一种低噪声碳化硅NPN光电晶体管及其制备方法

    公开(公告)号:CN119815946A

    公开(公告)日:2025-04-11

    申请号:CN202411916530.0

    申请日:2024-12-24

    Abstract: 本发明公开了一种低噪声碳化硅NPN光电晶体管,包括:沿第一方向设置的n型过渡层、n+埋层、n‑缓冲层、p型基区层、n型集电层和覆盖第一隔离沟槽的SiO2氧化层,第一隔离沟槽位于p型基区层沿与第一方向垂直的第二方向的两侧;具有高掺杂浓度的n+埋层在n型过渡层中沿第二方向间隔排列;具有低掺杂浓度的n‑缓冲层位于n型过渡层和n+埋层的上表面;p型基区层位于n‑缓冲层的上表面;n型集电层位于p型基区层中背离n‑缓冲层的一侧,沿第二方向,n型集电层的宽度小于p型基区层的宽度,并且,n型集电层不与位于第一隔离沟槽的SiO2氧化层接触。本发明能够大大减少侧壁的漏电流,提升噪声性能和光暗电流比。

    带有发射区垂直屏蔽阱的SiC光控双极型功率晶体管

    公开(公告)号:CN119767866A

    公开(公告)日:2025-04-04

    申请号:CN202411791563.7

    申请日:2024-12-06

    Abstract: 本发明公开了一种带有发射区垂直屏蔽阱的SiC光控双极型功率晶体管,包括:由下向上依次层叠的发射极金属、n型衬底、n型发射区、n型承压区,及在n型承压区的顶层区域内间隔分布的多个隔离阱,在n型承压区整个表面设置的n型屏蔽层,设置于n型屏蔽层表面中心区域的p型基区,位于p型基区上方的n型集电区,位于n型集电区表面中心区域的集电极金属,及表层周围的SiO2氧化层;n型衬底采用4H‑SiC材料;隔离阱和n型屏蔽层呈本征态;SiO2氧化层设置于p型基区表面上除集电极金属的区域,并设置于p型基区和n型集电区外侧,与n型屏蔽层表面接触。本发明能提高功率晶体管的抗高压能力,控制关断的能力更好,电路设计更简单。

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