公开(公告)号：CN110750949B

公开(公告)日：2021-04-20

申请号：CN201910704149.0

申请日：2019-07-31

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 贺朝会 ,  李洋 ,  李永宏 ,  赵浩昱 ,  魏佳男 ,  童大银 ,  杨卫涛

IPC: G06F30/367 ,  G06F30/32 ,  G06F113/18

Abstract: 本发明公开了一种基于IBIS模型模拟系统级封装剂量率效应的方法，别是瞬时剂量率效应。利用系统级封装内部不同子芯片的IBIS模型和版图布线的电气特性，通过信号完整性仿真检测各集成电路中敏感引脚、敏感网络和信号响应；并给出了评估瞬时剂量率效应导致的辐射脉冲在系统级封装内不同子芯片之间的传播的一般方法。本方法将在IBIS模型的基础上，实现瞬时电流信号传递的较高精度模拟，同时巧妙地避开了SPICE模型因包含了芯片详细的内部信息而不便公开以至于难以获得的困难以及仿真速度慢的情况。

公开(公告)号：CN110750949A

公开(公告)日：2020-02-04

申请号：CN201910704149.0

申请日：2019-07-31

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 贺朝会 ,  李洋 ,  李永宏 ,  赵浩昱 ,  魏佳男 ,  童大银 ,  杨卫涛

IPC: G06F30/367 ,  G06F30/32 ,  G06F113/18

Abstract: 本发明公开了一种基于IBIS模型模拟系统级封装剂量率效应的方法，别是瞬时剂量率效应。利用系统级封装内部不同子芯片的IBIS模型和版图布线的电气特性，通过信号完整性仿真检测各集成电路中敏感引脚、敏感网络和信号响应；并给出了评估瞬时剂量率效应导致的辐射脉冲在系统级封装内不同子芯片之间的传播的一般方法。本方法将在IBIS模型的基础上，实现瞬时电流信号传递的较高精度模拟，同时巧妙地避开了SPICE模型因包含了芯片详细的内部信息而不便公开以至于难以获得的困难以及仿真速度慢的情况。

公开(公告)号：CN210626583U

公开(公告)日：2020-05-26

申请号：CN201921370255.1

申请日：2019-08-22

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 贺朝会 ,  杨卫涛 ,  曹煜 ,  赵浩昱 ,  郭亚鑫 ,  李永宏

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/28 ,  G01R1/02

Abstract: 一种多用途电子设备辐照效应测试的屏蔽装置，尤其适用于加速器辐照实验当中，该装置包括主体支架底座、两个侧面固定支架、带沟槽长方体体条、无沟槽长方体条、用于形成开口的小滑块以及固定螺丝。本实用新型装置将在可改变间距的侧面固定支架和可改变高度、位置、材质、厚度的小滑块的帮助下，实现对多种电子设备在多种辐照环境中的有效屏蔽，解决常见屏蔽体用途单一的问题。