移开晶片的方法及静电吸盘装置

    公开(公告)号:CN100524682C

    公开(公告)日:2009-08-05

    申请号:CN03131491.0

    申请日:1997-06-20

    IPC分类号: H01L21/68 H02N13/00 B25B11/00

    摘要: 一种静电吸盘装置,包括:在其上吸引及支持晶片的静电吸盘;用于检测所述静电吸盘温度的温度检测装置;与所述静电吸盘相连的电源,所述电源施加直流电压到所述静电吸盘上使所述静电吸盘具有吸引力;反向装置,它将作为反向电压施加到所述静电吸盘上的所述直流电压的极性反向;及反向电压确定装置,当所述直流电压极性反向时,它根据已检测的所述静电吸盘的所述温度确定所述反向电压的值。

    移开晶片的方法及静电吸盘装置

    公开(公告)号:CN1516256A

    公开(公告)日:2004-07-28

    申请号:CN03131491.0

    申请日:1997-06-20

    IPC分类号: H01L21/68 H02N13/00 B25B11/00

    摘要: 一种静电吸盘装置,包括:在其上吸引及支持晶片的静电吸盘;用于检测所述静电吸盘温度的温度检测装置;与所述静电吸盘相连的电源,所述电源施加直流电压到所述静电吸盘上使所述静电吸盘具有吸引力;反向装置,它将作为反向电压施加到所述静电吸盘上的所述直流电压的极性反向;及反向电压确定装置,当所述直流电压极性反向时,它根据已检测的所述静电吸盘的所述温度确定所述反向电压的值。

    支持晶片的方法及静电吸盘装置

    公开(公告)号:CN1153343C

    公开(公告)日:2004-06-09

    申请号:CN97113905.9

    申请日:1997-06-20

    IPC分类号: H02N13/00 H01L21/68

    摘要: 静电吸盘装置2,包括静电吸盘4、用于检测静电吸盘4的温度的温度检测单元10、与静电吸盘4相连且用于施加直流电压到静电吸盘4以使其具有吸引力的电源9,及根据温度检测单元10检测的静电吸盘的温度来控制电源9施加的直流电压值的控制器11。当温度检测单元10检测的静电吸盘4的温度比预设值高时,控制器11使电源9施加的电压值低于预设值;当静电吸盘4的温度比预设值低时,控制器使施加电压高于预设值,因此可将静电吸盘4的吸引力保持为与静电吸盘4的温度变化无关。

    支持晶片的方法、移开晶片的方法及静电吸盘装置

    公开(公告)号:CN1174446A

    公开(公告)日:1998-02-25

    申请号:CN97113905.9

    申请日:1997-06-20

    IPC分类号: H02N13/00 H01L21/68

    摘要: 静电吸盘装置2,包括静电吸盘4、用于检测静电吸盘4的温度的温度检测单元10、与静电吸盘4相连且用于施加直流电压到静电吸盘4以使其具有吸引力的电源9,及根据温度检测单元10检测的静电吸盘的温度来控制电源9施加的直流电压值的控制器11。当温度检测单元10检测的静电吸盘4的温度比预设值高时,控制器11使电源9施加的电压值低于预设值;当静电吸盘4的温度比预设值低时,控制器使施加电压高于预设值,因此可将静电吸盘4的吸引力保持为与静电吸盘4的温度变化无关。