公开(公告)号：CN104823096B

公开(公告)日：2018-01-19

申请号：CN201380062628.8

申请日：2013-11-05

Applicant: 西铁城时计株式会社

Inventor： 松本健志 ,  桥本信幸 ,  栗原诚 ,  横山正史 ,  田边绫乃

IPC: G02B21/06 ,  G02B5/18 ,  G02B5/30 ,  G02F1/13 ,  G02F1/1335 ,  G02F1/13363 ,  G02F1/1347

CPC classification number: G02B21/361 ,  G02B5/1871 ,  G02B21/082 ,  G02B26/06 ,  G02B27/1086 ,  G02B27/286 ,  G02B27/4205 ,  G02B27/425 ,  G02B27/58 ,  G02B27/60 ,  G02F1/1333 ,  G02F1/1335 ,  G02F1/13363 ,  G02F1/134309 ,  G02F1/1347 ,  G02F2203/50

Abstract: 光调制元件(103)具有：选择衍射元件(10、10’)，使作为具有沿着第1偏振方向的偏振面的直线偏振光的照明光沿着多个方向中的某一个方向进行衍射而生成多个级数的衍射光，并且使所述多个级数的衍射光之间产生相位差；以及偏振面旋转元件(14)，使多个级数的衍射光的偏振面旋转到与自光轴起的放射方向正交的方向。

公开(公告)号：CN1938587A

公开(公告)日：2007-03-28

申请号：CN200580010241.3

申请日：2005-03-29

Applicant: 西铁城时计株式会社

Inventor： 矢野敬和 ,  松本健志 ,  福田匡广 ,  杉浦美晴

IPC: G01N30/96 ,  G01N21/21 ,  G01N30/74 ,  G01N30/26 ,  G01N30/00 ,  G01N30/50 ,  G01N30/88

CPC classification number: G01N30/96 ,  B01J39/07 ,  B01J41/07 ,  B01J47/04 ,  B01J49/08 ,  B01J49/30 ,  B01J49/53 ,  B01J49/57 ,  G01N21/21 ,  G01N30/74 ,  G01N2030/746 ,  G01N2030/0035

Abstract: 本发明的目的是提供一种为了试样的前处理设置离子交换树脂，可以以更高精度测定浓度的光学测定装置。本发明的光学测定装置的特征在于具有离子交换树脂和对通过离子交换树脂的试样的成分的浓度根据成分的光学特性进行测定的光学测定部。

公开(公告)号：CN1768258A

公开(公告)日：2006-05-03

申请号：CN200480008630.8

申请日：2004-03-26

Applicant: 西铁城时计株式会社

Inventor： 松本健志 ,  矢野敬和 ,  福田匡广 ,  二上茂

IPC: G01N21/21 ,  G01J4/04

CPC classification number: G01N21/21

Abstract: 直线偏振光输出部(701)，输出直线偏振光。第1相位调制部(703)，具有第1偏振光轴，相位调制直线偏振光。第2相位调制部(704)，具有与第1偏振光轴正交的第2偏振光轴，相位调制直线偏振光。信号供给部(705)将相位调制直线偏振光的调制信号(Vb)，供给某一个相位调制部。另外，将偏压信号(Vo)，供给相位调制部(702)。光强度检出部(707)，由被供给信号的相位调制部(702)向含有旋光性物质的试料(106)射出的光，被旋光后，由试料(106)透过，从而由检出该透过来的光的强度。旋光度计算部(708)，根据调制信号(Vb)和被检出的光的强度，求出试料(106)的旋光度。

公开(公告)号：CN119907722A

公开(公告)日：2025-04-29

申请号：CN202380067333.3

申请日：2023-09-28

Applicant: 西铁城时计株式会社

Inventor： 町田港 ,  三桥正 ,  佐藤雅浩 ,  松本健志

IPC: B23D79/06

Abstract: 刮削加工装置具备：加工用机器人，其保持具有刃部(11)和设置有所述刃部的可挠性的柄部(13)的刮刀而使所述刮刀进行动作；以及控制装置，其根据加工指示数据来控制加工用机器人，刮削加工装置在柄部(13)弯曲的状态下使柄部(13)向加工方向移动而对加工对象面(91)进行刮削加工，控制装置对加工用机器人进行控制，从而在使刃部(11)离开加工对象面(91)时，基于刃部(11)因柄部(13)的弹性变形而移动的量来使柄部(13)向加工方向移动规定量，并同时使柄部(13)向离开加工对象面(91)的方向移动。

公开(公告)号：CN105842762B

公开(公告)日：2018-06-12

申请号：CN201610304944.7

申请日：2012-08-13

Applicant: 西铁城电子株式会社 ,  西铁城时计株式会社

Inventor： 宫下纯司 ,  萱沼安昭 ,  松本健志

IPC: G02B3/08 ,  G02B5/18 ,  F21V5/04 ,  F21Y115/10

CPC classification number: F21V5/045 ,  F21K9/20 ,  F21K9/69 ,  F21S41/141 ,  F21S41/143 ,  F21S41/275 ,  F21S43/14 ,  F21S43/26 ,  F21S43/315 ,  F21V5/002 ,  F21V5/04 ,  F21V7/0091 ,  F21Y2115/10 ,  F24S23/31 ,  G02B3/08 ,  G02B5/1866 ,  G02B5/188 ,  G02B19/0028 ,  G02B19/0061

Abstract: 本发明提供一种可进一步薄型化，且具有高聚光性的透镜以及发光装置。所述透镜具有：光入射面(10a)；与光入射面(10a)相反侧面的光出射面(10b)；配置在通过光入射面(10a)的中心的中心轴(AX)上的菲涅耳透镜(14)；以及在将中心轴(AX)作为中心的菲涅耳透镜(14)的外周边配置的衍射光栅结构(15)，所述菲涅耳透镜(14)具有：第一菲涅耳透镜(14a)，所述第一菲涅耳透镜(14a)具有从以光入射面(10a)的中心轴(AX)为中心配置的凸透镜分割的多个环状棱镜；以及第二菲涅耳透镜(14b)，所述第二菲涅耳透镜(14b)具有从在以光入射面(10a)的中心轴(AX)为中心的第一菲涅耳透镜(14a)的外周边配置的TIR透镜分割的多个环状棱镜。

公开(公告)号：CN104583845B

公开(公告)日：2018-04-24

申请号：CN201380043341.0

申请日：2013-08-16

Applicant: 西铁城时计株式会社

Inventor： 松本健志

IPC: G02F1/13 ,  G02B21/00 ,  G02F1/03

CPC classification number: G02B21/0072 ,  G02B21/00 ,  G02B21/0024 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/0068 ,  G02B21/0092 ,  G02B21/06 ,  G02B27/0031 ,  G02B27/0068 ,  G02F1/01 ,  G02F1/0136 ,  G02F1/13 ,  G02F1/1347

Abstract: 在光学系统中被配置的像差校正光学单元(3)的特征在于，由具有偏振特性的第一相位调制元件(3a)和第二相位调制元件(3c)、可变波长板(3b)构成，并校正光学系统的像差，其中，该可变波长板(3b)被配置于第一相位调制元件及第二相位调制元件之间，且两个相位调制元件与其光学轴具有规定角度。

公开(公告)号：CN104081259B

公开(公告)日：2017-06-06

申请号：CN201380007865.4

申请日：2013-02-01

Applicant: 西铁城时计株式会社

Inventor： 松本健志 ,  田边绫乃 ,  横山正史 ,  桥本信幸 ,  栗原诚

IPC: G02F1/01 ,  G02B3/14 ,  G02B21/00 ,  G02F1/13

CPC classification number: G02B26/06 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/0052 ,  G02B21/0056 ,  G02B21/082 ,  G02B27/0068 ,  G02F1/134309 ,  G02F2203/18 ,  G02F2203/50

Abstract: 相位调制设备(3)对从相干光源(1)出射的相干光的光束的光路中配置的包含物镜(4)的光学系统所产生的波面像差进行校正。为此，相位调制设备(3)具有：相位调制元件(11)，其形成有多个电极，根据被分别施加于这些电极的电压对光束的相位进行调制；和对施加于多个电极的电压进行控制的控制电路(12)。控制电路对施加于多个电极的电压进行控制，以将基于相位调制轮廓的相位调制量赋予光束，该相位调制轮廓由以泽尼克多项式分解了由光学系统产生的波面像差的相位分布时的、三阶球面像差与五阶球面像差之比和物镜(4)的数值孔径的关系式来决定，该相位调制轮廓具有相位分布的逆极性。

公开(公告)号：CN104303090B

公开(公告)日：2017-08-15

申请号：CN201380025759.9

申请日：2013-03-15

Applicant: 西铁城时计株式会社

Inventor： 松本健志 ,  田边绫乃 ,  桥本信幸 ,  栗原诚 ,  横山正史

IPC: G02B21/06 ,  G02F1/01

CPC classification number: G02B21/0072 ,  G02B5/1814 ,  G02B5/3016 ,  G02B5/3083 ,  G02B21/0032 ,  G02B21/06 ,  G02B26/06 ,  G02B27/0031 ,  G02B27/0068 ,  G02B27/283 ,  G02F1/01 ,  G02F1/0311 ,  G02F1/1313 ,  G02F1/13306 ,  G02F1/13363 ,  G02F1/134309 ,  G02F1/1347 ,  G02F1/1393 ,  G02F1/19 ,  G02F2203/12 ,  G02F2203/18 ,  G02F2203/50

Abstract: 像差校正器件(3)对包含配置于从相干光源(1)射出的光束的光路中的物镜(4)的光学系统所产生波像差进行校正。为此，像差校正器件(3)包括：对称性像差校正元件(3a)，其校正在光路中产生的波像差之中的、作为相对于光轴对称的波像差的对称性像差；非对称性像差校正元件(3a)，其校正对于斜入射到物镜(4)而产生的、作为相对于光轴而非对称的波像差的非对称性像差。

公开(公告)号：CN1498342A

公开(公告)日：2004-05-19

申请号：CN02807061.5

申请日：2002-02-21

Applicant: 西铁城时计株式会社

Inventor： 松本健志

IPC: G01N21/21

CPC classification number: G01N21/21 ,  A61B5/14558

Abstract: 一种旋光角测量的装置和方法，用于非接触方式测量样品中旋光性物质(例如，糖化物，氨基酸，维生素)的浓度。把相干光通量分割成两个光通量，物光束和参考光束，借助于四分之一波片，把传输通过样品的物光束转换成正交的偏振分量，其相差正比于样品的旋光角，根据物光束与参考光束之间干涉得到的拍频信号之间相差，确定该样品的旋光角。或者，借助于四分之一波片，把入射并传输通过样品的相干光通量转换成正交的偏振分量，其相差正比于样品的旋光角，借助于起偏振器使正交的偏振分量互相干涉，并利用如此得到的拍频信号相位，测量该样品的旋光角。

公开(公告)号：CN105829958B

公开(公告)日：2019-08-20

申请号：CN201480069445.3

申请日：2014-11-20

Applicant: 西铁城时计株式会社

Inventor： 田边绫乃 ,  松本健志 ,  横山正史 ,  桥本信幸 ,  栗原诚 ,  根本知己 ,  日比辉正 ,  一本岛佐理

IPC: G02F1/13 ,  G02F1/1343 ,  G02F1/1347

Abstract: 液晶光学器件具有沿着光轴排列的多个液晶元件(2－1～2－3)。在该液晶光学器件中，各液晶元件具有封入有在规定的方向上取向了的液晶分子(15)的液晶层(10)以及配置成隔着液晶层(10)对置的两个透明电极(13、14)，两个透明电极中的至少一方具有多个部分电极(13－1～13－n)，并且在按规定的等级数分割了对透过液晶层的光束赋予的相位分布中的相位调制量的最大值与最小值之差时，针对此时的每个等级，在对光束赋予该等级的相位调制量的液晶层的部分配置多个部分电极中的至少一个，相对于光束的相邻的两个部分电极间的边界的位置针对每个液晶元件而不同。