存储芯片SUBROM检测方法及检测器

    公开(公告)号:CN109741785A

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201910003136.0

    申请日:2019-01-02

    Abstract: 本发明提供了一种存储芯片SUBROM检测方法及检测器,涉及存储芯片检测技术领域。所述方法包括:接收到检测启动指令时,向SUBROM写入第一字符串;根据预设时间间隔,对所述SUBROM执行所述第一字符串的读操作,得到第二字符串;根据所述第一字符串和所述第二字符串确定检测结果;根据所述检测结果对应的输出引脚,输出所述检测结果。本发明通过比较对SUBROM写入和读取的字符串确定SUBROM的检测结果,并将检测结果输出使检测结果更加直观,实现了对SUBROM合格性的快速准确检测,可以应用于生产线对SUBROM的批量检测,提高了检测效率。

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