一种用于集成电路传导抗扰度预测的量化仿真建模方法

    公开(公告)号:CN117688884B

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202311481786.9

    申请日:2023-11-08

    摘要: 本发明涉及集成电路抗扰度预测模型技术领域,尤其涉及一种用于集成电路传导抗扰度预测的量化仿真建模方法;包括以下步骤:S1、确定被测设备的多元复函数,将被测设备的输入谱分量与输出谱分量进行关联;S2、在被测设备的大信号工作点施加小信号扰动,形成多谐波失真非线性模型;S3、提取被测设备的频域多谐波失真非线性参数,带入步骤S2所建立的多谐波失真非线性模型中,形成该被测设备的多谐波失真非线性模型;提供了快速频域表征敏感性的黑盒模型,模型能表征注入特定频率和功率干扰下对应输出波形的量化全振幅信息,经敏感判据可得敏感剖面,实现集成电路抗扰度预测,实现敏感参数化仿真,实现电路人员电磁兼容设计工作量的降低。

    一种用于集成电路传导抗扰度预测的量化仿真建模方法

    公开(公告)号:CN117688884A

    公开(公告)日:2024-03-12

    申请号:CN202311481786.9

    申请日:2023-11-08

    摘要: 本发明涉及集成电路抗扰度预测模型技术领域,尤其涉及一种用于集成电路传导抗扰度预测的量化仿真建模方法;包括以下步骤:S1、确定被测设备的多元复函数,将被测设备的输入谱分量与输出谱分量进行关联;S2、在被测设备的大信号工作点施加小信号扰动,形成多谐波失真非线性模型;S3、提取被测设备的频域多谐波失真非线性参数,带入步骤S2所建立的多谐波失真非线性模型中,形成该被测设备的多谐波失真非线性模型;提供了快速频域表征敏感性的黑盒模型,模型能表征注入特定频率和功率干扰下对应输出波形的量化全振幅信息,经敏感判据可得敏感剖面,实现集成电路抗扰度预测,实现敏感参数化仿真,实现电路人员电磁兼容设计工作量的降低。

    一种非线性机电系统的主动容错控制方法

    公开(公告)号:CN114840969B

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN202210237180.X

    申请日:2022-03-11

    IPC分类号: G06F30/20 G06F117/02

    摘要: 本发明公开了一种非线性机电系统的主动容错控制方法,包括:建立系统的不确定性诊断键合图模型;根据不确定性诊断键合图模型推导出系统的解析冗余关系及动力学模型;基于粒子群优化算法设计优化自适应阈值以提高参数不确定条件下的故障检测性能;基于递归终端滑模理论,设计系统的递归终端滑模控制律即闭环控制律,实现系统健康状态下的负载位置跟踪;针对系统的参数故障,利用自适应模糊系统对未知参数故障项进行实时估计,并将估计值补偿到控制律中,设计系统的自适应模糊递归终端滑模控制律即容错控制律;当系统发生参数故障,将闭环控制律切换至容错控制律,实现对系统参数故障的主动容错控制。

    一种基于TFPG的航电系统通用处理模块故障建模方法

    公开(公告)号:CN111581900B

    公开(公告)日:2023-03-10

    申请号:CN202010370730.6

    申请日:2020-04-30

    发明人: 李铁颖 池程芝

    摘要: 本发明实施例公开了一种基于TFPG的航电系统通用处理模块故障建模方法,该方法包括:对通用处理模块进行故障模式分析,确定通用处理模块的故障模式及其传播效应;基于时间故障传播图(TFPG)对通用处理模块进行故障建模,故障建模包括:通用模块层级的故障建模和功能电路层级的故障建模,通用模块层级的故障建模用于在模块级对故障或失效的行为进行描述,功能电路层级的故障建模用于在功能电路级对故障行为进行描述;生成故障模型文件,将建模形成的故障模型作为航电故障诊断的基础故障库导入到航电系统健康管理软件。本发明实施例提供的技术方案,为实现航电系统健康管理提供故障诊断支持,从而提升了航电系统运行的可靠性和容错能力。

    一种基于仿真分析的前端半导体器件辐照可靠性研究方法

    公开(公告)号:CN114398851A

    公开(公告)日:2022-04-26

    申请号:CN202111445709.9

    申请日:2021-11-30

    摘要: 本发明涉及一种基于仿真分析的前端半导体器件辐照可靠性研究方法,包括步骤:根据高电子迁移率半导体器件的参数进行几何建模,得到待测模型;对待测模型依次进行对接半导体物理场、耦合固体传热物理场、剖分网格结构,得到目标模型;根据目标模型在求解器中选定半导体物理场的接口、固体传热物理场的接口以及网格结构,并进行稳态条件和瞬态条件的设置,得到搭建好的仿真平台;根据仿真平台的仿真结果分析前端高电子迁移率半导体器件的潜在损伤区。该研究方法考虑到了不同栅极之间的相互作用以及多物理场的耦合情况,可以分析实际的多栅指芯片在受到辐照干扰条件下的工作情况,对于潜在损伤区域能够有效预测,仿真结果准确性高。

    近似算术逻辑电路的最大绝对输出误差的计算方法

    公开(公告)号:CN112861453A

    公开(公告)日:2021-05-28

    申请号:CN202110179136.3

    申请日:2021-02-08

    申请人: 宁波大学

    IPC分类号: G06F30/327 G06F117/02

    摘要: 本发明公开了一种近似算术逻辑电路的最大绝对输出误差的计算方法,其通过比较近似算术逻辑电路与原始算术逻辑电路之间输出逻辑函数对应的两个逻辑覆盖之间的差异来计算最大绝对输出误差,而两个逻辑覆盖之间的差异可以通过逻辑覆盖之间的不相交运算来求解,考虑到算术逻辑电路的输入组合数量与输入变量数之间成2的指数次方关系,基于逻辑覆盖不相交运算的计算效率与逻辑覆盖对应的乘积项的数量有关,对逻辑覆盖包含的变量数不敏感,因此在运算效率上,尤其是处理输入变量比较多的逻辑函数时,本发明方法的运算效率更高,使得本发明方法更适合处理大电路。

    基于概率计算和查找表分析的门级单粒子软错误分析方法

    公开(公告)号:CN118821682A

    公开(公告)日:2024-10-22

    申请号:CN202410794597.5

    申请日:2024-06-19

    摘要: 本发明涉及一种基于概率计算和查找表分析的门级单粒子软错误分析方法,包括以下步骤:接收文件;基于分析待测设计工艺库文件与待测设计网表文件,提取待测设计中寄存器及其前级逻辑锥,分析SET作用到标准单元中的逻辑门后的输出响应并建立查找表;结合多层次屏蔽以及采用概率计算方法,评估待测设计中不同寄存器前级逻辑锥对SET故障的屏蔽效果及逻辑锥上SET导致寄存器生成位翻转的概率;通过门级注错仿真技术,获取寄存器因SET或SEU导致的错误翻转对整个系统软错误的贡献,形成模块级的统计数据,评估SET和SEU对系统软错误的影响。本发明综合分析SEU和SET的影响,实现单粒子软错误分析方法性能的极大提升。

    一种抗浪涌电阻设计方法、装置、设备及介质

    公开(公告)号:CN118364767A

    公开(公告)日:2024-07-19

    申请号:CN202410550257.8

    申请日:2024-05-06

    IPC分类号: G06F30/367 G06F117/02

    摘要: 本申请涉及一种抗浪涌电阻设计方法、装置、设备及介质,一种抗浪涌电阻设计方法包括获取当前抗浪涌电阻的材料特性信息,根据材料特性信息,确定第一抗浪涌能量推算值;获取雷击浪涌条件信息,根据材料特性信息和雷击浪涌条件信息,确定第二抗浪涌能量推算值;对比第一抗浪涌能量推算值和第二抗浪涌能量推算值,生成对应的设计结果,设计结果用于判断是否推送当前抗浪涌电阻的更换信息。推算出第一和第二抗浪涌能量,然后将两者对比,生成设计结果,判断当前抗浪涌电阻是否符合要求,是否需要更换。综合考虑了电阻材料特性和客户提出的抗浪涌要求标准,提高了对电阻器抗浪涌能力的准确评估。

    有效利用常闭缺陷单元的纳米CMOS电路高效容错方法

    公开(公告)号:CN110837725B

    公开(公告)日:2023-05-02

    申请号:CN201910898701.4

    申请日:2019-09-23

    申请人: 宁波大学

    发明人: 夏银水 查晓婧

    摘要: 本发明公开的有效利用常闭缺陷单元的纳米CMOS电路高效容错方法,将顺序输入单元与常闭缺陷单元间的连接关系与逻辑电路中节点间的逻辑关系相匹配,将常闭缺陷单元用于各级逻辑节点的映射,同时在初始映射过程中考虑了纳米CMOS电路的缺陷信息,对逻辑电路的分级映射充分考虑门节点间的逻辑关系,并且综合局部优化结果,采用局部搜索能力强的禁忌搜索算法对每一逻辑级节点所映射单元的功能正确性进行验证,加快纳米CMOS电路结构的实用化进程。本发明利用可用的常闭缺陷单元以提高映射成功率,同时优化映射后纳米CMOS电路的性能,简化电路容错复杂度,在提高单元利用率和映射成功率情况下,快速消除常闭缺陷对纳米CMOS电路逻辑功能的影响。

    一种非线性机电系统的主动容错控制方法

    公开(公告)号:CN114840969A

    公开(公告)日:2022-08-02

    申请号:CN202210237180.X

    申请日:2022-03-11

    IPC分类号: G06F30/20 G06F117/02

    摘要: 本发明公开了一种非线性机电系统的主动容错控制方法,包括:建立系统的不确定性诊断键合图模型;根据不确定性诊断键合图模型推导出系统的解析冗余关系及动力学模型;基于粒子群优化算法设计优化自适应阈值以提高参数不确定条件下的故障检测性能;基于递归终端滑模理论,设计系统的递归终端滑模控制律即闭环控制律,实现系统健康状态下的负载位置跟踪;针对系统的参数故障,利用自适应模糊系统对未知参数故障项进行实时估计,并将估计值补偿到控制律中,设计系统的自适应模糊递归终端滑模控制律即容错控制律;当系统发生参数故障,将闭环控制律切换至容错控制律,实现对系统参数故障的主动容错控制。