X‑射线探测器组件
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107110986A

    公开(公告)日:2017-08-29

    申请号:CN201580072013.2

    申请日:2015-12-30

    Abstract: 本申请公开了一种X‑射线探测器组件,包括:闪烁器;具有感测表面的光探测器,以及光衰减器,所述光衰减器具有可控的透光率并位于所述闪烁器和所述光探测器的感测表面之间。

    辐射检测器制造
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107924926B

    公开(公告)日:2022-05-10

    申请号:CN201680044181.5

    申请日:2016-07-26

    Inventor: J.刘

    Abstract: 本发明方法涉及辐射检测器的制造。在某些实施例中,采用诸如3D金属印刷技术等增材制造技术来制造检测器的一个或多个部分。在一个所述印刷实施例的一个示例中,可以首先将非晶硅设置在衬底上,并且可以使用激光来熔化所述非晶硅的一部分或全部,以形成光成像仪面板的晶体硅电路。也可以采用所述印刷技术来制造辐射检测器的其他方面,例如闪烁体层。

    具有方形圆形状的数字平板检测器

    公开(公告)号:CN106793984B

    公开(公告)日:2021-03-12

    申请号:CN201580047487.1

    申请日:2015-09-02

    Inventor: J.刘

    Abstract: 描述用于使用具有方形圆形状的数字平板检测器来生成X射线图像的系统和方法。平板X射线检测器包含电路板、电连接到电路板的光成像器以及光成像器上耦合的闪烁器。检测器具有带第一基本直边缘以及与第一边缘基本上垂直地延伸的第二基本直边缘的超椭圆形状或无角形状,其中第一边缘和第二边缘没有在物理上以90度彼此相交。具有这个形状的平板检测器能够用于x射线成像系统(其使用检测器来检测x射线并且产生x射线图像)中。采用这个形状,检测器的有效感测区能够与当前采用矩形或正方形平板检测器而可获得的那些有效感测区相似,同时使用较少材料来制造检测器。

    X-射线探测器组件
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107110986B

    公开(公告)日:2020-03-31

    申请号:CN201580072013.2

    申请日:2015-12-30

    Abstract: 本申请公开了一种X‑射线探测器组件,包括:闪烁器;具有感测表面的光探测器,以及光衰减器,所述光衰减器具有可控的透光率并位于所述闪烁器和所述光探测器的感测表面之间。

    具有方形圆形状的数字平板检测器

    公开(公告)号:CN106793984A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201580047487.1

    申请日:2015-09-02

    Inventor: J.刘

    Abstract: 描述用于使用具有方形圆形状的数字平板检测器来生成X射线图像的系统和方法。平板X射线检测器包含电路板、电连接到电路板的光成像器以及光成像器上耦合的闪烁器。检测器具有带第一基本直边缘以及与第一边缘基本上垂直地延伸的第二基本直边缘的超椭圆形状或无角形状,其中第一边缘和第二边缘没有在物理上以90度彼此相交。具有这个形状的平板检测器能够用于x射线成像系统(其使用检测器来检测x射线并且产生x射线图像)中。采用这个形状,检测器的有效感测区能够与当前采用矩形或正方形平板检测器而可获得的那些有效感测区相似,同时使用较少材料来制造检测器。

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