半导体装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1298038C

    公开(公告)日:2007-01-31

    申请号:CN200410034666.5

    申请日:2004-04-16

    发明人: 松冈次弘

    IPC分类号: H01L21/66 G01R31/28

    摘要: 提供了一种能够测试安装在内插器上的各个IC芯片的半导体装置。在具有其上安装了第一IC芯片和第二IC芯片的内插器的半导体装置中,通过输入布线和输出布线将所述第一IC芯片和所述第二IC芯片分别连接到所述内插器的外部,并且将充当开关的晶体管元件串联插入到所述第一IC芯片与所述第二IC芯片之间连接的布线中。

    半导体装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1538514A

    公开(公告)日:2004-10-20

    申请号:CN200410034666.5

    申请日:2004-04-16

    发明人: 松冈次弘

    IPC分类号: H01L21/66 G01R31/28

    摘要: 提供了一种能够测试安装在内插器上的各个IC芯片的半导体装置。在具有其上安装了第一IC芯片和第二IC芯片的内插器的半导体装置中,通过输入布线和输出布线将所述第一IC芯片和所述第二IC芯片分别连接到所述内插器的外部,并且将充当开关的晶体管元件串联插入到所述第一IC芯片与所述第二IC芯片之间连接的布线中。