检测系统与方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102165305B

    公开(公告)日:2014-08-20

    申请号:CN200980137641.9

    申请日:2009-09-21

    CPC classification number: G01N21/6428 G01N21/648

    Abstract: 一种检测系统将激发辐射源(18)、检测器(22)以及磁体装置(24)结合,所述激发辐射源提供激发辐射(10)到具有检测表面的基底(16)内的试样(14)的分析区域,所述检测器用于检测从包括试样检测表面的分析区域采集的并由激发所产生的辐射,所述磁体装置在试样分析区域下方并且相对于激发辐射源和光耦合装置是静止的,用于将试样中的磁性珠粒(15)吸引到基底的表面。所述检测辐射由基底的检测表面采集,以赋予增强的表面特异性。本发明将表面检测的优点与用于将靶标带到表面的简单低成本磁性系统结合。

    检测系统与方法
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102165305A

    公开(公告)日:2011-08-24

    申请号:CN200980137641.9

    申请日:2009-09-21

    CPC classification number: G01N21/6428 G01N21/648

    Abstract: 一种检测系统将激发辐射源(18)、检测器(22)以及磁体装置(24)结合,所述激发辐射源提供激发辐射(10)到具有检测表面的基底(16)内的试样(14)的分析区域,所述检测器用于检测从包括试样检测表面的分析区域采集的并由激发所产生的辐射,所述磁体装置在试样分析区域下方并且相对于激发辐射源和光耦合装置是静止的,用于将试样中的磁性珠粒(15)吸引到基底的表面。所述检测辐射由基底的检测表面采集,以赋予增强的表面特异性。本发明将表面检测的优点与用于将靶标带到表面的简单低成本磁性系统结合。

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