公开(公告)号：CN107063330A

公开(公告)日：2017-08-18

申请号：CN201710249740.2

申请日：2017-04-17

Applicant: 重庆市计量质量检测研究院

Inventor： 周森 ,  徐健 ,  陶磊 ,  陈龙 ,  蒋聪 ,  颜宇

IPC: G01D18/00

CPC classification number: G01D18/00

Abstract: 本发明涉及一种用于多传感器测量系统的多孔板标准器，包括板体，板体上设有分别按照各自的线性拓扑结构分布的A类纵向测量孔与B类横向测量孔；A类纵向测量孔与B类横向测量孔均由同轴线的锥孔和圆孔构成；本发明还涉及一种联合误差检测方法：采用本发明的12孔标准器，对标准器上的测量孔进行编号；采用高精度三坐标测量仪测量包括圆孔直径的各种实际值；多传感器测量系统中的各传感器依次按照最短采样路径对各测量孔进行采样；计算每一个测量孔中圆孔的圆心坐标以及圆孔直径测量值，然后分别计算各类联合误差，判断各联合误差是否合格。本发明能够满足同时具有光学、图像、接触式传感器的多传感器测量系统对联合误差进行检测的需求。

公开(公告)号：CN107063330B

公开(公告)日：2019-03-15

申请号：CN201710249740.2

申请日：2017-04-17

Applicant: 重庆市计量质量检测研究院

Inventor： 周森 ,  徐健 ,  陶磊 ,  陈龙 ,  蒋聪 ,  颜宇

IPC: G01D18/00

Abstract: 本发明涉及一种用于多传感器测量系统的多孔板标准器，包括板体，板体上设有分别按照各自的线性拓扑结构分布的A类纵向测量孔与B类横向测量孔；A类纵向测量孔与B类横向测量孔均由同轴线的锥孔和圆孔构成；本发明还涉及一种联合误差检测方法：采用本发明的12孔标准器，对标准器上的测量孔进行编号；采用高精度三坐标测量仪测量包括圆孔直径的各种实际值；多传感器测量系统中的各传感器依次按照最短采样路径对各测量孔进行采样；计算每一个测量孔中圆孔的圆心坐标以及圆孔直径测量值，然后分别计算各类联合误差，判断各联合误差是否合格。本发明能够满足同时具有光学、图像、接触式传感器的多传感器测量系统对联合误差进行检测的需求。

公开(公告)号：CN204128523U

公开(公告)日：2015-01-28

申请号：CN201420627092.1

申请日：2014-10-24

Applicant: 重庆市计量质量检测研究院

Inventor： 徐健 ,  陈龙 ,  陶磊 ,  颜宇 ,  蒋聪

IPC: G01B21/00

Abstract: 本实用新型公开了一种用于检测三坐标测量机的标准量块的装卡装置，其包括底座、竖直圆柱形支柱、导向座和U形槽块，竖直圆柱形支柱通过连接法兰安装在底座上，导向座可上下滑动的套设在竖直圆柱形支柱上；导向座可通过松紧螺丝固定在圆形支柱的任意高度上，U形槽块用于固定量块，导向座的一侧通过L型板与U形槽块连接，U形槽块的两侧壁为阶梯型，U形槽能够放置5块量块，并按艾力点要求将量块通过所述的铜制螺丝固定。本实用新型可以将量块在不同方向、不同角度，不同高度进行测量，摆放简单，覆盖全面，劳动量小，耗费时间短，测量结果误差小，工作效率高，能真实地反映坐标测量机的机器精度。