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公开(公告)号：CN113063273A
公开(公告)日：2021-07-02
申请号：CN202110435564.8
申请日：2021-04-22
申请人： 张建平
发明人： 张建平
摘要： 本发明公开了一种方便入料的芯片生产用烘干装置及烘干方法，涉及芯片制备设备技术领域，包括烘干箱，所述烘干箱内腔设有烘干组件，且烘干组件底部设有偏振机构，所述烘干箱顶部两侧均通过卡接机构活动连接有盖板，且盖板顶部连通有入料机构。本发明通过设计的入料机构，当芯片通过顶部入料辊掉入入料软管后，入料软管能够引导芯片掉入放置座内，放置座能够通过两侧抽真空嘴进行贴合，一侧抽真空泵能够通过抽真空软管和抽真空支管对连通管和连通支管进行抽真空，此时一侧抽真空嘴能够对芯片进行吸附定位，进而能够显著提高芯片入料稳定性，并且能够保证干燥时对芯片的真空吸附固定效果，满足入料固定稳定性。
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公开(公告)号：CN118763013A
公开(公告)日：2024-10-11
申请号：CN202411215577.4
申请日：2024-09-02
申请人： 深圳市耀星微电子有限公司
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/677
摘要： 本发明公开了一种双通道芯片检测设备，属于芯片生产技术领域；包括工作台以及固定安装在工作台上侧的传送组件，所述工作台上侧对称安装有两组移动板，两组所述移动板上侧均匀固定连接有多组摄像头，所述工作台上侧安装有用来调整移动板位置的调控组件，所述调控组件包括固定安装在工作台上侧的四个夹板，四个所述夹板两两一组呈对称设置。本发明在对双通道芯片进行检测的过程中，先对双通道芯片的运动范围进行简单的限制，使双通道芯片只能在两个移动板之间进行移动，然后在双通道芯片移动的过程中，三角板会和双通道芯片发生碰撞，使双通道芯片相对于传输带进行移动，在利用摄像头进行拍摄的过程中，减少拍摄死角的产生。
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公开(公告)号：CN114550795A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202210295061.X
申请日：2022-03-24
申请人： 深圳市耀星微电子有限公司
摘要： 本发明公开了一种用于测试LPDDR4颗粒的平台开发系统及控制方法，包括：电源模块、测试主控模块和LPDDR4测试模块，所述电源模块与监测电脑电连接，所述电源模块设置在电源载板上，所述电源载板上还设置有第一连接座，所述测试主控模块设置在测试核心载板上，所述测试核心载板上还设置有第二连接座和第三连接座，所述第二连接座与所述第一连接座之间电连接，所述LPDDR4测试模块设置于待测载板上，所述待测载板上还设置有第四连接座，所述第四连接座与所述第三连接座电连接，所述待测载板上装载LPDDR4颗粒待测物；本发明由三个载板组成，能方便对载板进行更换，降低了成本，具有良好的市场应用价值。
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公开(公告)号：CN117251329A
公开(公告)日：2023-12-19
申请号：CN202311531394.9
申请日：2023-11-17
申请人： 深圳市耀星微电子有限公司
IPC分类号： G06F11/22
摘要： 本申请涉及一种基于ARM架构处理器的DRAM测试设备和方法，设备包括被测设备板、核心板、电源模块、控制板和上位机，被测设备板用于安装被测DRAM；核心板上具有基于ARM架构的CPU；电源模块用于为被测设备板和核心板供电；上位机用于发出对被测DRAM的测试指令，测试指令携带基于C语言的测试脚本；控制板上具有控制CPU，控制CPU接收来自上位机的测试指令后，控制电源模块对被测设备板和核心板的供电电压，以及将基于C语言的测试脚本发送至核心板上的基于ARM架构的CPU，由基于ARM架构的CPU使用被测DRAM执行基于C语言的测试脚本并产生测试结果，由控制CPU将测试结果发送至上位机。根据本发明，对DRAM的测试具有成本低、精度高、易于实现的优点。
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公开(公告)号：CN115808611B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202211600943.9
申请日：2022-12-13
申请人： 深圳市耀星微电子有限公司
摘要： 本发明涉及集成电路测试技术领域，提供了一种集成电路测试系统，包括：主控模块、信号发生模块、输出信号检测模块、人机交互模块和存储模块，所述信号发生模块的受控端与所述主控模块连接，输出端适于与待测物的输入端连接，用于对所述待测物发出测试输入信号，所述输出信号检测模块的输出端与所述主控模块连接，输入端适于与所述待测物连接，用于检测所述待测物的信号状态，并将所述信号状态传递至主控模块，所述人机交互模块与所述主控模块连接，所述存储模块与所述主控模块连接，用于存储所述待测物的检测信息以及对应的信号状态信息；本发明能实现对不同型号的待测物内的集成电路的自动化检测和统计。
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公开(公告)号：CN113063273B
公开(公告)日：2023-05-19
申请号：CN202110435564.8
申请日：2021-04-22
申请人： 深圳市耀星微电子有限公司
发明人： 张建平
摘要： 本发明公开了一种方便入料的芯片生产用烘干装置及烘干方法，涉及芯片制备设备技术领域，包括烘干箱，所述烘干箱内腔设有烘干组件，且烘干组件底部设有偏振机构，所述烘干箱顶部两侧均通过卡接机构活动连接有盖板，且盖板顶部连通有入料机构。本发明通过设计的入料机构，当芯片通过顶部入料辊掉入入料软管后，入料软管能够引导芯片掉入放置座内，放置座能够通过两侧抽真空嘴进行贴合，一侧抽真空泵能够通过抽真空软管和抽真空支管对连通管和连通支管进行抽真空，此时一侧抽真空嘴能够对芯片进行吸附定位，进而能够显著提高芯片入料稳定性，并且能够保证干燥时对芯片的真空吸附固定效果，满足入料固定稳定性。
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公开(公告)号：CN118198982A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410328974.6
申请日：2024-03-21
申请人： 深圳市耀星微电子有限公司
摘要： 本发明属于芯片测试技术领域，具体涉及一种用于芯片测试的电路保护机制，包括总电源，所述总电源的接线端连接有第一可恢复保险电阻，所述第一可恢复保险电阻的接线端连接有第一ADC电压电流检测芯片，所述第一ADC电压电流检测芯片的接线端连接有电源控制芯片。本发明提出采用可恢复保险电阻+ADC电压电流检测芯片的结构，其中可恢复保险电阻只要两端电压差超出合理范围便会立刻做出反应，并自动断开，等待ADC电压电流检测芯片检测异常后并完成中断后恢复，从而防止因ADC电压电流检测芯片从检测异常到中断的时长过长，被测物（LPDDR5）没能及时断电而导致过载损毁，并且可恢复保险电阻在板端可以重复使用，相比一次性的保险管节省了更换的时间。
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公开(公告)号：CN118763013B
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN202411215577.4
申请日：2024-09-02
申请人： 深圳市耀星微电子有限公司
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/677
摘要： 本发明公开了一种双通道芯片检测设备，属于芯片生产技术领域；包括工作台以及固定安装在工作台上侧的传送组件，所述工作台上侧对称安装有两组移动板，两组所述移动板上侧均匀固定连接有多组摄像头，所述工作台上侧安装有用来调整移动板位置的调控组件，所述调控组件包括固定安装在工作台上侧的四个夹板，四个所述夹板两两一组呈对称设置。本发明在对双通道芯片进行检测的过程中，先对双通道芯片的运动范围进行简单的限制，使双通道芯片只能在两个移动板之间进行移动，然后在双通道芯片移动的过程中，三角板会和双通道芯片发生碰撞，使双通道芯片相对于传输带进行移动，在利用摄像头进行拍摄的过程中，减少拍摄死角的产生。
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公开(公告)号：CN117219151A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311112764.5
申请日：2023-08-31
申请人： 深圳市耀星微电子有限公司
摘要： 本发明涉及DRAM高温低温测试技术领域，且公开了一种无需制冷剂与冷媒的DRAM高温低温测试方法，包括涡流管、散热鳍铜片、STM32控制器、废气利用模块和自动化机台，涡流管为核心部件，外部与空压机通过气管相连，内部通过散热鳍铜片与测试压块相连，测试压块上有温度传感器，将信号传给STM32控制器。该无需制冷剂与冷媒的DRAM高温低温测试方法，首次将涡流原理利用到DRAM测试机上。不需要任何制冷剂，可连续工作，没有污染源没有旋转部件，不会产生回转效应，没有滑动部件是一种固体片件，工作时没有震动、噪音、寿命长，安装容易，无需供电仅需提供压缩空气即可制冷，而压缩空气是自动化机台均必备的输入资源，故在所有机台上均可顺利安装使用。
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