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公开(公告)号:CN1298038C
公开(公告)日:2007-01-31
申请号:CN200410034666.5
申请日:2004-04-16
申请人: 索尼株式会社
发明人: 松冈次弘
CPC分类号: G01R31/318513 , G01R31/2884 , G01R31/318505 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要: 提供了一种能够测试安装在内插器上的各个IC芯片的半导体装置。在具有其上安装了第一IC芯片和第二IC芯片的内插器的半导体装置中,通过输入布线和输出布线将所述第一IC芯片和所述第二IC芯片分别连接到所述内插器的外部,并且将充当开关的晶体管元件串联插入到所述第一IC芯片与所述第二IC芯片之间连接的布线中。
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公开(公告)号:CN1538514A
公开(公告)日:2004-10-20
申请号:CN200410034666.5
申请日:2004-04-16
申请人: 索尼株式会社
发明人: 松冈次弘
CPC分类号: G01R31/318513 , G01R31/2884 , G01R31/318505 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要: 提供了一种能够测试安装在内插器上的各个IC芯片的半导体装置。在具有其上安装了第一IC芯片和第二IC芯片的内插器的半导体装置中,通过输入布线和输出布线将所述第一IC芯片和所述第二IC芯片分别连接到所述内插器的外部,并且将充当开关的晶体管元件串联插入到所述第一IC芯片与所述第二IC芯片之间连接的布线中。
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