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公开(公告)号:CN119208368A
公开(公告)日:2024-12-27
申请号:CN202411272027.6
申请日:2024-09-11
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: H01L29/778 , H01L21/335 , H01L23/48 , H01L21/768
Abstract: 本发明公开了一种三维结构GaN集成电路芯片及其制备方法,该芯片包括:GaN基底和从下之上依次交错层叠的多级布线介质层和隔离介质层,在第n级的布线介质层和第n‑1级的隔离介质层之间夹设有至少一个第n级集成电路,n为正整数,第0级的隔离介质层为基底介质层;在第n级的隔离介质层上设置有至少一个贯穿第n级的隔离介质层并连通第n+1级集成电路、第n级集成电路的第n级第一通孔;第n+1级集成电路、第n级集成电路基于第n级第一通孔,通过导线或者金属键合作用相连。本发明提供的芯片通过三维布线能够提高晶圆的利用率和集成度。