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公开(公告)号：CN115954038A
公开(公告)日：2023-04-11
申请号：CN202211660776.7
申请日：2022-12-23
Applicant: 电子科技大学 , 电子科技大学(深圳)高等研究院
Abstract: 本发明公开了一种存储器测试March类算法的生成方法，首先构建的访存操作状态转换描述符，然后确定故障原语对应的最简检测序列并构建最简检测序列表，最后使用最简检测序列合成与故障类型适配的March类算法：列出故障，找到最简检测序列，分组、组内合并、组间合并、拼接获得March类算法、获得相反地址增加方向March类算法，最后将两部分March类算法拼接在一起，得到最后的March类算法，这样得到给定故障字典的合适的March类算法，让March算法的使用更加灵活。
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公开(公告)号：CN115938454A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202211665139.9
申请日：2022-12-23
Applicant: 电子科技大学 , 电子科技大学(深圳)高等研究院
Abstract: 本发明公开了一种用于存储器测试March类算法的优化方法，首先构建的访存操作状态转换描述符，然后确定March类算法中March元素的访存操作状态转换描述符以及确定故障原语对应的最简检测序列并构建最简检测序列表，然后基于访存操作状态转换描述符，确定每个March元素可以检测的故障类型，得到故障检测表，根据故障检测表删除不影响检测故障类型的访问操作，这样通过分析March类算法能检测的故障，对March类算法进行优化，减少测试过程中的访问操作，进一步降低了测试时间。
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公开(公告)号：CN119958706A
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202510166751.9
申请日：2025-02-14
Applicant: 电子科技大学(深圳)高等研究院
Abstract: 本发明公开了一种高频单光子倾斜波前探测方法及装置，包括以下步骤：利用波前调制技术，对入射光波前进行高速编码和调制；单光子信号采集，利用单光子探测器对经过光学系统聚焦后的单光子信号进行采集，探测器将接收到的光子信号转换为电信号进行输出；单光子信号处理，单光子信号波前重建，根据提取出的波前倾斜信息，利用波前重建算法对波前进行重建；数据校正；数据结果分析。本发明利用波前调制技术对入射光波前进行高速编码和调制，可以提高光学系统的性能，增强系统灵活性，波前调制技术允许对光波的振幅、相位、偏振态和波矢方向参量进行独立或同时调控，这极大地增强了光学系统的灵活性和功能性，并能够优化成像质量。
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公开(公告)号：CN118468918A
公开(公告)日：2024-08-09
申请号：CN202410537929.1
申请日：2024-04-30
Applicant: 电子科技大学(深圳)高等研究院
Abstract: 本发明公开了一种高分辨率计时触发方法，属于信息技术领域，包括以下步骤：S1、FPGA通过锁相环生成四路不同相位时钟，S2、构建四个时钟下的独立计数器，S3、四个独立计数器数值求和，S4、如果等效计数值等于用户设定值，则触发信号输出，S5、如果等效计数值不等于用户设定值，则循环步骤三。该高分辨率计时触发方法，在其他逻辑占用大量资源的情况下，FPGA内部的运行时钟频率很难达到700MHz，利用本发明，可以实现多相时钟计数的高分辨率计数器，时间内，计数值相较于单个单相时钟计数器增加了四倍，也即等效于计数频率增加了四倍。
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公开(公告)号：CN113740345A
公开(公告)日：2021-12-03
申请号：CN202110996836.1
申请日：2021-08-27
Applicant: 电子科技大学(深圳)高等研究院
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种高速采样速率下的毛刺检测方法，包括以下步骤：S1：采集待识别数据；S2：对待识别数据进行处理得到正常采样数据；S3：对待识别数据进行毛刺识别获得正常采样数据的毛刺位置。本发明还公开了实现一种高速采样速率下的毛刺检测方法的一种高速采样速率下的毛刺检测系统，包括采集单元以及毛刺识别单元，所述采集单元采集待识别数据并对待识别数据进行处理得到正常采样数据；所述毛刺识别单元对待识别数据进行毛刺识别获得正常采样数据的毛刺位置。本发明可实现高速采样速率下准确的毛刺检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110196613B
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN201910451098.5
申请日：2019-05-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种用于集成电路测试系统中DUT的供电电源装置，PC上位机根据集成电路测试系统的需要设置系统的预置输出值，并发送给控制器MCU，控制器MCU根据系统的预置输出值控制斩波电路为功率放大器输出相应的电压值，从而控制集成电路测试系统运行；当控制集成电路测试系统运行时，电压/电流采样电路采集电压、电流值，并反馈给控制器MCU，控制器MCU通过内置的反馈控制算法对预置输出值和采样值的偏差值进行处理，进而通过偏差值控制BUCK/BOOST斩波电路的输出电压，从而实现对输出电源精度的控制调节，降低功率放大器的功率耗散，提高功率放大器负载驱动能力。
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公开(公告)号：CN109581062B
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN201811581424.6
申请日：2018-12-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明公开了一种用于示波器校准仪探头的高精度阻抗测量系统，首先采用检波器得到标准电阻器两端信号的检波值，并由ADC模块采集得到对应的有效值，然后由比较器将标准电阻器两端信号进行过零比较转换为方波，然后经过两个延时模块再输入FPGA，通过调整延时令将两个信号同步输入FPGA，从而测量得到相位差时间，进而计算得到待测探头的阻抗。本发明利用延时不改变输出信号波形特征的特点实现高精度相位测量，可以有效地提高测试相位差时间的分辨率，从而提高探头阻抗测量的精度。
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公开(公告)号：CN109633508B
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN201811581423.1
申请日：2018-12-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R35/00 , G01R31/319
Abstract: 本发明公开了一种数字集成电路测试系统中采集通道同步性检测方法，根据需要选择一个通道作为基准通道，其余作为待检测通道，将数字集成电路测试系统的工作时钟降频后作为校准信号，将校准信号进行延时后发送到基准通道和待检测通道，且延时按照预设调整步长增加，将工作时钟进行倍频作为采样时钟，对基准通道和第n个待检测通道的采集信号进行采样，根据延时增加过程中基准通道和待检测通道所得到的采样信号进行判断，从而确定待检测通道相对于基准通道的延时。本发明能够检测小于采样周期的通道延时，测量精度由延时精度决定，可以大大降低对采样时钟频率的要求，降低整个方法的实现复杂度。
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公开(公告)号：CN109194305A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201810949272.4
申请日：2018-08-20
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03H17/02
Abstract: 本发明公开了一种基于密度估计的数字化仪均值滤波方法，首先数字化仪进行过采样，对得到的数据样本序列进行分组得到若干子样本，然后依次将子样本添加至密度估计样本中，利用密度估计和贝叶斯信息融合方法得到数据样本序列的概率密度函数，计算得到数据样本序列的标准不确定度；按照过采样倍数对数据样本序列重新进行分组，根据标准不确定度得到重新分组后各个子样本的置信区间，进行粗大误差剔除，然后对得到的样本进行平均抽取，得到最终样本。本发明通过对采样得到的数据样本序列分组进行密度估计，基于密度估计结果设置置信区间进行粗大误差剔除，使均值滤波结果更加准确。
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公开(公告)号：CN103957009B
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201410177383.X
申请日：2014-04-29
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明提供了一种对压缩采样系统低通滤波器进行补偿的方法，通过输入一个已知的被测信号x(t)，得到实际低通滤波器压缩采样系统的采样值误差为ye，然后对非理想低通滤波器FIR系数误差e进行估计并得到非理想低通滤波器FIR系数 再在此基础上估计出校正滤波器的FIR系数hd，使校正后的非理想低通滤波器变为理想低通滤波器；同时，提高压缩采样系统的采样频率，其过采样系数为R，然后对各个通道的采样值进行抽样，抽样以后的采样值采用补偿滤波器进行滤波，以保证抽样后滤波得到的采样值与采用理想低通滤波器得到的采样值相等，这样解决了压缩采样系统中非理想低通滤波器带来的重构被测信号序列x*[n]存在较大的误差问题。
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