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公开(公告)号：CN117151007A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202310693850.3
申请日：2023-06-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/373 , G06F30/367
Abstract: 本发明公开了一种基于帕累托支配与欧式距离的多目标测试优选方法，根据需要确定模拟电路中若干个测试优选的优化目标，将测试方案作为遗传算法中的个体，采用遗传算法迭代搜索最优个体，在迭代过程中基于帕累托支配与欧式距离筛选出较优个体，最终得到的种群中每个个体即为一个测试优选方案。本发明基于帕累托最优和欧式距离，对遗传算法迭代过程中个体进行优选，获得满足多个目标的多种模拟电路测试优选方案，更好地适应实际应用需要。
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公开(公告)号：CN117764028A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202410045484.5
申请日：2024-01-11
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种基于信号流与图分析的集成电路分块仿真方法，将集成电路中的节点电压和器件电流作为图的顶点，节点电压和器件电流之间的依赖关系作为边，构建集成电路有向图，将集成电路有向图划分为若干强连通块，每个强连通块中各个顶点之间均存在双向路径，然后将顶点数量大于阈值的强连通块基于循环单向边进一步划分，最后根据划分得到的强连通块进行缺陷分块仿真。本发明将集成电路的器件电流与电压节点之间的控制关系用有向图进行建模，再将有向图划分为多个具有弱连通关系的强连通块，实现缺陷的分块仿真，从而提高仿真效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115469261B
公开(公告)日：2024-09-24
申请号：CN202211019237.5
申请日：2022-08-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R35/04 , G01R31/303 , G01R31/28 , G01R31/3167
Abstract: 本发明公开了一种智能电表集成电路的串并联等效故障压缩方法，构建集成电路的网表文件，根据网表文件构建器件与网络节点的关系模型，得到器件‑节点矩阵，根据器件‑节点矩阵进行串联器件识别，根据得到的串联组构建串联器件矩阵和串联数量矩阵，再基于这两个矩阵进行串联关系合并，得到最终的串联器件集合；根据器件‑节点矩阵进行并联器件识别，得到并联器件集合，最后基于串联器件集合和并联器件集合进行等效故障压缩。本发明对集成电路中全部器件的串、并联关系进行识别，进而实现等效故障压缩，从而减少故障注入的次数，缩短故障诊断时间。
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公开(公告)号：CN115469261A
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202211019237.5
申请日：2022-08-24
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R35/04 , G01R31/303 , G01R31/28 , G01R31/3167
Abstract: 本发明公开了一种智能电表集成电路的串并联等效故障压缩方法，构建集成电路的网表文件，根据网表文件构建器件与网络节点的关系模型，得到器件‑节点矩阵，根据器件‑节点矩阵进行串联器件识别，根据得到的串联组构建串联器件矩阵和串联数量矩阵，再基于这两个矩阵进行串联关系合并，得到最终的串联器件集合；根据器件‑节点矩阵进行并联器件识别，得到并联器件集合，最后基于串联器件集合和并联器件集合进行等效故障压缩。本发明对集成电路中全部器件的串、并联关系进行识别，进而实现等效故障压缩，从而减少故障注入的次数，缩短故障诊断时间。
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公开(公告)号：CN117422034A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311510032.1
申请日：2023-11-13
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于粒子群算法的模拟电路激励电压向量优选方法，首先在模拟电路中确定测点、缺陷和电压源，将当前缺陷列表defect_list注入至模拟电路对应的spice网表中，将激励电压向量作为粒子群中的粒子位置，基于粒子群算法确定最优激励电压向量，并将其所能检测的缺陷从缺陷列表defect_list中删除，然后再次执行粒子群算法，直到缺陷列表defect_list为空或保持不变，则将当前得到的所有最优激励电压向量构成最优激励电压向量集，用于模拟电路测试。本发明利用粒子群算法实现了激励电压向量的优选，从而以尽可能少的测试向量实现尽可能高的故障覆盖率，提高故障诊断的精度和效率。
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公开(公告)号：CN116306444A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310287879.1
申请日：2023-03-22
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/367 , G06F30/27 , G06N3/126
Abstract: 本发明公开了一种基于Hspice瞬态仿真的的测点优选方法，向集成电路注入缺陷，采用Hspice瞬态仿真生成瞬态仿真文件，从每个瞬态仿真文件中提取对应运行状态的数据矩阵，根据每个数据矩阵得到其中每个测点的电压数据曲线，根据缺陷电压数据曲线和正常运行状态下的电压数据曲线之间的面积判断测点是否可以检测缺陷，从而得到缺陷‑测点矩阵，再基于遗传算法来进行测点优选，得到最优测点组合。本发明可以有效得到最优测点组合，进而提高集成电路的缺陷检测效率。
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公开(公告)号：CN116306313A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310392583.6
申请日：2023-04-12
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/27 , G06F30/367 , G01R31/316
Abstract: 本发明公开了一种基于网络中心性的模拟/混合信号电路测点集压缩方法，从模拟/混合信号电路的网表文件中提取得到元器件字典集和节点字典集，根据元器件字典集和节点字典集提取出节点之间的连接关系和电流方向关系建立节点的有向网络图，计算每个测点的中心性指标，基于加权Borda数法对测点进行综合排序后，从测点序列中筛选排序靠前的测点作为备选测点，再基于关键度对备选测点进行进一步优先得到最终的测点集合。本发明结合测点的中心性和对缺陷的敏感度进行测点筛选，使筛选得到测点集合更加准确有效。
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