公开(公告)号：CN112525078B

公开(公告)日：2022-08-16

申请号：CN202010022455.9

申请日：2020-01-09

申请人： 财团法人工业技术研究院

发明人： 卓嘉弘 ,  张柏毅 ,  顾逸霞 ,  庄凯评 ,  刘志祥 ,  杨富程

IPC分类号： G01B11/02 ,  G01B11/24

摘要： 一种三维量测装置与其操作方法，三维量测装置包括移动装置、投影装置、面型取像装置与处理装置。移动装置承载物体，并将物体移动至多个位置。投影装置产生第一光至物体。面型取像装置于每一位置上，感测物体因应于第一光而产生的第二光，以产生相位影像。处理装置耦接面型取像装置，接收相位影像，并将相位影像进行感兴趣区域处理，以产生多个感兴趣区域影像，且将感兴趣区域影像透过多步相位移法处理，以计算物体的表面高度分布。

公开(公告)号：CN106168466A

公开(公告)日：2016-11-30

申请号：CN201510727145.6

申请日：2015-10-30

申请人： 财团法人工业技术研究院

发明人： 王浩伟 ,  陈俊贤 ,  黄仲宁 ,  张柏毅

IPC分类号： G01B11/16 ,  G01B11/30 ,  G01N21/88 ,  G01N21/95

CPC分类号： H04N5/2256 ,  G01C3/32 ,  G02B7/285 ,  G06T7/521 ,  G06T2207/10056 ,  G06T2207/30148 ,  G01B11/30 ,  G01B11/167 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/9501 ,  G01N2021/8829

摘要： 一种全域式影像检测系统，包括一平面光源、一影像撷取装置、一光感测装置、一处理单元以及一量测模块。平面光源用以投射具有周期变化的光影像于一待测物上。影像撷取装置用以撷取经由待测物反射的一反射光影像。光感测装置用以检测待测物上至少三个量测点的相对坐标，以拟合出一平面。处理单元用以计算反射光影像相位移后的相位变化，并根据相位变化计算待测物的表面形貌的一相对高度分布，且计算待测物的表面形貌相对于此平面的一绝对高度分布，以得到一绝对坐标信息。量测模块可根据绝对坐标信息对待测物的表面进行检测。

公开(公告)号：CN112525078A

公开(公告)日：2021-03-19

申请号：CN202010022455.9

申请日：2020-01-09

申请人： 财团法人工业技术研究院

发明人： 卓嘉弘 ,  张柏毅 ,  顾逸霞 ,  庄凯评 ,  刘志祥 ,  杨富程

IPC分类号： G01B11/02 ,  G01B11/24

摘要： 一种三维量测装置与其操作方法，三维量测装置包括移动装置、投影装置、面型取像装置与处理装置。移动装置承载物体，并将物体移动至多个位置。投影装置产生第一光至物体。面型取像装置于每一位置上，感测物体因应于第一光而产生的第二光，以产生相位影像。处理装置耦接面型取像装置，接收相位影像，并将相位影像进行感兴趣区域处理，以产生多个感兴趣区域影像，且将感兴趣区域影像透过多步相位移法处理，以计算物体的表面高度分布。

公开(公告)号：CN106168466B

公开(公告)日：2019-06-28

申请号：CN201510727145.6

申请日：2015-10-30

申请人： 财团法人工业技术研究院

发明人： 王浩伟 ,  陈俊贤 ,  黄仲宁 ,  张柏毅

IPC分类号： G01B11/16 ,  G01B11/30 ,  G01N21/88 ,  G01N21/95

CPC分类号： H04N5/2256 ,  G01C3/32 ,  G02B7/285 ,  G06T7/521 ,  G06T2207/10056 ,  G06T2207/30148

摘要： 一种全域式影像检测系统，包括一平面光源、一影像撷取装置、一光感测装置、一处理单元以及一量测模块。平面光源用以投射具有周期变化的光影像于一待测物上。影像撷取装置用以撷取经由待测物反射的一反射光影像。光感测装置用以检测待测物上至少三个量测点的相对坐标，以拟合出一平面。处理单元用以计算反射光影像相位移后的相位变化，并根据相位变化计算待测物的表面形貌的一相对高度分布，且计算待测物的表面形貌相对于此平面的一绝对高度分布，以得到一绝对坐标信息。量测模块可根据绝对坐标信息对待测物的表面进行检测。

公开(公告)号：CN104677307B

公开(公告)日：2018-03-23

申请号：CN201310688068.9

申请日：2013-12-13

申请人： 财团法人工业技术研究院

发明人： 张柏毅 ,  张乐融 ,  蓝于滢 ,  陈俊贤

IPC分类号： G01B11/25

摘要： 一种结合三维及二维形貌的量测方法及装置，此量测方法包括以下步骤。首先，经由投射装置，将条纹图案投射至物体表面。接着，藉由多线光电取像系统，接收并储存多线影像。之后，物体与相移装置系统做相对移动，以通过多线光电取像系统撷取多张相位光强影像，相移装置系统包括投射装置及多线光电取像系统。然后，依据相位光强影像决定物点的相位值，并通过三角几何关系将相位值转换为物点所对应的高度，以产生物体的三维形貌。以及，依据相位光强影像重建无相位变化的物体影像，无相位变化的物体影像是呈现物体的二维形貌尺寸。

公开(公告)号：CN104677307A

公开(公告)日：2015-06-03

申请号：CN201310688068.9

申请日：2013-12-13

申请人： 财团法人工业技术研究院

发明人： 张柏毅 ,  张乐融 ,  蓝于滢 ,  陈俊贤

IPC分类号： G01B11/25

摘要： 一种结合三维及二维形貌的量测方法及装置，此量测方法包括以下步骤。首先，经由投射装置，将条纹图案投射至物体表面。接着，藉由多线光电取像系统，接收并储存多线影像。之后，物体与相移装置系统做相对移动，以通过多线光电取像系统撷取多张相位光强影像，相移装置系统包括投射装置及多线光电取像系统。然后，依据相位光强影像决定物点的相位值，并通过三角几何关系将相位值转换为物点所对应的高度，以产生物体的三维形貌。以及，依据相位光强影像重建无相位变化的物体影像，无相位变化的物体影像是呈现物体的二维形貌尺寸。