记录介质
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1839052B

    公开(公告)日:2011-09-07

    申请号:CN200480023951.5

    申请日:2004-08-19

    发明人: 清野贤二郎

    IPC分类号: B41M5/26 G11B7/24

    摘要: 本发明提供了一种能够以高密度记录信息的记录介质,尤其是一种对于宽范围的记录功率具有有利的记录信号特性的一次写入多次读取的光学记录介质。所述记录介质具有记录层,并通过加热所述记录层而进行记录。所述记录介质的特征在于所述记录层包含物质A和物质B,所述物质A当在记录期间进行加热时记录层所达到的温度下分解,而物质B在上述温度下不会发生化学反应或相变。

    长期数字数据存储
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101779238A

    公开(公告)日:2010-07-14

    申请号:CN200880103400.8

    申请日:2008-02-29

    申请人: 杨百翰大学

    IPC分类号: G11B7/00 G11B11/08

    摘要: 一些实施方案涉及在可光学烧蚀的数字存储介质上记录数字数据。在一个实施方案中,被配置为在可光学烧蚀的数字存储介质上烧蚀部分可烧蚀材料的设备接收要被记录在可光学烧蚀的数字存储介质的记录层上的数字数据。所述记录层形成在基层上;记录层和基层之间有零个或更多个间隔层。所述记录层包括能够存储数字数据的可烧蚀材料。所述设备根据接收的数字数据定义的序列烧蚀记录层中的可烧蚀材料,使得被烧蚀部分对应于接收的数字数据的数据点。

    半反射膜或反射膜,光学信息记录介质和溅射靶材

    公开(公告)号:CN1331138C

    公开(公告)日:2007-08-08

    申请号:CN200510066665.3

    申请日:2005-04-21

    IPC分类号: G11B7/24 B32B3/00

    摘要: 考虑到这种情况,完成了本发明,且本发明的一个目的是发现显示通过纯Ag或通过常规Ag合金没有实现的水平的高耐内聚性、高耐光性、高耐热性、高反射率、高透射率、低吸光率,和高热传导率的Ag基合金,和在这种合金的基础上,提供一种具有优异写/读性能和长期使用可靠性的光学信息记录介质用半反射膜和反射膜;在沉积这种半反射膜和反射膜中使用的光学信息记录介质用溅射靶材;和一种配备有这种半反膜或反射膜的光学信息记录介质。光学信息记录介质用半反射膜或反射膜,其包含Ag基合金,其中Ag基合金包含0.005至0.40%(原子%,除非另外注明)的Bi和总量为0.05至5%的选自Zn、Al、Ga、In、Si、Ge和Sn中的至少一种元素。