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公开(公告)号：CN119478362A
公开(公告)日：2025-02-18
申请号：CN202411557928.X
申请日：2024-11-04
Applicant: 长春理工大学
IPC: G06V10/25 , G06V10/40 , G06V10/80 , G06V10/82 , G06V10/766 , G06V20/17 , G06N3/0464 , G06N3/045 , G06N3/08
Abstract: 本发明属于图像处理技术领域，具体为“无人机视角下的双光图像目标检测方法”，构建双光图像目标检测模型，包括双光特征提取与融合网络、特征金字塔网络和旋转目标检测头部网络，对无人机视角下的可见光和红外光图像数据对进行预处理；将预处理后的图像对输入至双光特征提取与融合网络中，得到不同层次的融合特征图；将不同层次的融合特征图输入至特征金字塔网络中，输出多尺度融合特征图；将多尺度融合特征图输入至旋转目标检测头部网络中，回归得到无人机视角下目标的旋转包围框、类别及置信度，双光特征提取与融合网络增强了在复杂环境下的目标检测能力，旋转包围框回归策略解决了现有的水平包围框在目标旋转时定位不准的问题。
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公开(公告)号：CN101101332A
公开(公告)日：2008-01-09
申请号：CN200710055715.7
申请日：2007-06-05
Applicant: 长春理工大学
Abstract: 本发明涉及CCD激光经纬仪动态雷达标校方法。本发明的方法的测量系统采用激光测距机1、经纬仪2、CCD相机3、GPS授时4完成对舰载雷达坐标动态标校，与以往使用的经纬仪和水平仪实现舰载雷达标校不同，达到标校仪器使用新颖；同时标校过程中将UTM坐标和WGS-84坐标之间的转换公式应用到舰载雷达动态标校上来，实现标校方法是独特的。实现高精度测量，测量精度达到：角度精度为10秒，位置精度为0.5m。同时系统在操作过程中最少只需要2个人即可完成，可以节省大量人力和物力；使用CCD相机对雷达馈源状态进行记录便于实时和事后分析处理。解决机载，岸基，舰载雷达标校仪器统一的问题。
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公开(公告)号：CN119676559A
公开(公告)日：2025-03-21
申请号：CN202411733173.4
申请日：2024-11-29
Applicant: 长春理工大学
IPC: H04N23/68 , G06F17/16 , G06F17/11 , G06N3/088 , G06V10/46 , G06N3/0464 , G06V10/80 , G06N3/084 , G06V10/82 , G06V20/40
Abstract: 本发明涉及一种视频稳定方法、装置、处理设备及存储介质，属于图像处理技术领域，其中视频稳定方法包括以下步骤：使用IMU传感器采集相机的IMU数据序列，生成IMU帧间变换场；针对图像序列利用基于轨迹的无监督网络结构生成图像帧间变换场；利用训练好的融合网络将IMU帧间变换场和图像帧间变换场进行融合形成稳定帧间变换场；使用稳定帧间变换场对不稳定视频进行变换，生成稳定的视频输出。本发明利用IMU传感器采集相机的全局运动，不受场景局部运动和图像质量的影响，同时基于图像数据估算每个像素的运动，能解决场景中不同深度下运动不一致的问题，提高稳像的成功率和稳定性。
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公开(公告)号：CN119438140A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411556696.6
申请日：2024-11-04
Applicant: 长春理工大学
Abstract: 本发明涉及光学测量技术领域，具体为一种基于计算成像的多尺度散射光场同步测量方法，整体测量光学系统包括半球形散射穹顶、非球面反射镜、探测系统，所述探测系统包括探测光学组件和探测器，包括采集待测目标体多尺度散射光场信息以及对采集到的多尺度散射光场信息数据进行光场信息解译处理，整体测量光学系统为不同物距成像的大视场、大景深光学系统，属于一种离轴折返式光学系统，通过光学器件替代复杂机械运动结构，实现无需运动机构的待测目标体表面多尺度散射光场同步“快照式”测量。
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公开(公告)号：CN107705287B
公开(公告)日：2019-10-18
申请号：CN201710739647.X
申请日：2017-08-24
Applicant: 长春理工大学
Abstract: 本发明涉及一种具有中心对称分布规律的工业产品的缺损检测方法，其特征在于具体步骤如下：获取图像上的感兴趣区域，及感兴趣区域的中心点坐标；对感兴趣区域的边缘图进行霍夫变换；对变换的结果有条件的向投票空间投票，对上述的二维投票空间向角度方向上投影，转化为一维的数据，其数据表现为离散的波峰波谷规律，其中每个波峰代表一个被检测的目标，判别波峰是否有效，对有效峰值进行求取对应的值，再在投票空间获取对应的的最大值，至此可以用直线可以标识出被检测目标的位置。这样工业产品缺损就转化为对波峰个数的判别，从而更简单的检测出产品的缺损情况，提高了抗干扰性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106251305B
公开(公告)日：2019-04-30
申请号：CN201610609729.8
申请日：2016-07-29
Applicant: 长春理工大学
Abstract: 本发明涉及一种基于惯性测量单元IMU的实时电子稳像方法，其特征在于：将IMU和摄像机触发时间同步模型，将标定在同一坐标系下的IMU和摄像机同时进行运动，通过在运动过程中两坐标系产生的拐点信息进行时间配准，其具体步骤如下：其通过对IMU与摄像机坐标系之间的相对位姿标定，再通过IMU感知的自身姿态变化数据作为前后帧运动补偿的依据，进而完成电子稳像的过程；是一种不依赖于场景图像特征的电子稳像方法；尤其能有效应对场景复杂或单一而导致的特征信息匹配不准确或缺失的情况。本发明提出了IMU和摄像机的相对位姿标定，解决了IMU坐标系和摄像机坐标系之间的转换。
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公开(公告)号：CN108072662A
公开(公告)日：2018-05-25
申请号：CN201711104096.6
申请日：2017-11-10
Applicant: 长春理工大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供了一种基于视觉的排针检测缺损方法及装置，该排针检测缺损方法包括以下步骤：获取模板图像；将模板图像根据排针检测算法得到排针的模式串信息，作为排针的位置模板；获取待检测图像，获取待检测图像的排针模式串信息；将待检测图像的排针模式串与模板排针模式串进行匹配，返回待检测排针是否合格，如果不合格返回排针中错插，漏插或多插针的位置。上述排针检测缺损方法能够实现排针的自动检测，检测效率高，能够极大提高排针合格检测的效率，有效降低人工劳动强度，方便厂家快速、准确完成排针质量检测。同时，本发明还给出了一种排针检测缺损装置。
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公开(公告)号：CN107705287A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201710739647.X
申请日：2017-08-24
Applicant: 长春理工大学
Abstract: 本发明涉及一种具有中心对称分布规律的工业产品的缺损检测方法，其特征在于具体步骤如下：获取图像上的感兴趣区域，及感兴趣区域的中心点坐标；对感兴趣区域的边缘图进行霍夫变换；对变换的结果有条件的向投票空间投票，对上述的二维投票空间向角度方向上投影，转化为一维的数据，其数据表现为离散的波峰波谷规律，其中每个波峰代表一个被检测的目标，判别波峰是否有效，对有效峰值进行求取对应的值，再在投票空间获取对应的最大值，至此可以用直线可以标识出被检测目标的位置。这样工业产品缺损就转化为对波峰个数的判别，从而更简单的检测出产品的缺损情况，提高了抗干扰性。
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公开(公告)号：CN104333675B
公开(公告)日：2017-09-05
申请号：CN201410556402.X
申请日：2014-10-20
Applicant: 长春理工大学
Abstract: 本发明涉及一种基于球面投影的全景电子稳像方法，其特征在于电子稳像实现步骤如下：全景电子稳像预处理，基于高斯投影的球面图像映射与展开，基于SFM算法的欧拉角，转动3D球体空间达到稳像效果，该方法是基于高斯投影的球面图像映射/展开与基于SFM算法的欧拉角求解相结合的一种稳像技术，该技术采用的全景影像的球面投影方式，有效地解决了全景成像平面和球体曲面间的坐标转换；并且，该技术中将全景相机系统中每个相机的坐标系统统一到一个坐标系统，有效解决了由于全景相机系统中每个相机因为运动变化不同无法准确定位整体运动的问题。
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公开(公告)号：CN119625241A
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202411730598.X
申请日：2024-11-29
Applicant: 长春理工大学
IPC: G06V10/143 , G06V10/145 , G06V10/20 , G06V10/26 , G06V20/70 , G06V10/54 , G06V10/82 , G06N3/0475 , G06N3/08 , G01N21/88 , G01N21/01
Abstract: 本发明涉及一种用于机器视觉的光源波段自动推荐方法及系统，其中方法包括步骤：调整高角度环形光源的色调，彩色工业相机采集每次调整后的目标物图像；标注目标物图像；分割缺陷图像；求取缺陷图像的纹理特征向量的样本平均值；彩色工业相机采集白光下的目标物图像，通过对抗网络中的生成器生成RGB图像并求取其纹理特征向量的平均值；通过对抗网络的鉴别器，判断两个平均值是否达到一个相互对抗、纳什均衡的状态，若是则判定生成器生成的虚拟光源是最优光源，输出该虚拟光源的RGB数值作为对应缺陷类别下的推荐光源波段。本发明实现了对光源的自动选择，能够更好的提高在缺陷检测中最大化图像信息的获取，大大提高了缺陷检测的准确程度。
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