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公开(公告)号:CN118604585B
公开(公告)日:2024-10-25
申请号:CN202411080087.8
申请日:2024-08-07
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于电数字数据处理领域,提供一种基于ALU的行为传感器,为用于SoC芯片老化预测的人工智能模型提供更加准确的行为数据。本发明包括:压力产生模块、ALU组、状态控制机、采样计数模块与存储器,ALU组包括若干条ALU组合逻辑链,每条ALU组合逻辑链在压力模式下配置成为压力传感器、在测试模式下配置成为环形振荡器,用以模拟被测电路的行为状态;压力产生模块为压力传感器提供压力输入,采样计数模块对环形振荡器的振动频率信息进行采样,并储存在存储器中;状态控制机用于控制ALU组与采样计数模块。本发明以ALU为主体搭建环形振荡器,能够更准确的描述被测电路的行为,且具有侵入性低、监测能力较强的优点。
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公开(公告)号:CN118604585A
公开(公告)日:2024-09-06
申请号:CN202411080087.8
申请日:2024-08-07
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明属于电数字数据处理领域,提供一种基于ALU的行为传感器,为用于SoC芯片老化预测的人工智能模型提供更加准确的行为数据。本发明包括:压力产生模块、ALU组、状态控制机、采样计数模块与存储器,ALU组包括若干条ALU组合逻辑链,每条ALU组合逻辑链在压力模式下配置成为压力传感器、在测试模式下配置成为环形振荡器,用以模拟被测电路的行为状态;压力产生模块为压力传感器提供压力输入,采样计数模块对环形振荡器的振动频率信息进行采样,并储存在存储器中;状态控制机用于控制ALU组与采样计数模块。本发明以ALU为主体搭建环形振荡器,能够更准确的描述被测电路的行为,且具有侵入性低、监测能力较强的优点。
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