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公开(公告)号:CN117825852A
公开(公告)日:2024-04-05
申请号:CN202410014885.4
申请日:2024-01-04
Applicant: 重庆平伟实业股份有限公司
Abstract: 本发明提供一种P型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试系统,其包括:控制模块用于提供第二控制信号,并将第二控制信号传输至运放模块;控制模块用于输出电压信号至第一开关模块;运放模块用于对第二控制信号进行处理;第一开关模块用于根据电压信号控制自身的开启或关闭;第二开关模块用于将处理后的第二控制信号传输给测试模块;测试模块用于连接待测P型MOSFET,并测试待测P型MOSFET的线性区SOA抗冲击能力;采样模块用于采集自身电压信号;第二电源模块用于根据开关控制信号控制自身的打开或关闭,并接收第一数据信号,并根据第一数据信号输出第二数据信号至测试模块。本发明还提供一种P型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试方法。
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公开(公告)号:CN117783802A
公开(公告)日:2024-03-29
申请号:CN202311715497.0
申请日:2023-12-13
Applicant: 重庆平伟实业股份有限公司
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明提供一种N型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试系统,其包括:第一电源模块用于为控制模块和恒流模块提供工作电压;控制模块用于提供模拟控制信号,并输出模拟控制信号至恒流模块;恒流模块用于对所述模拟控制信号进行处理;开关模块用于根据电压信号控制自身的开启或关闭;测试模块用于连接待测N型MOSFET,并测试待测MOSFET的线性区SOA抗冲击能力;采样模块用于采集自身电压信号;第二电源模块用于根据开关控制信号控制自身的开启或关闭,并接收参数信号,并根据参数信号输出数据信号至所述测试模块;第二电源模块还用于将数据信号实时传输至控制模块。本发明还提供一种N型MOSFET线性区SOA抗冲击能力的测试方法。
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公开(公告)号:CN117423668A
公开(公告)日:2024-01-19
申请号:CN202311391331.8
申请日:2023-10-24
Applicant: 重庆平伟实业股份有限公司
IPC: H01L23/367 , H01L25/07 , H01L21/50
Abstract: 本申请提供一种DrMOS的双面散热结构及其制作方法,所述双面散热结构包括:金属框架;金属引脚,设置于所述金属框架外侧,并与所述金属框架分隔开;驱动芯片,设置于所述金属框架上;两个晶体管,其分别设置于所述金属框架上,并与所述驱动芯片电性连接,所述驱动芯片和所述晶体管通过键合线与所述金属引脚键合;散热片,跨接在所述两个晶体管背离所述金属框架的一侧。本申请可提高器件的散热性能,保证器件运行的稳定性。
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公开(公告)号:CN117476633A
公开(公告)日:2024-01-30
申请号:CN202311391319.7
申请日:2023-10-24
Applicant: 重庆平伟实业股份有限公司
IPC: H01L25/18 , H01L23/495 , H01L21/60 , H02M7/00 , H02M1/42
Abstract: 本申请提供一种功率芯片、功率芯片制作方法及功率因数校正电路,该功率芯片包括:晶体管和二极管;框架,其包括相互独立的第一基岛和第二基岛,所述晶体管设置于所述第一基岛上,且所述晶体管的源极与所述第一基岛电性连接,所述二极管设置于所述第二基岛上,所述二极管的正端分别连接所述第二基岛和所述晶体管的漏极,所述二极管的负端作为输出端;金属引脚,设置于所述框架的侧方,以引出所述晶体管的栅极和所述输出端;封装体,用于覆盖所述第一基岛、所述第二基岛、所述晶体管以及所述二极管。本申请可有效减少PFC电路中器件的占板面积,提高器件的稳定性。
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公开(公告)号:CN117081024A
公开(公告)日:2023-11-17
申请号:CN202311280218.2
申请日:2023-09-28
Applicant: 重庆平伟实业股份有限公司
Abstract: 本申请提供一种直流过压浪涌抑制电路及方法,该电路包括:直流供电回路,包括第一直流电源,开关及负载,第一直流电源通过开关对负载提供电源电压,采样模块接电源电压并对电源电压进行采样,得到采样电压;通过反馈模块对采样电压进行电压‑电流转换,得到反馈电流,控制模块接反馈模块和开关,根据反馈电流调节开关的控制电压,当电源电压发生浪涌并超过预设电源阈值时,反馈电流增大以提升控制电压,将开关的工作状态由饱和区切换为线性区,以抑制浪涌输出。本申请通过采样模块对电源电压进行实时监控,提高对浪涌的抑制效率,通过切换开关的工作状态控制电源电压对负载的浪涌冲击,不仅降低电路设计的成本,也使得电路的体积得到优化。
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