

公开(公告)日：2025-04-15

申请号：CN202010495268.2

申请日：2020-06-03

Applicant: 波音公司

Inventor： M·萨法伊

IPC: G01N23/203

Abstract: 本文公开了x射线背散射检测器，具体地公开了在x射线背散射系统中使用的闪烁体。该闪烁体包括无机闪烁体部，该无机闪烁体部由无机闪烁材料制成并包括一个或更多个无机材料元件。所述一个或更多个无机材料元件中的各个无机材料元件包括外表面和与外表面相反的内表面。外表面被配置成靠近要扫描的物体，使得外表面被配置成接收被物体散射的x射线光子。闪烁体还包括有机闪烁体部，该有机闪烁体部由有机闪烁材料制成的并且包括前表面。前表面的至少一部分邻接一个或更多个无机材料元件中的至少一个无机材料元件的内表面。

公开(公告)号：CN119780134A

公开(公告)日：2025-04-08

申请号：CN202411960392.6

申请日：2024-12-30

Applicant: 上海大学

Inventor： 梁雪 ,  秦仔桐 ,  林晓冬 ,  戴龚颖 ,  李毅丰 ,  李强

IPC: G01N23/20008 ,  G01N23/203

Abstract: 本发明涉及一种用于EBSD测试的铬涂层锆合金包壳管试样及其制备方法与应用。制备方法包括以下步骤：将铬涂层锆合金包壳管切割并清洗，镶嵌固定，研磨至表面平整、无毛刺，机械抛光至表面无划痕，精细抛光，酸洗，清洗，得到铬涂层锆合金包壳管试样。与现有技术相比，本发明使制备得到的铬涂层锆合金包壳管试样满足EBSD测试要求，使其表征结果能真实反应铬涂层锆合金包壳管的微观组织信息，为核反应堆事故容错燃料包壳材料的研发提供有力支持。

公开(公告)号：CN119738431A

公开(公告)日：2025-04-01

申请号：CN202411316757.1

申请日：2024-09-20

Applicant: FEI 公司

Inventor： R·瓦伊纳 ,  B·斯特拉卡 ,  J·霍尔泽

IPC: G01N23/203 ,  G01N23/2251

Abstract: 在一些实施方案中，一种科学仪器包括操纵器，该操纵器被配置为可控地旋转样本，电子束柱，该电子束柱被配置为将电子束引导到样本上的选定撞击点；和检测器，该检测器可配置为检测角度分辨图案和背散射电子的通量。科学仪器还包括电子控制器，该电子控制器被配置为：基于当操作电子束柱以保持电子束固定在撞击点处时采集的角度分辨图案来确定样本的第一晶体取向；操作操纵器以将样本放置成第二晶体取向，在第二晶体取向中，所确定的第一晶体取向与目标晶体取向之间的角度差被估计为消除；以及基于当操作电子束柱以使电子束在撞击点处摇摆时采集的SACP来确定第二晶体取向。

公开(公告)号：CN119643339A

公开(公告)日：2025-03-18

申请号：CN202411876325.6

申请日：2024-12-19

Applicant: 北京航空航天大学

Inventor： 赵士腾 ,  朱前勇 ,  梁霄 ,  王涵祺

IPC: G01N3/42 ,  B81C99/00 ,  B82Y35/00 ,  G01N23/20091 ,  G01N23/203 ,  G01N23/20 ,  G01N23/2251 ,  G01N3/08

Abstract: 本发明公开一种高通量搭建金属微纳组织基元序构与力学性能的方法，属于金属材料分析与表征应用技术领域。本发明在材料组成与结构高通量表征技术的基础上，使用连续刚度法进行特定区域纳米压痕力学性能高通量表征，提升传统纳米压痕测试分辨率的同时实现高精度、浅压痕和高效率；该方法可实现金属材料同一区域微纳尺度组织成分、结构、力学性能的多维度高通量定量对应表征。本发明适用于各类金属材料，实现了金属材料四要素之间的快速关联。

公开(公告)号：CN107655906B

公开(公告)日：2025-03-11

申请号：CN201710879776.9

申请日：2017-09-26

Applicant: 同方威视技术股份有限公司

Inventor： 李荐民 ,  宗春光 ,  于昊 ,  刘磊 ,  喻卫丰 ,  许艳伟

IPC: G01V5/22 ,  G01V5/222 ,  G01N23/04 ,  G01N23/20008 ,  G01N23/20 ,  G01N23/203

Abstract: 本申请提出一种车辆安检系统、方法和控制器，涉及安检技术领域。本申请的一种车辆安检系统包括：对待测车辆进行背散射探测的背散射探测器；对待测车辆进行透射探测的透射探测器；和，控制器；其中，控制器根据背散射探测数据确定待测车辆的驾驶室通过透射探测区域后，开启透射探测器的射线发生器。这样的车辆安检系统能够在对车辆进行背散射探测的基础上，根据背散射探测数据确定车辆驾驶室相对于透射探测区域的位置，当驾驶室离开透射探测区域后再开启透射探测器的射线发生器，从而能对全车进行背散射探测，避免对驾驶室进行透射探测，同时对全车进行背散射探测，在保证驾驶室人员安全的情况下提高安检效果。

公开(公告)号：CN119534509A

公开(公告)日：2025-02-28

申请号：CN202411821685.6

申请日：2024-12-11

Applicant: 季华实验室

Inventor： 王双 ,  周玉铎 ,  罗明生 ,  谭军

IPC: G01N23/2204 ,  G01N23/20033 ,  G01N23/20058 ,  G01N23/203 ,  G01N23/207 ,  G01N23/20008

Abstract: 本发明公开了一种显微表征样品夹持装置和显微表征样品的制备方法，涉及材料制备技术领域，其中，所述显微表征样品夹持装置包括样品座和固定件；所述固定件可拆卸连接于所述样品座，所述固定件远离所述样品座的一端设有开口和固定部，所述固定部的一端与所述固定件连接，所述固定部的另一端从所述开口伸出；所述固定部用于与待减薄的样品焊接。本发明提供的技术方案。

公开(公告)号：CN119438264A

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202411575721.5

申请日：2024-11-06

Applicant: 太原科技大学

Inventor： 毛泱博 ,  王建梅 ,  王震宇 ,  薛江桥

IPC: G01N23/20008 ,  G01N23/20058 ,  G01N23/203

Abstract: 本发明涉及一种快速确定电解抛光制备中碳钢EBSD试样工艺参数的方法。主要解决机械抛光制样存在的制备过程复杂、制样质量对EBSD检测结果影响大的技术问题。本发明采用的技术方案是：该方法包括以下步骤：S1：将中碳钢材料切割成方块状试样，将试样背面与导线连接并进行树脂镶嵌，再用砂纸由粗到细将试样打磨平整；S2：将试样放置在电解抛光装置中，测量材料的电流‑时间关系和阳极极化曲线；S3：在电解结束后使用表面粗糙度仪测量试样表面粗糙度和表面轮廓曲线，使用蔡司扫描电镜观察试样表面；S4：基于Jacquet黏膜模型，结合电流‑时间关系和阳极极化曲线，绘制电流‑电解时间曲线，获得最佳的电解时间，从而得到实验所用中碳钢电解抛光最佳工艺参数。