公开(公告)号：CN111398218B

公开(公告)日：2021-10-08

申请号：CN202010208439.9

申请日：2020-03-23

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 赵卫岗 ,  邱复生 ,  魏晓勇 ,  徐卓 ,  陈虹 ,  庄永勇

IPC: G01N21/41 ,  G01N21/17 ,  G01J4/00

Abstract: 本发明公开了一种基于磁光调制的有效电光系数测量装置及方法，包括计算机、旋转平台、线偏振激光器、第一四分之一波片、起偏器、第二四分之一波片、磁光调制器以及安装在旋转平台上的检偏器和光电探测器，线偏振激光器发出的线偏光依次经第一四分之一波片、起偏器、待测量样品、第二四分之一波片、磁光调制器及检偏器入射到光电探测器中，该装置及方法能够高速、高精度的测量有效电光系数，测量范围较大，稳定性较高。

公开(公告)号：CN111398218A

公开(公告)日：2020-07-10

申请号：CN202010208439.9

申请日：2020-03-23

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 赵卫岗 ,  邱复生 ,  魏晓勇 ,  徐卓 ,  陈虹 ,  庄永勇

IPC: G01N21/41 ,  G01N21/17 ,  G01J4/00

Abstract: 本发明公开了一种基于磁光调制的有效电光系数测量装置及方法，包括计算机、旋转平台、线偏振激光器、第一四分之一波片、起偏器、第二四分之一波片、磁光调制器以及安装在旋转平台上的检偏器和光电探测器，线偏振激光器发出的线偏光依次经第一四分之一波片、起偏器、待测量样品、第二四分之一波片、磁光调制器及检偏器入射到光电探测器中，该装置及方法能够高速、高精度的测量有效电光系数，测量范围较大，稳定性较高。