用于探测目标物质的感测装置

    公开(公告)号:CN102317758B

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201080008124.4

    申请日:2010-02-08

    Abstract: 本发明涉及一种用于探测研究区域(113)中的目标物质(2)的感测装置(100)。所述感测装置(100)包括:感测表面(112),其上具有研究区域(113)和参考区域(120)。所述感测装置(100)还包括位于所述参考区域(120)的参考元件(121)。所述参考元件(121)被配置为将所述参考区域(120)从所述目标物质(2)遮蔽,使得在全内反射条件下在所述参考区域(120)反射的光保持不受到所述目标物质(2)的存在或不存在的影响。这容许独立于目标物质(2)的存在或不存在,对在参考区域(120)反射的光的性质,典型地为强度,进行测量。反射的光的此测得的性质能够用于执行对在研究区域(113)反射的光的改善的校正。

    用于探测目标物质的感测装置

    公开(公告)号:CN102317758A

    公开(公告)日:2012-01-11

    申请号:CN201080008124.4

    申请日:2010-02-08

    Abstract: 本发明涉及一种用于探测研究区域(113)中的目标物质(2)的感测装置(100)。所述感测装置(100)包括:感测表面(112),其上具有研究区域(113)和参考区域(120)。所述感测装置(100)还包括位于所述参考区域(120)的参考元件(121)。所述参考元件(121)被配置为将所述参考区域(120)从所述目标物质(2)遮蔽,使得在全内反射条件下在所述参考区域(120)反射的光保持不受到所述目标物质(2)的存在或不存在的影响。这容许独立于目标物质(2)的存在或不存在,对在参考区域(120)反射的光的性质,典型地为强度,进行测量。反射的光的此测得的性质能够用于执行对在研究区域(113)反射的光的改善的校正。

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