-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119598939A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411725972.7
申请日：2024-11-28
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/38
Abstract: 本发明公开了一种数模混合电路中数字通路识别敏化方法，首先建立数模混合电路的有向依赖图，将电路中所有电源划分为数字电源和模拟电源，令数字电源的电压值为高或低，模拟电源的电压值为默认值，得到所有电源取值模式，分别在每个电源取值模式下基于广度优先搜索进行数字通路识别敏化，得到识别敏化结果，在此过程中仅考虑具有数字特性的电路元件，直至完成所有数字通路上的节点电压高低状态更新及MOS管状态判断。本发明基于广度优先搜索策略，针对性地对数模混合电路中的晶体管级数字通路进行识别敏化，从而得到准确的数字通路识别敏化结果。
-
公开(公告)号：CN117422034A
公开(公告)日：2024-01-19
申请号：CN202311510032.1
申请日：2023-11-13
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于粒子群算法的模拟电路激励电压向量优选方法，首先在模拟电路中确定测点、缺陷和电压源，将当前缺陷列表defect_list注入至模拟电路对应的spice网表中，将激励电压向量作为粒子群中的粒子位置，基于粒子群算法确定最优激励电压向量，并将其所能检测的缺陷从缺陷列表defect_list中删除，然后再次执行粒子群算法，直到缺陷列表defect_list为空或保持不变，则将当前得到的所有最优激励电压向量构成最优激励电压向量集，用于模拟电路测试。本发明利用粒子群算法实现了激励电压向量的优选，从而以尽可能少的测试向量实现尽可能高的故障覆盖率，提高故障诊断的精度和效率。
-
公开(公告)号：CN119716505A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411900621.5
申请日：2024-12-23
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01R31/316 , G06F30/367 , G06N5/01
Abstract: 本发明公开了一种基于启发式贪心算法的模拟电路测试激励生成方法，对待测模拟电路进行缺陷建模得到缺陷仿真模拟电路，然后根据待测模拟电路的激励源设置搜索空间，将搜索空间等分得到若干个子搜索空间，取各子搜索空间的几何中心所在搜索点为初始点，根据每个初始点的可检测缺陷数量确定搜索起点，然后基于启发式贪心算法从搜索起点开始搜索测试激励，从而得到模拟电路所需的测试激励集。采用本发明可以有效提高模拟电路测试激励的生成效率。
-
公开(公告)号：CN119598938A
公开(公告)日：2025-03-11
申请号：CN202411725971.2
申请日：2024-11-28
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/38
Abstract: 本发明公开了一种基于激励控制的数模混合电路分割方法，对数模混合电路进行建模得到有向依赖图，将数模混合电路中的所有电源划分为数字电源和模拟电源，得到不同电源取值模式，对每个电源取值模式下进行数字通路识别敏化得到受控受阻MOS集合，对于每个电源取值模式在有向依赖图中断开受控受阻MOS集合中所有MOS栅极边所代表的单向边，得到对应有向依赖图，识别极大强连通块作为电路块，从而得到各个电源取值模式下的电路分割结果。本发明基于有向依赖图和信号流分析，得到受控受阻MOS集，据此对数模混合电路进行分割，以便电路缺陷仿真。
-
公开(公告)号：CN117764028A
公开(公告)日：2024-03-26
申请号：CN202410045484.5
申请日：2024-01-11
Applicant: 电子科技大学
IPC: G06F30/398
Abstract: 本发明公开了一种基于信号流与图分析的集成电路分块仿真方法，将集成电路中的节点电压和器件电流作为图的顶点，节点电压和器件电流之间的依赖关系作为边，构建集成电路有向图，将集成电路有向图划分为若干强连通块，每个强连通块中各个顶点之间均存在双向路径，然后将顶点数量大于阈值的强连通块基于循环单向边进一步划分，最后根据划分得到的强连通块进行缺陷分块仿真。本发明将集成电路的器件电流与电压节点之间的控制关系用有向图进行建模，再将有向图划分为多个具有弱连通关系的强连通块，实现缺陷的分块仿真，从而提高仿真效率。
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.017 seconds)
