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公开(公告)号：CN101102094A
公开(公告)日：2008-01-09
申请号：CN200710005210.X
申请日：2007-02-07
CPC分类号： H03F1/3211 , H03F3/387 , H03F3/45475 , H03F3/45986 , H03F3/45995 , H03F2203/45138 , H03F2203/45212 , H03F2203/45614 , H03F2203/45616 , H03F2203/45681 , H03F2203/45726
摘要： 本发明提供了一种斩波放大器电路，其能够消除放大器的转换速率的影响，并抑制尖峰产生，从而获得具有很少谐波失真的输出信号。根据本发明的斩波放大器电路包括：第一斩波电路，通过相位彼此偏移半个周期的第一脉冲和第二脉冲将输入信号斩波，在斩波时切换一对输入端与一对输出端之间的连接关系，并将输入信号作为调制信号输出；放大器，用于将调制信号放大，并将所放大的调制信号作为放大信号输出；第一采样保持电路，其在第一脉冲下保持放大信号，在第二脉冲下输出该放大信号；以及第二采样保持电路，其在第二脉冲下保持放大信号，在第一脉冲下输出该放大信号。
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公开(公告)号：CN1929296A
公开(公告)日：2007-03-14
申请号：CN200610114838.9
申请日：2006-08-08
CPC分类号： H03F3/45775
摘要： 本发明提供了一种斩波放大器电路，其能够减小传感器桥的偏移电压以及该偏移电压的温度特性。提供了偏移调整电压发生电路，用于产生和传感器桥的偏移电压相等的电压，并提供了偏移温度特性调整电压发生电路，用于产生与该偏移电压具有相同温度特性的电压。这些输出电压被斩波调制，并从该传感器桥的斩波调制输出信号中减去这些输出电压。
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公开(公告)号：CN101102094B
公开(公告)日：2011-08-10
申请号：CN200710005210.X
申请日：2007-02-07
CPC分类号： H03F1/3211 , H03F3/387 , H03F3/45475 , H03F3/45986 , H03F3/45995 , H03F2203/45138 , H03F2203/45212 , H03F2203/45614 , H03F2203/45616 , H03F2203/45681 , H03F2203/45726
摘要： 本发明提供了一种斩波放大器电路，其能够消除放大器的转换速率的影响，并抑制尖峰产生，从而获得具有很少谐波失真的输出信号。根据本发明的斩波放大器电路包括：第一斩波电路，通过相位彼此偏移半个周期的第一脉冲和第二脉冲将输入信号斩波，在斩波时切换一对输入端与一对输出端之间的连接关系，并将输入信号作为调制信号输出；放大器，用于将调制信号放大，并将所放大的调制信号作为放大信号输出；第一采样保持电路，其在第一脉冲下保持放大信号，在第二脉冲下输出该放大信号；以及第二采样保持电路，其在第二脉冲下保持放大信号，在第一脉冲下输出该放大信号。
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公开(公告)号：CN1929296B
公开(公告)日：2010-08-18
申请号：CN200610114838.9
申请日：2006-08-08
CPC分类号： H03F3/45775
摘要： 本发明提供了一种斩波放大器电路，其能够减小传感器桥的偏移电压以及该偏移电压的温度特性。提供了偏移调整电压发生电路，用于产生和传感器桥的偏移电压相等的电压，并提供了偏移温度特性调整电压发生电路，用于产生与该偏移电压具有相同温度特性的电压。这些输出电压被斩波调制，并从该传感器桥的斩波调制输出信号中减去这些输出电压。
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公开(公告)号：CN105043571A
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201510198513.2
申请日：2015-04-24
申请人： 精工电子有限公司
IPC分类号： G01K7/01
CPC分类号： G01K7/01 , G01K3/005 , H01L27/0255
摘要： 本发明题为过热检测电路及半导体装置。本发明提供高温下也正确地检测半导体装置的温度而不会输出错误的检测结果的过热检测电路。该结构包括：作为感温元件的PN结元件；向PN结元件供给偏置电流的恒流电路；比较PN结元件产生的电压和基准电压的比较器；在高温下使泄漏电流在基准电压电路流动的第二PN结元件；以及在高温下使恒流电路的泄漏电流旁路的第三PN结元件。
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公开(公告)号：CN101867358B
公开(公告)日：2015-07-01
申请号：CN201010005301.5
申请日：2010-01-13
申请人： 精工电子有限公司
IPC分类号： H03K5/13
CPC分类号： H03K5/06 , H03K5/133 , H03K2005/0013 , H03K2005/00136
摘要： 本发明提供一种延迟电路，以使延迟时间不会依赖于电源电压，而使输入信号从低电平成为高电平时和从高电平成为低电平时的延迟时间相等。本发明的延迟电路的结构中包括：被输入输入信号的第一内部延迟电路；被输入反相输入信号的第二内部延迟电路；以及闩锁器，该闩锁器的置位端子与第一内部延迟电路的输出端子连接，且复位端子与第二内部延迟电路的输出端子连接，而输出端子与延迟电路的输出端子连接。
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公开(公告)号：CN102624371A
公开(公告)日：2012-08-01
申请号：CN201210015595.9
申请日：2012-01-18
申请人： 精工电子有限公司
IPC分类号： H03K17/687
CPC分类号： H03K17/20 , H02J7/0031 , H02J7/047 , H03K19/0013 , H03K19/00361 , H03K19/018521
摘要： 本发明提供输出电路、温度开关IC以及电池组。即使在电源电压小于工作电压的情况下，该输出电路的输出也不会不稳定，而且面积较小。作为解决手段，在反相器电路的电源端子处设置开关电路，当电源电压小于电路的工作电压时，开关电路停止反相器电路的工作。并且，在反相器电路的输出端子处设置电流源，当反相器电路的工作停止时，将输出固定为电源电压。
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公开(公告)号：CN102478627A
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201110375689.2
申请日：2011-11-23
申请人： 精工电子有限公司
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31701
摘要： 本发明提供一种端子数少的测试模式设定电路。该测试模式设定电路构成为：在控制半导体装置的测试模式的测试端子上，设置有低阈值电压的检测器和高阈值电压的检测器，通过低阈值电压的检测器来解除逻辑电路的复位，通过高阈值电压的检测器对测试模式进行切换控制。因此，测试端子、复位端子和测试模式控制端子是共用的，能够大幅减少端子数。
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