公开(公告)号：CN104487812A

公开(公告)日：2015-04-01

申请号：CN201380027508.4

申请日：2013-05-15

Applicant: 阿凯尔海底有限公司

Inventor： 菲利普·迈克尔·巴戈利 ,  罗宾·斯莱特

IPC: G01J5/00 ,  G01J5/08 ,  G01J5/02 ,  G01J5/12 ,  G01J5/52 ,  G01K7/00 ,  G01N33/28

CPC classification number: G01J5/10 ,  G01J3/0243 ,  G01J5/0037 ,  G01J5/026 ,  G01J5/0806 ,  G01J5/0846 ,  G01J5/0875 ,  G01J5/0893 ,  G01J5/12 ,  G01J5/522 ,  G01J2005/0048 ,  G01J2005/0074 ,  G01N33/2823

Abstract: 用于测量原油的API比重的设备，其包括：用于油的管道(1)；在管道中的热电偶(4)，所述热电偶(4)用于测量与其接触的油的温度；在管道中的蓝宝石窗(3)；用于通过窗测量油之温度的红外温度计(5，6)；以及用于比较通过温度计测得的温度之测量结果以获得原油的发射率度量并且从而获得其API比重的装置(20)。

公开(公告)号：CN102221410B

公开(公告)日：2016-03-09

申请号：CN201110073043.9

申请日：2011-03-25

Applicant: 特斯托股份公司

Inventor： M·斯特拉特曼 ,  S·欣克尔 ,  D·奥尔 ,  P·查恩 ,  A·梅塞施米德

IPC: G01J5/10 ,  G01J5/02

CPC classification number: G01J5/522 ,  G01J5/02 ,  G01J5/025 ,  G01J5/0265 ,  G01J5/08 ,  G01J5/0859 ,  G01J5/089 ,  G01J2005/0074 ,  G01J2005/0077

Abstract: 在温度测量设备(1)中设有IR辐射探测器(2)和与一物体(7)的表面良好传热地连接的基准元件(3)，其中在基准元件(3)上构造有具有高发射率的第一区域(4)和具有高反射率的第二区域(5)并且IR辐射探测器(2)设置用于单独地检测各区域(4、5)和物体(7)的表面区域(12)的IR辐射(9、10、11)，其中在IR辐射探测器(2)中构造有计算装置(13)，所述计算装置设置用于由检测的IR辐射(9、10、11)得出物体(7)的发射和反射校正的温度值。

公开(公告)号：CN103968955A

公开(公告)日：2014-08-06

申请号：CN201410044846.5

申请日：2014-02-07

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 内井敏之 ,  森正

IPC: G01J5/10

CPC classification number: G01J5/0014 ,  G01J5/06 ,  G01J5/0821 ,  G01J5/0896 ,  G01J5/602 ,  G01J2005/0051 ,  G01J2005/0074 ,  G01K11/12

Abstract: 提供一种使用测定对象物的放射光谱高精度地测定温度的温度测定装置。根据实施方式，温度测定装置具有采光单元、提取单元、光强度计算单元以及温度测定单元。采光单元对测定对象物的放射光谱进行采光。提取单元从所述采光单元所采光得到的放射光谱提取具有原子线光谱的波长的光和具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的光。光强度计算单元计算所述提取单元所提取出的各光的强度。温度测定单元基于所述光强度计算单元所计算出的各光的强度计算所述测定对象物的温度。

公开(公告)号：CN102221410A

公开(公告)日：2011-10-19

申请号：CN201110073043.9

申请日：2011-03-25

Applicant: 特斯托股份公司

Inventor： M·斯特拉特曼 ,  S·欣克尔 ,  D·奥尔 ,  P·查恩 ,  A·梅塞施米德

IPC: G01J5/10 ,  G01J5/02

CPC classification number: G01J5/522 ,  G01J5/02 ,  G01J5/025 ,  G01J5/0265 ,  G01J5/08 ,  G01J5/0859 ,  G01J5/089 ,  G01J2005/0074 ,  G01J2005/0077

Abstract: 在温度测量设备(1)中设有IR辐射探测器(2)和与一物体(7)的表面良好传热地连接的基准元件(3)，其中在基准元件(3)上构造有具有高发射率的第一区域(4)和具有高反射率的第二区域(5)并且IR辐射探测器(2)设置用于单独地检测各区域(4、5)和物体(7)的表面区域(12)的IR辐射(9、10、11)，其中在IR辐射探测器(2)中构造有计算装置(13)，所述计算装置设置用于由检测的IR辐射(9、10、11)得出物体(7)的发射和反射校正的温度值。

公开(公告)号：CN103968955B

公开(公告)日：2017-01-11

申请号：CN201410044846.5

申请日：2014-02-07

Applicant: 株式会社东芝

Inventor： 内井敏之 ,  森正

IPC: G01J5/10

CPC classification number: G01J5/0014 ,  G01J5/06 ,  G01J5/0821 ,  G01J5/0896 ,  G01J5/602 ,  G01J2005/0051 ,  G01J2005/0074 ,  G01K11/12

Abstract: 提供一种使用测定对象物的放射光谱高精度地测定温度的温度测定装置。根据实施方式，温度测定装置具有采光单元、提取单元、光强度计算单元以及温度测定单元。采光单元对测定对象物的放射光谱进行采光。提取单元从所述采光单元所采光得到的放射光谱提取具有原子线光谱的波长的光和具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的光。光强度计算单元计算所述提取单元所提取出的各光的强度。温度测定单元基于所述光强度计算单元所计算出的各光的强度计算所述测定对象物的温度。

公开(公告)号：CN104122297A

公开(公告)日：2014-10-29

申请号：CN201410168287.9

申请日：2014-04-24

Applicant: 株式会社捷太格特

Inventor： 松本直树 ,  吉田航也 ,  松本顺

IPC: G01N25/72

CPC classification number: G01N25/72 ,  B23K26/032 ,  B23K31/125 ,  G01J2005/0074 ,  G01K15/005 ,  G01N21/63 ,  G01N21/71 ,  G01R31/048 ,  G01R31/308 ,  H01L2224/48472 ,  H01L2224/73257 ,  H01L2224/859

Abstract: 本发明提供一种光学非破坏检查装置以及光学非破坏检查方法，可测定的温度范围较宽的能在短时间内高可靠性地检查引线结合处等测定对象物，光学非破坏检查装置具备聚光准直装置、加热用激光源、加热用激光导光装置、红外线检测器、放射红外线导光装置、第一、第二修正用激光源、第一、第二修正用激光导光装置、第一、第二修正用激光检测器、第一、第二反射激光导光装置以及控制装置。控制装置控制加热用激光源、第一第二修正用激光源并基于来自红外线检测器的检测信号和来自第一、第二修正用激光检测器的检测信号，测定与加热时间对应的测定点的温度上升状态亦即温度上升特性，基于测定出的温度上升特性判定测定对象物的状态。