一种评估实验室测试性能的方法、装置及电子设备

    公开(公告)号:CN118534398A

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202410729960.5

    申请日:2024-06-06

    Abstract: 本发明提供了一种评估实验室测试性能的方法、装置及电子设备,该方法为:获取信号源在各个实验室外发射的第一整数频率点对应的第一电场数据;利用第一整数频率点对应的第一电场数据,计算得到每个实验室对应的信号源评价分数;若每个信号源评价分数均大于第一分数阈值,获取信号源在各个实验室内发射的第二整数频率点对应的第二电场数据;利用第二整数频率点对应的第二电场数据,计算得到每个实验室对应的实验室评价分数,通过计算得到的实验室评价分数来表征实验室的测试性能,进而可确保实验室测试数据的可靠性和可追溯性。

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