发明公开
- 专利标题: 光谱计算机断层扫描(CT)的光谱校准
- 专利标题(英): SPECTRAL CALIBRATION OF SPECTRAL COMPUTED TOMOGRAPHY (CT)
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申请号: CN201780058188.7申请日: 2017-09-12
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公开(公告)号: CN109788926A公开(公告)日: 2019-05-21
- 发明人: 金燕南 , 付赓 , P·M·埃迪克 , 高河伟
- 申请人: 通用电气公司
- 申请人地址: 美国纽约州
- 专利权人: 通用电气公司
- 当前专利权人: 通用电气公司
- 当前专利权人地址: 美国纽约州
- 代理机构: 上海专利商标事务所有限公司
- 代理商 侯颖媖; 钱慰民
- 优先权: 15/273,043 2016.09.22 US
- 国际申请: PCT/US2017/051096 2017.09.12
- 国际公布: WO2018/057338 EN 2018.03.29
- 进入国家日期: 2019-03-21
- 主分类号: A61B6/00
- IPC分类号: A61B6/00 ; H04N5/365 ; G01T1/36 ; G01V5/00
摘要:
本文阐述了一种方法,该方法包括利用CT成像系统的X射线检测器阵列执行一个或多个校准扫描,其中,一个或多个校准扫描包括针对X射线检测器阵列的第一个至第N个元件中的每一个元件获取一个或多个校准测量;并且使用该一个或多个校准测量来更新第一个至第N个元件中的每一个元件的光谱响应模型。在另一个方面中,CT成像系统可使用用于X射线检测器阵列的元件的经更新的光谱响应模型来执行成像,例如包括材料分解(MD)成像。可使用校准过程来更新光谱响应模型,使得X射线检测器阵列的不同元件具有不同的光谱响应模型。
公开/授权文献
- CN109788926B 光谱计算机断层扫描(CT)的光谱校准 公开/授权日:2023-07-28