公开(公告)号：CN102291106A

公开(公告)日：2011-12-21

申请号：CN201110140218.3

申请日：2011-05-27

Applicant: NXP股份有限公司

Inventor： 多米尼克斯·M·罗泽博姆 ,  莎拉德·穆拉里 ,  哈尔德·G·汉森

IPC: H03K5/153 ,  G01R31/02

CPC classification number: H03K19/017581 ,  H03K5/24 ,  H03K19/173 ,  H03M1/365

Abstract: 本发明提供了一种状态检测电路，便于相对于多种不同类型的输入电路来检测输入引脚的状态。根据示例实施例，状态检测电路包括多个比较器和电路组件，所述多个比较器和电路组件被配置为提供多个二进制输出信号，所述多个二进制输出信号一起指示了与比较器耦合的输入引脚的状态。状态检测电路被配置为便于基于二进制输出信号来检测多种不同类型的输入电路。

公开(公告)号：CN102034797A

公开(公告)日：2011-04-27

申请号：CN201010281108.4

申请日：2010-09-09

Applicant: NXP股份有限公司

Inventor： 詹姆斯·雷蒙德·斯佩哈 ,  克里斯蒂安·帕克特 ,  韦恩·A·努恩 ,  多米尼克斯·M·罗泽博姆 ,  约瑟夫·E·舒尔茨 ,  法特哈·卡尔萨

IPC: H01L23/66 ,  H01L21/60

CPC classification number: G06F17/5045 ,  H01L23/66 ,  H01L24/06 ,  H01L24/48 ,  H01L24/49 ,  H01L24/85 ,  H01L25/0655 ,  H01L2223/6611 ,  H01L2223/6638 ,  H01L2224/05554 ,  H01L2224/05599 ,  H01L2224/45015 ,  H01L2224/48011 ,  H01L2224/48137 ,  H01L2224/48247 ,  H01L2224/48257 ,  H01L2224/484 ,  H01L2224/49171 ,  H01L2224/85399 ,  H01L2924/00014 ,  H01L2924/01005 ,  H01L2924/01006 ,  H01L2924/01014 ,  H01L2924/01015 ,  H01L2924/01023 ,  H01L2924/01033 ,  H01L2924/01082 ,  H01L2924/14 ,  H01L2924/19041 ,  H01L2924/19107 ,  H01L2924/20752 ,  H01L2924/30107 ,  H01L2924/3011 ,  H01L2924/30111 ,  H01L2224/45099 ,  H01L2924/00

Abstract: 高带宽电路分割为多个部分，每一个部分在相应的半导体芯片上实现，生成针对每一个相应芯片的一个或更多管芯键合焊盘的布置，并且生成每一个相应芯片的芯片位置，生成给定封装和给定封装I/O布置，所述管芯键合布置和所述芯片位置的生成与给定芯片封装参数相关，并且被生成用于建立满足给定特征阻抗参数的键合线长度。提供用于生成所述分割的边界参数，该边界参数包括所述部分的数目的限度，并且可选地包括所述相应半导体芯片的面积参数的限度。