具有一次写入金属反射膜的光学记录介质

    公开(公告)号:CN101467210A

    公开(公告)日:2009-06-24

    申请号:CN200780022013.7

    申请日:2007-06-15

    CPC classification number: G11B7/259 G11B7/00736 Y10T428/21

    Abstract: 本发明可以确定通过物理转写在光学记录介质的基板上形成的凹坑和平面的形状而制备的盗版光盘记录介质。所述光学记录介质具有卓越的耐候性和长期存储可靠性。在通过凹坑和平面的组合记录了主数据的基板上形成由Ag100-x-yXxCuy的Ag合金膜所形成的反射膜,其中,X为Ti、W、Ta、V、Mo、Nb及Zr中的至少一种元素。可以形成标记,使得在所述反射膜上一次写入的记录辅助数据的记录标记的再生信号电平升高,并且在通过物理转写所述基板的凹坑和平面的表面形状而制备的光学记录介质的再生信号电平降低。以这种方式可以确定盗版光学记录介质。

    具有一次写入金属反射膜的光学记录介质

    公开(公告)号:CN101467210B

    公开(公告)日:2011-06-08

    申请号:CN200780022013.7

    申请日:2007-06-15

    CPC classification number: G11B7/259 G11B7/00736 Y10T428/21

    Abstract: 本发明可以确定通过物理转写在光学记录介质的基板上形成的凹坑和平面的形状而制备的盗版光盘记录介质。所述光学记录介质具有卓越的耐候性和长期存储可靠性。在通过凹坑和平面的组合记录了主数据的基板上形成由Ag100-x-yXxCuy的Ag合金膜所形成的反射膜,其中,X为Ti、W、Ta、V、Mo、Nb及Zr中的至少一种元素。可以形成标记,使得在所述反射膜上一次写入的记录辅助数据的记录标记的再生信号电平升高,并且在通过物理转写所述基板的凹坑和平面的表面形状而制备的光学记录介质的再生信号电平降低。以这种方式可以确定盗版光学记录介质。

    光盘基板和光盘
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100385539C

    公开(公告)日:2008-04-30

    申请号:CN200380107950.4

    申请日:2003-10-20

    CPC classification number: G11B7/00736 G11B7/0945 G11B7/0953

    Abstract: 在光盘基板上具有数据区域和偏心测定区域(14),数据区域是用于记录以及/或再生数据;偏心测定区域是形成螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域在空间上被相互交错设置。形成在该偏心测定区域上的凹槽区域的宽度、反射镜区域的宽度以及凹槽区域上的凹槽的间隔被选择成为现有的机械特性测定装置可以将形成在凹槽区域上的多条凹槽作为一条凹槽进行跟踪。

    磁盘基板和光盘
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1732524A

    公开(公告)日:2006-02-08

    申请号:CN200380107950.4

    申请日:2003-10-20

    CPC classification number: G11B7/00736 G11B7/0945 G11B7/0953

    Abstract: 在磁盘基板上具有数据区域和偏心测定区域(14),数据区域是用于记录以及/或再生数据;偏心测定区域是形成螺旋状凹槽的凹槽区域和平面状的反射镜区域在空间上被相互交错设置。形成在该偏心测定区域上的凹槽区域的宽度、反射镜区域的宽度以及凹槽区域上的凹槽的间隔被选择成为现有的机械特性测定装置可以将形成在凹槽区域上的多条凹槽作为一条凹槽进行跟踪。

    光盘记录介质和制造光盘的方法

    公开(公告)号:CN101640048A

    公开(公告)日:2010-02-03

    申请号:CN200910159686.8

    申请日:2009-07-31

    CPC classification number: G11B7/266 G11B7/24038 G11B7/265

    Abstract: 本发明提供一种光盘记录介质和制造光盘的方法。该光盘记录介质包括:盘基片;至少一个记录层,设置在盘基片的一个表面侧上;覆盖层,设置在记录层的激光入射表面侧上并由透光树脂层构成;以及硬涂层,设置在覆盖层的激光入射表面侧上,用于表面保护,并且由透光树脂层构成,其中,覆盖层被形成为使得其厚度从盘的中央部分到周边部分减小,硬涂层被形成为使得其厚度从盘的中央部分到周边部分增加,并且,覆盖层和硬涂层的总厚度从盘的中央部分到周边部分是基本均匀的。

    光学记录还原介质和制造光学记录还原介质的母盘模片

    公开(公告)号:CN1267915C

    公开(公告)日:2006-08-02

    申请号:CN02802462.1

    申请日:2002-06-26

    CPC classification number: G11B7/24079 G11B7/24082 G11B7/261

    Abstract: 光学记录还原介质具有沿着记录轨道形成的凹槽(2),并且通过照射具有预定波长λ的光可以对光学记录还原介质进行记录和/或还原。当假定n表示从光入射端面延伸到光学记录还原介质的凹槽(2)的介质的折射系数时,凹槽(2)的相位深度x满足以下不等式:λ/16.14n≤x≤λ/4.99n并且所述凹槽(2)的宽度w和轨道间距p之间的比值w/p满足以下不等式:0.391≤(w/p)≤0.594其中所述轨道间距大于300nm并且小于325nm。

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