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公开(公告)号：CN104425484B
公开(公告)日：2017-09-08
申请号：CN201410453701.0
申请日：2014-09-05
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
CPC classification number: H01L31/173 , H01L27/0255 , H01L27/0629 , H01L27/15 , H01L29/808 , H02H3/20
Abstract: 本发明涉及半导体部件以及触发雪崩击穿的方法。半导体部件包括配置以发射辐射的辅助半导体器件。半导体部件进一步包括半导体器件。在辅助半导体器件和半导体器件之间的电耦合和光耦合配置以，通过辅助半导体器件来触发辐射的发射，以及通过半导体器件中的对辐射的吸收来触发半导体器件中的雪崩击穿。半导体器件包括在第一导电类型的第一层与第二导电类型的掺杂半导体区之间的PN结，该第一层埋在半导体本体的表面下方，该掺杂半导体区之设置在该表面与第一层之间。
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公开(公告)号：CN104617569B
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201410584942.9
申请日：2014-10-27
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
IPC: H02H9/04
Abstract: 本发明的各个实施例涉及一种用于级联的电压管脚的、组合的静电放电有源钳位电路，其可以包括电子开关、多个放电路径和多个触发电路。响应于检测到跨任意两个电压管脚的电压事件，触发电路装置可以接通电子开关从而使电压事件引起的电流流过放电路径中的一个或者多个放电路径而不是流过可能潜在地被电压事件引起的电流损坏的功能电路装置。
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公开(公告)号：CN106357242B
公开(公告)日：2019-08-09
申请号：CN201610556568.0
申请日：2016-07-14
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
CPC classification number: G01R31/2841 , G01R31/002
Abstract: 本发明的各实施方式总体上涉及用于生成用于对电子器件进行ESD应力测试的信号的装置和方法以及用于执行电子器件的ESD应力测试的系统。具体地，公开了一种用于生成用于对电子器件进行ESD应力测试的信号的装置和方法。在实施例中，该装置被配置成：接收包括源脉冲的源信号，延迟源脉冲以生成包括脉冲宽度在ESD时间范围内的测试脉冲的测试信号，并且生成包括脉冲宽度在ESD时间范围内的辅助脉冲的辅助信号。
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公开(公告)号：CN110120661A
公开(公告)日：2019-08-13
申请号：CN201910108914.2
申请日：2019-02-03
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
IPC: H02H9/04
Abstract: 本公开涉及有源ESD钳位去激活。例如，一种电路包括ESD保护电路装置、触发电路装置、瞬态检测电路装置和去激活电路装置。ESD保护电路装置耦合在第一轨和第二轨之间。触发电路装置被配置为当横跨第一轨和第二轨的电压超过电压阈值时生成ESD激活信号。ESD保护电路装置被配置为基于ESD激活信号而激活。瞬态检测电路装置被配置为当横跨第一轨和第二轨的电压包括电压随时间的变化时生成去激活信号，其中电压随时间的变化小于瞬态阈值。去激活电路装置被配置为基于去激活信号来去激活触发电路装置。
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公开(公告)号：CN106357242A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610556568.0
申请日：2016-07-14
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
CPC classification number: G01R31/2841 , G01R31/002 , H03K5/04 , H03K5/06
Abstract: 本发明的各实施方式总体上涉及用于生成用于对电子器件进行ESD应力测试的信号的装置和方法以及用于执行电子器件的ESD应力测试的系统。具体地，公开了一种用于生成用于对电子器件进行ESD应力测试的信号的装置和方法。在实施例中，该装置被配置成：接收包括源脉冲的源信号，延迟源脉冲以生成包括脉冲宽度在ESD时间范围内的测试脉冲的测试信号，并且生成包括脉冲宽度在ESD时间范围内的辅助脉冲的辅助信号。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110120661B
公开(公告)日：2021-10-01
申请号：CN201910108914.2
申请日：2019-02-03
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
IPC: H02H9/04
Abstract: 本公开涉及有源ESD钳位去激活。例如，一种电路包括ESD保护电路装置、触发电路装置、瞬态检测电路装置和去激活电路装置。ESD保护电路装置耦合在第一轨和第二轨之间。触发电路装置被配置为当横跨第一轨和第二轨的电压超过电压阈值时生成ESD激活信号。ESD保护电路装置被配置为基于ESD激活信号而激活。瞬态检测电路装置被配置为当横跨第一轨和第二轨的电压包括电压随时间的变化时生成去激活信号，其中电压随时间的变化小于瞬态阈值。去激活电路装置被配置为基于去激活信号来去激活触发电路装置。
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公开(公告)号：CN112310068A
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN202010743055.7
申请日：2020-07-29
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
Inventor： U·格拉瑟
IPC: H01L27/02
Abstract: 本公开涉及具有寄生补偿的静电放电。例如，一种用于防止器件故障的电路包括第一轨道、静电放电(ESD)保护电路装置、第二轨道、ESD开关电路装置、偏置电路装置和信号限制器。第一轨道用于形成在衬底的第一部分中的一个或多个第一电气部件。第二轨道用于形成在衬底的第二部分中的一个或多个第二电气部件。衬底的第一部分形成寄生晶体管的发射极，并且衬底的第二部分形成寄生晶体管的集电极。偏置电路装置被配置为当ESD开关电路装置接通时在寄生晶体管的发射极处输出偏置电压。信号限制器电耦合至第一轨道和寄生晶体管的发射极。
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公开(公告)号：CN107565805B
公开(公告)日：2020-02-11
申请号：CN201710506405.6
申请日：2017-06-28
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
IPC: H02M1/34
Abstract: 本公开涉及中心组合有源ESD钳位电路，例如用于端子组的静电放电钳位具有级联且不同的电压等级、多个放电路径以及多输入触发器电路。响应于在任何端子组处检测到正电压事件，触发器电路可以接通电开关，使得由电压事件引起的电流流过一个或多个放电路径来代替流过功能电路，功能电路会潜在地被电压事件引起的电流损伤。
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公开(公告)号：CN107565805A
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201710506405.6
申请日：2017-06-28
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
IPC: H02M1/34
Abstract: 本公开涉及中心组合有源ESD钳位电路，例如用于端子组的静电放电钳位具有级联且不同的电压等级、多个放电路径以及多输入触发器电路。响应于在任何端子组处检测到正电压事件，触发器电路可以接通电开关，使得由电压事件引起的电流流过一个或多个放电路径来代替流过功能电路，功能电路会潜在地被电压事件引起的电流损伤。
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公开(公告)号：CN104617569A
公开(公告)日：2015-05-13
申请号：CN201410584942.9
申请日：2014-10-27
Applicant: 英飞凌科技股份有限公司
IPC: H02H9/04
Abstract: 本发明的各个实施例涉及一种用于级联的电压管脚的、组合的静电放电有源钳位电路，其可以包括电子开关、多个放电路径和多个触发电路。响应于检测到跨任意两个电压管脚的电压事件，触发电路装置可以接通电子开关从而使电压事件引起的电流流过放电路径中的一个或者多个放电路径而不是流过可能潜在地被电压事件引起的电流损坏的功能电路装置。
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