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    光谱计算机断层扫描(CT)的光谱校准
    5.
    发明公开
    光谱计算机断层扫描(CT)的光谱校准 审中-实审

    公开(公告)号：CN109788926A

    公开(公告)日：2019-05-21

    申请号：CN201780058188.7

    申请日：2017-09-12

    申请人： 通用电气公司

    发明人： 金燕南 ,  付赓 ,  P·M·埃迪克 ,  高河伟

    IPC分类号： A61B6/00 ,  H04N5/365 ,  G01T1/36 ,  G01V5/00

    摘要： 本文阐述了一种方法，该方法包括利用CT成像系统的X射线检测器阵列执行一个或多个校准扫描，其中，一个或多个校准扫描包括针对X射线检测器阵列的第一个至第N个元件中的每一个元件获取一个或多个校准测量；并且使用该一个或多个校准测量来更新第一个至第N个元件中的每一个元件的光谱响应模型。在另一个方面中，CT成像系统可使用用于X射线检测器阵列的元件的经更新的光谱响应模型来执行成像，例如包括材料分解(MD)成像。可使用校准过程来更新光谱响应模型，使得X射线检测器阵列的不同元件具有不同的光谱响应模型。

    用于检测器输出调整的系统和方法
    7.
    发明公开
    用于检测器输出调整的系统和方法 无效

    公开(公告)号：CN108387922A

    公开(公告)日：2018-08-10

    申请号：CN201810109029.1

    申请日：2018-02-02

    申请人： 通用电气公司

    发明人： 付赓 ,  钱华 ,  赖皓 ,  郭建军 ,  A.伊凡 ,  B.亚诺夫

    IPC分类号： G01T1/202

    CPC分类号： G01T1/2018 ,  G01T1/208

    摘要： 基于硅光电倍增管(SiPM)的检测系统包括多个闪烁体、SiPM、前端电路、调整电路、以及能量和位置处理单元。SiPM具有对与辐射检测相对应的能量沉积的非线性响应。调整电路被配置成接收来自SiPM的模拟信号，并提供经调整的模拟信号，该经调整的模拟信号被配置成模拟对应于线性响应的信号。能量和位置处理单元利用经调整的信号来提供检在测器块中检测到的事件的能量和位置信息。

    用于成像系统的方法和CT/PET系统
    9.
    发明授权
    用于成像系统的方法和CT/PET系统 有权

    公开(公告)号：CN108242068B

    公开(公告)日：2023-07-25

    申请号：CN201711415156.6

    申请日：2017-12-22

    申请人： 通用电气公司

    发明人： 金肖 ,  钱华 ,  付赓

    IPC分类号： G06T11/00 ,  G06T7/11 ,  G06T7/12 ,  G06T7/136

    摘要： 本申请涉及用于成像系统的方法和CT/PET系统。在一个实施例中，一种方法包括基于源自扫描仪的视场(FOV)之外的解剖结构的估计的放射活度来估计发射数据中的外部散射污染，所述解剖结构基于对成像系统中生成的图像执行的图像分割分析来识别，所述图像在获取发射数据之前生成。这样，应用于发射数据的散射校正可以包括源于FOV内和FOV外的散射，因此可以更准确。