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公开(公告)号：CN108600619A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201810316541.3
申请日：2018-04-10
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种利用LD阵列作为预置光源实现的超高速计算鬼成像方法，包括以下步骤：1)选取可编程逻辑门电路作为控制主芯片，选取能够进行扩展的LD点阵作为可变散斑阵列；2)控制主芯片利用时钟同步控制可变散斑阵列发射可控散斑场，所述可控散斑场与待成像物体进行相互作用，再经透镜聚束后被桶探测器接收，桶探测器接收与待成像物体相互作用后的可控散斑场，然后根据接收到的与待成像物体相互作用后的可控散斑场恢复待成像物体的像，该方法能够实现高分辨率成像，并且抗扰动能力强，成像速度快。
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公开(公告)号：CN107018388B
公开(公告)日：2019-04-16
申请号：CN201710115013.7
申请日：2017-02-28
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种超高速实时彩色计算鬼成像的装置及方法，包括随机散斑发射源、透镜、点探测器及计算机，其中，待成像物体位于随机散斑发射源与透镜之间，随机散斑发射源发出的光经待成像物体及透镜入射到点探测器的光敏面上，随机散斑发射源的控制端及点探测器的输出端与计算机相连接；所述随机散斑发射源为LED阵列，该装置及方法实现对高速运动目标物体的成像，并且成像距离范围较大，成像的分辨率较高，抗扰动能力强，成像速度快。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111474421A
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN202010409268.6
申请日：2020-05-14
Applicant: 江苏蓝鲸新材料有限公司 , 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种基于压电效应检测周期极化晶体占空比的方法，包括以下步骤：步骤1，确定待测试样品的压电性能为D，畴结构周期L，待测试样品为周期极化晶体；步骤2，在待测试样品上选取测试面或测试点；步骤3，通过压电系数测试方法，测量步骤2所选取测试面或测试点压电性能，获得测试面或测试点的压电系数X(d33)；步骤4，根据步骤1所得待测试样品压电性能、步骤3所得待测试样品的压电系数以及占空比计算式计算步骤2所选取测试面或测试点的占空比η；实现无损检测样品的占空比，检测误差小通过该方法可以获得周期极化晶体占空比的具体数值，且通常使用条件下(R>10L)最大误差不超过3％，可用于周期极化晶体占空比的准确测试。
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公开(公告)号：CN111398218A
公开(公告)日：2020-07-10
申请号：CN202010208439.9
申请日：2020-03-23
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种基于磁光调制的有效电光系数测量装置及方法，包括计算机、旋转平台、线偏振激光器、第一四分之一波片、起偏器、第二四分之一波片、磁光调制器以及安装在旋转平台上的检偏器和光电探测器，线偏振激光器发出的线偏光依次经第一四分之一波片、起偏器、待测量样品、第二四分之一波片、磁光调制器及检偏器入射到光电探测器中，该装置及方法能够高速、高精度的测量有效电光系数，测量范围较大，稳定性较高。
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公开(公告)号：CN107018388A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201710115013.7
申请日：2017-02-28
Applicant: 西安交通大学
CPC classification number: H04N9/04 , H04N5/23229
Abstract: 本发明公开了一种超高速实时彩色计算鬼成像的装置及方法，包括随机散斑发射源、透镜、点探测器及计算机，其中，待成像物体位于随机散斑发射源与透镜之间，随机散斑发射源发出的光经待成像物体及透镜入射到点探测器的光敏面上，随机散斑发射源的控制端及点探测器的输出端与计算机相连接；所述随机散斑发射源为LED阵列，该装置及方法实现对高速运动目标物体的成像，并且成像距离范围较大，成像的分辨率较高，抗扰动能力强，成像速度快。
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公开(公告)号：CN111474421B
公开(公告)日：2022-03-08
申请号：CN202010409268.6
申请日：2020-05-14
Applicant: 江苏蓝鲸新材料有限公司 , 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种基于压电效应检测周期极化晶体占空比的方法，包括以下步骤：步骤1，确定待测试样品的压电性能为D，畴结构周期L，待测试样品为周期极化晶体；步骤2，在待测试样品上选取测试面或测试点；步骤3，通过压电系数测试方法，测量步骤2所选取测试面或测试点压电性能，获得测试面或测试点的压电系数X(d33)；步骤4，根据步骤1所得待测试样品压电性能、步骤3所得待测试样品的压电系数以及占空比计算式计算步骤2所选取测试面或测试点的占空比η；实现无损检测样品的占空比，检测误差小通过该方法可以获得周期极化晶体占空比的具体数值，且通常使用条件下(R>10L)最大误差不超过3％，可用于周期极化晶体占空比的准确测试。
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公开(公告)号：CN111398218B
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202010208439.9
申请日：2020-03-23
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种基于磁光调制的有效电光系数测量装置及方法，包括计算机、旋转平台、线偏振激光器、第一四分之一波片、起偏器、第二四分之一波片、磁光调制器以及安装在旋转平台上的检偏器和光电探测器，线偏振激光器发出的线偏光依次经第一四分之一波片、起偏器、待测量样品、第二四分之一波片、磁光调制器及检偏器入射到光电探测器中，该装置及方法能够高速、高精度的测量有效电光系数，测量范围较大，稳定性较高。
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