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公开(公告)号：CN113423342B
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202080013868.9
申请日：2020-01-28
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 汉斯·波拿佛克 , 弗雷德里克·格洛伯格
Abstract: 提供了一种用于具有x射线源和x射线检测器的x射线成像系统的校准体模。该校准体模(5)包括至少三种不同类型和/或组成的几何物体(1，2，3)的组合，这些几何物体包括：‑位于中间的第一物体(1)，包括第一材料；‑围绕该第一物体的外围布置的多个第二物体(2)，该多个第二物体的至少一个子集包括不同于该第一材料的第二材料，其中，该第一物体相对大于这些第二物体；‑围绕该第一物体的外围和/或围绕这些第二物体的至少一个子集的外围布置的多个第三物体(3)，该多个第三物体的至少一个子集包括不同于该第一材料和该第二材料的第三材料，其中，这些第三物体相对小于这些第二物体。
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公开(公告)号：CN113507889B
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN201980092561.X
申请日：2019-12-06
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 汉斯·波拿佛克 , 弗雷德里克·格洛伯格 , 马特斯·丹尼尔松
Abstract: 提供了一种用于x射线成像的装置(100)，该装置包括x射线源(10)和具有多个检测器元件的x射线检测器(20)，其中，该x射线源(10)和该x射线检测器(20)被布置在能够围绕要成像的受试者或物体旋转的支撑物上，以实现在不同视角下的一组投影。该装置(100)被配置为在切换kVp模式下操作x射线源(10)，用于在旋转期间交替地施加包括较低电压和较高电压的至少两个不同的电压，以在该组投影上实现较低能量和较高能量的曝光，从而提供较低能量的投影和较高能量的投影。该x射线检测器(20)是光子计数多仓检测器，被配置为将光子计数分配给多个能量仓，并且该装置被配置为从这些能量仓的至少一个子集中选择计数，以便为较低能量的投影和较高能量的投影二者提供对应的光子计数信息。该装置(100)被配置为基于该对应的光子计数信息，针对多个较低能量的投影和较高能量的投影中的每个投影和/或针对至少一个较低能量的投影与至少一个较高能量的投影的多个组合中的每个组合来执行材料基础分解。
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公开(公告)号：CN117355865A
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202280035278.5
申请日：2022-04-06
Applicant: 棱镜传感器公司
IPC: G06T11/00
Abstract: 提供了一种用于确定用于计算机断层扫描即CT中的机器学习图像重建的一个或多个置信度指示的方法和系统。该方法包括获取(S1)能量分辨X射线数据，以及基于至少一个机器学习系统来处理(S2)该能量分辨X射线数据以生成至少一个重建的基图像或其图像特征的后验概率分布的表示。该方法还包括基于后验概率分布的该表示来生成(S3)用于以下各项的一个或多个置信度指示：所述至少一个重建的基图像、或者源自所述至少一个重建的基图像的至少一个衍生图像、或者所述至少一个重建的基图像或所述至少一个衍生图像的图像特征。
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公开(公告)号：CN109844568B
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN201680088837.3
申请日：2016-08-31
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 马丁·舍林
Abstract: 公开了用于估计转换器(200)的增益和偏移的度量的方法、系统、装置和计算机程序。该转换器用于基于数字设置生成参考电压，该参考电压将被x射线成像系统中的光子计数检测器中的比较器(10，20)用作阈值。该方法包括选择(S1)第一转换器充当参考转换器(100)和第二转换器充当目标转换器(200)的步骤。该方法还包括将不同的数字设置分配(S2)给参考转换器(100)以便通过与参考转换器(100)相关联的比较器生成至少两个不同的参考电压(R)以用作阈值的步骤。该方法还包括以下步骤：基于光子计数测量，获得(S3)表示在与比较器(20)相关联的光子计数器中登记的光子数量的信息，该比较器(20)的参考电压由目标转换器(200)生成。基于所获得的表示光子数量的信息和至少两个数字设置，该方法确定目标转换器相对于参考转换器的增益和偏移的估计。
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公开(公告)号：CN113423342A
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN202080013868.9
申请日：2020-01-28
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 汉斯·波拿佛克 , 弗雷德里克·格洛伯格
Abstract: 提供了一种用于具有x射线源和x射线检测器的x射线成像系统的校准体模。该校准体模(5)包括至少三种不同类型和/或组成的几何物体(1，2，3)的组合，这些几何物体包括：‑位于中间的第一物体(1)，包括第一材料；‑围绕该第一物体的外围布置的多个第二物体(2)，该多个第二物体的至少一个子集包括不同于该第一材料的第二材料，其中，该第一物体相对大于这些第二物体；‑围绕该第一物体的外围和/或围绕这些第二物体的至少一个子集的外围布置的多个第三物体(3)，该多个第三物体的至少一个子集包括不同于该第一材料和该第二材料的第三材料，其中，这些第三物体相对小于这些第二物体。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110678782A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201880032096.6
申请日：2018-05-08
Applicant: 棱镜传感器公司
IPC: G01T1/24
Abstract: 公开了一种边缘接通光子计数检测器以及用于制造这种检测器的电荷收集侧的方法。边缘接通光子计数检测器包括半导体衬底。该半导体衬底包括：适于面对x射线源的第一端和在入射x射线的方向上与第一端相对的第二端；以及至少一个具有N个深度片段的条带，N＞2，每个深度片段包括电荷收集金属电极和包括掺杂区和绝缘区的电荷收集侧，其中，每个电荷收集金属电极布置在相应的掺杂区上方，并且连接到布置在绝缘区上的相应的布线迹线，相应的布线迹线适于将来自电荷收集金属电极的信号传导至布置在第二端的能连接至前端电子设备的读出焊盘E。
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公开(公告)号：CN110651302A
公开(公告)日：2020-01-03
申请号：CN201880033506.9
申请日：2018-05-08
Applicant: 棱镜传感器公司
Inventor： 马茨·佩松
IPC: G06T11/00 , G01N23/04 , G01N23/087 , A61B6/03
Abstract: 公开了一种使用从包括至少一个光子计数检测器的成像系统测量的x射线数据重建图像数据的方法。该方法包括获得由所述光子计数检测器测量的数据的表示的步骤。该方法还包括使用第一算法根据基于投影的第一泛函生成第一图像数据的步骤，所述基于投影的第一泛函取决于所述数据的表示。该方法还包括基于第二泛函更新所述第一图像数据以获得第二图像数据的步骤，该第二泛函包括所述基于投影的第一泛函中不包括的至少一个物理效果的模型。本公开还提供了被配置为使用从包括至少一个光子计数检测器的成像系统测量的x射线数据重建图像数据的图像处理设备以及对应的计算机程序。
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公开(公告)号：CN110869811B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN201880043400.7
申请日：2018-06-20
Applicant: 棱镜传感器公司
Abstract: 本发明提供了一种用于管理X射线成像系统中的几何失准的方法，该X射线成像系统具有X射线源、光子计数的X射线检测器和在X射线源和X射线检测器之间的X射线路径上的中间准直器结构。X射线检测器包括多个像素，并且准直器结构包括多个准直器单元，其中准直器单元的至少一个子集中的每一个对应于像素的N×M矩阵，其中N和M中的至少一个大于1。该方法包括：针对包括至少两个像素的指定像素子集，监测(S1)来自指定像素子集的像素的输出信号，该至少两个像素由于几何失准而受到来自所述准直器结构的阴影的不同影响；以及基于来自所述指定像素子集的所述像素的所述监测输出信号来确定(S2)几何失准的发生。
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公开(公告)号：CN116724251A
公开(公告)日：2023-09-08
申请号：CN202080106216.X
申请日：2020-08-18
Applicant: 棱镜传感器公司
IPC: G01T1/172
Abstract: 提供了一种X射线检测器系统(5)，该X射线检测器系统包括用于检测来自X射线源的X射线辐射的光子计数X射线检测器(20)，以及被配置为基于关于所述X射线检测器中的光子相互作用的时间的信息和关于该X射线源相对于该X射线检测器的定位的信息，来确定和/或获得关于入射在该X射线检测器上的该辐射的信息的符合检测系统(60)。还提供了包括这样的X射线检测器系统的X射线成像系统，以及对应的符合检测系统和对应的方法。
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